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研究生:何文傑
研究生(外文):wun jie
論文名稱:Ca-Cu-Si中具有AlB2-type晶體結構之超導體研究
論文名稱(外文):Superconductivity in Ca-Cu-Si with AlB2-type structure
指導教授:李文新
學位類別:碩士
校院名稱:國立中正大學
系所名稱:物理所
學門:自然科學學門
學類:物理學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2005
畢業學年度:93
語文別:中文
論文頁數:60
中文關鍵詞:超導體AlB2- 型CaCuxSi2-x
外文關鍵詞:superconductorAlB2-typeCaCuxSi2-x
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摘 要
在合成三元Ca-Cu-Si化合物過程中,我們發現某些成份可形成超導體,其晶體結構為AlB2-型,比如說,如起始材料成份為CaCu0.25Si1.75,CaCu0.33Si1.67和CaCu0.25Si1.70,粉末x-ray繞射圖顯示這些樣品內之晶體結構主要為AlB2-型,另外約有少量之雜質為Si。利用磁化率和電阻率之測量,發現這些材料均具有超導的性質。再經由x-ray粉末繞射法量測所得的x-ray圖,可看出其他那些微部份雜質為Si。由於Si雜質屬於半導體,並不影響超導材料性質之測量,因此這些超導現象的來源應是Ca-Cu-Si材料內具有AlB2-型晶體結構之成份。改變各種不同成份和燒結溫度及時間,我們發現其中最好的超導樣品,其起始材料成份為CaCu0.25Si1.70,燒結溫度1000℃,3天,可得到超導臨界溫度Tc~3.2 K,另外在CaCuXSi2-X一系列樣品中,我們發現當X≧0.4時,雖其晶體結構圖可保有AlB2-型,但在1.8k以上並沒有發現有超導現象。
We report the discovery of superconducting materials in Ca-Cu-Si with AlB2 -type structure. The results of magnetic susceptibility and electrical resistivity measurements on two phase Ca-Cu-Si samples with nominal compositions CaCu0.25Si1.75, CaCu0.33Si1.67 and CaCu0.25Si1.70 provide evidence for bulk superconductivity in a hexagonal AlB2-type majority fraction of the sample volume. Power x-ray diffraction patterns indicate that the minor impurity phase is the element Si which has no effect on the superconductivity. CaCuxSi2-x samples with excess Cu component (x ≧ 0.4) showed no evidence of superconductivity for T ≧1.8 K . Under the annealing conditions required for the fabrication of the AlB2-type superconductor, the best sample with the nominal composition CaCu0.25Si1.70 annealed for three days at 1000℃ exhibits the transition temperature TC~3.2 K, as determined by magnetic susceptibility and electrical resistivity measurement techniques.
目錄
目錄………………………………………………………………………Ⅰ
圖表目錄…………………………………………………………………Ⅱ
摘 要……………………………………………………………………Ⅵ
第1章: 簡介……………………………………………………………1
第2章: 研究歷程………………………………………………………4
第3章: 樣品製備………………………………………………………6
第4章: 量測儀器與相關理論…………………………………………8
4-1 X-Ray晶格結構量測………………………………………………8
4-2 磁性量測……………………………………………………………9
4-3 電阻率量測…………………………………………………………14
第5章: Ca-Cu-Si的研究分析與結果…………………………………15
5-1 X-Ray繞射晶體結構分析…………………………………………15
5-2 磁性量測分析………………………………………………………29
5-3 電阻率量測分析……………………………………………………42
5-4 M-H curve分析……………………………………………………51
第6章: 結論……………………………………………………………52
參考文獻…………………………………………………………………53
參考文獻
REFERENCES
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