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研究生:方勇盛
研究生(外文):Yung-Sheng Fang
論文名稱:以失效模式與效應分析為基的製程問題分析模式-以奈米碳管背光模組為例
論文名稱(外文):An FMEA-Based Manufacturing Process Problem Analysis Model-Taking Carbon Nano-tube Back Light Unit for Example
指導教授:蔡禎騰蔡禎騰引用關係邱創鈞邱創鈞引用關係
指導教授(外文):Jenteng TsaiChuang-Chun Chiou
學位類別:碩士
校院名稱:東海大學
系所名稱:工業工程與經營資訊學系
學門:工程學門
學類:工業工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2006
畢業學年度:94
語文別:中文
論文頁數:99
中文關鍵詞:奈米碳管背光模組失效模式與效應分析故障樹特性要因圖模糊德菲法模糊推論
外文關鍵詞:CNT-BLU、FMEA、FTA、Cause and Effect Diagram 、Fuzzy Delphi、Fuzzy Inference
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目前在政府重點投資的顯示器產業中,背光模組產業為最重要之下游產業。而奈米碳管背光模組更為取代現行背光模組中最具潛力的背光源選擇。但是截至目前為止,奈米碳管背光模組仍處於研發改善階段,因此會面臨到工程師在面對製程問題時只依照自身經驗判斷要因的問題,進而喪失寶貴的研發時間與成本。因此本研究以失效模式與效應分析理論為基本流程,結合故障樹分析、特性要因圖、模糊德菲法、模糊推論的觀念與分析手法,以奈米碳管背光模組為例,建構一個製程問題分析模式。
本研究導入奈米碳管背光模組廠商提供之製程問題案例以進行本模式之推演驗證。結果發現經本模式得到之成果與廠商提供之主觀意見相差無幾,因此可說明本研究模式之合理性,也代表本模式可提供相關人員在奈米碳管背光模組製程問題分析上之參考。
Among the display industry, one of the major investment targets of Taiwanese government at the present, the back light unit manufacturing is the most important downstream sector. Carbon Nano-tube Back Light Unit (CNT-BLU) is a highly potential product which can be used as the back light source in place of the current back light unit for display product. Until now, the development of CNT-BLU is still in the research and development stage. Therefore, the production of CNT-BLU encounters various process problems that are detected by engineers based on their experience. The processes of determining the causes of the manufacturing process problems usually take considerable time and cost in the R&D stage. This study constructs a CNT-BLU manufacturing process problem analysis model on the basis of failure mode and effect analysis (FMEA) which integrates the techniques of the fault tree analysis (FTA), cause and effect diagram, fuzzy Delphi and fuzzy inference.
This study extensively reviews the literature related to the current problems of manufacturing process and showed the validity of the proposed model. After conducting a real-world case comparison, we find that the differences between the analytic result and the actual result are insignificant. From the results of this study, the capability of conducting process problem analysis of this model has been justified. The model also provides a useful tool for those who are interested in the analysis of CNT-BLU manufacturing process problems.
目錄
摘要 i
Abstract ii
誌謝 iii
目錄 iv
圖目錄 vi
表目錄 vii
第一章 緒論 1
1.1研究背景與動機 1
1.2研究目的 2
1.3研究範圍與限制 2
1.4研究方法 3
1.5 研究步驟 4
1.6論文架構 4
第二章 文獻探討 6
2.1 奈米碳管背光模組 6
2.1.1 奈米碳管背光模組結構 6
2.1.2 現行背光源比較 7
2.1.3 奈米碳管背光模組製程 9
2.2 失效模式與效應分析 11
2.2.1 FMEA基本觀念 11
2.2.2 FMEA歷史演進 12
2.2.3 FMEA實行步驟及流程 14
2.2.4 失效風險評價與決策 18
2.2.5 FMEA優缺點 21
2.2.6 FMEA相關文獻整理 22
2.3 故障樹分析 26
2.3.1 故障樹分析概要 26
2.3.2 故障樹分析常用符號說明 27
2.3.3 文獻整理與探討 28
2.4 模糊相關理論 29
2.4.1 模糊德菲法 29
2.4.2 模糊推論 31
2.5 本章結語 34
第三章 構建製程問題分析模式 35
3.1 奈米碳管背光模組陰極板製程及其特性 35
3.1.1陰極板功能及原理 35
3.1.2陰極板製程 36
3.1.3製程特性 40
3.2奈米碳管背光模組陰極板製程問題分析模式 42
第四章 案例驗證 62
4.1 網印奈米碳管漿料製程問題 62
4.1.1 網印對位性不佳問題分析 62
4.1.2 結果說明 75
4.2 活化製程問題 76
4.2.1 陰極線剝落問題分析 76
4.2.2 結果說明 88
4.3 傳統RPN與本模式之比較 88
4.4 小結 89
第五章 結論與建議 90
5.1 結論 90
5.2 未來研究方向與建議 90
參考文獻 92
附錄 98

圖目錄
圖 1.1論文架構圖 5
圖 3.1奈米碳管背光模組發光原理 36
圖 3.2陰極板製程圖 36
圖 3.3奈米碳管背光模組陰極板製程問題分析模式 42
圖 3.4問題分類碼編碼方式 45
圖 3.5故障樹分析圖 50
圖 3.6特性要因圖 52
圖 3.7嚴重度歸屬函數圖 56
圖 3.8發生度歸屬函數圖 57
圖 3.9難檢度歸屬函數圖 57
圖 3.10原因一之嚴重度歸屬函數圖 58
圖 3.11規則庫輸出結果之歸屬函數圖 59
圖 4.1網印問題故障樹 64
圖 4.2網印問題特性要因圖 64
圖 4.3活化問題故障樹 78
圖 4.4陰極線剝落特性要因圖 80

表目錄
表 2.1 現行背光模組優缺點比較 8
表 2.2 各式背光源技術在關鍵指標上之比較 9
表 2.3 歷史演進表 13
表 2.4 失效模式與效應分析表 17
表 2.5 嚴重度評分表 19
表 2. 6發生度評分表 20
表 2.7 難檢度評分表 20
表 2.8 FMEA文獻整理表 22
表 2.9 故障樹分析常用記號說明表 27
表 2.10故障樹文獻整理 28
表 3.1陰極板製程問題說明表 44
表 3.2問題分類碼代號說明 46
表 3.3製程代號說明表 46
表 3.4設備代號說明表 46
表 3.5地區代號說明表 47
表 3.6陰極板製程分級展開表 48
表 3.7陰極板製程失效模式與效應分析表 51
表 3.8嚴重度評分表 53
表 3.9發生度評分表 54
表 3.10難檢度評分表 54
表 3.11規則庫五種結論等級最大值表 60
表 4.1陰極板網印製程問題分析表 63
表 4.2網印問題FMEA分析表 65
表 4.3網印對位性不佳之嚴重度、發生度、難檢度評分表 66
表 4.4每一原因嚴重度、發生度、難檢度之最小值、最大值、幾何平均數 67
表 4.5網印問題嚴重度、發生度、難檢度之單一值 68
表 4.6網印問題各原因之語意等級及歸屬函數值 69
表 4.7各原因之各種推論結果 70
表 4.8各原因之”Min-Max”值 71
表 4.9各原因之模糊權重風險值 73
表 4.10網印對位性不佳原因排序 75
表 4.11陰極板活化製程問題分析表 77
表 4.12活化問題FMEA分析表 79
表 4.13網印對位性不佳之嚴重度、發生度、難檢度評分表 80
表 4.14活化問題各原因之最小值、最大值、幾何平均數 82
表 4.15活化問題嚴重度、發生度、難檢度之單一值 83
表 4.16活化問題各原因之語意等級及歸屬函數值 83
表 4.17各原因之各種推論結果 84
表 4.18各原因之”Min-Max”值 85
表 4.19各原因之模糊權重風險值 86
表 4.20陰極線剝落原因排序 87
表 4.21與傳統RPN法之比較表 89
中文文獻:
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