1. 葉春陽,”半導體廠製程設備移機安全管理程序建構”,中華大學管理科學研究所碩士論文,2002,pp.32~33. 1.2. 王世煌,2001,“半導體製程風險評估”,中國化學工程學會會刊,第48卷第5期,P103-122。
3. 李豐良、黃冠霖,2006,“高科技產業前端原料供應風險探討”,風險管理與決策研究學術研討會,開南大學,台灣桃園,P52。
4. 吳士珍、陳俊瑜,2001,“危害與可操作性分析(HAZOP)在化工業之應用”,中國化學工程學會會刊,第48卷第4期,P90-99。5. 黃棋海,2003,“半導體製程機台裝機安全管理之研究”,國立成功大學工學院工程管理專班,碩士論文。6. 楊昌裔,2000,“系統安全設計與危害分析”,大揚出版社,台北。
7. 林子郁、周恆生、許馨云、陳秀慧,「案例研究— 運用FMEA 與品管改善手法進行製造執行系統正確性之改善」,中華民國品質學會第38屆年會暨第8屆全國品質管理研討會(2002)。
8. 林永芬,「半導體廠及光電廠化學品供應系統安全基準」,勞工安全衛生簡訊第36期(1999)。9. 吳貴彬、陳相如,「失效模式與效應分析之應用」,中華民國品質學會第39屆年會暨第9屆全國品質管理研討會(2003)。
10.于樹偉、周更生,2001,“化學工業安全概論”,新科技書局,台北。
11.黃清賢,「危害分析與風險評估」,三民書局,台北(2000)。
12.張添盛、莊寶鵰、盧俊成,「油漆桶生產線失效模式與效應分析」,機械工業雜誌,第249期,P197-205(2003)。13.“Instruction Manual of Chemical Dispense Unit with Particle Counter”, BOC EDWARDS.
14.Roland, H.E. & Moriarty, B. (1990), “System Safety Engineering and Management”2nd, John Wiley & Sons, Inc.
15.Semiconductor Equipment and Materials International,”SEMI S10-96、Safety Guideline for Risk Assessment”,1996
16.Semiconductor Equipment and Materials International, “SEMI-0200, Safety Guidelines for Semiconductor Manufacturing Equipment”,2000.