|
[1] S. R. Forrest, Chem. Rev. (Washington, D.C.), 97, 1793 (1997). [2] F. Li, H. Tang, J. Shinar, O. Resto, and S. Z. Weisz, Appl. Phys. Lett., 70, 2741 (1997). [3] C. C. Wu, C. I. Wu, J. C. Sturm, and A. Kahn, Appl. Phys. Lett., 70,1348 (1997). [4] I. M. Chan, W. C. Cheng, and F. C. Hong, Appl. Phys. Lett., 80, 13 (2002). [5] S. F. J. Appleyard and M. R. Willis, Opt. Mater. (Amsterdam, Neth.), 9, 120 (1998). [6] H. Y. Yu, X. D. Feng, D. Grozea, Z. H. Lu, R. N. S. Sodhi, A.-M. Hor, and H. Aziz, Appl. Phys. Lett., 78, 2595 (2001). [7] S. T. Lee, Z. Q. Gao, and L. S. Hung, Appl. Phys. Lett., 75, 1404 (1999). [8] A. R. Schlatmann, D. Wilms Floet, A. Hilberer, F. Garten, P. J. M. Smulders, T. M.Klapwijk, and G. Hadziioannou, Appl. Phys. Lett., 69, 1764 (1996). [9] H. Vestweber and W. Rieß, Synth. Met., 91, 181 (1997). [10] J. Szuber and L. Grzadziel, Thin Solid Films, 391, 282 (2001). [11] W.-L. Yu, Y. Cao, J. Pei, W. Huang, and A. J. Heeger, Appl. Phys. Lett., 75, 3270 (1999). [12] S. M. Tadayyon, H. M. Grandin, K. Griffiths, P. R. Norton, H. Aziz, and Z. D.Popovic, Org. Electron., 5, 157 (2004). [13] J. C. Scott, J. H. Kaufman, P. J. Brock, R. DiPertro, J. Salem, and J. A. Gotia, J. Appl. Phys., 79, 2745 (1996). [14] H. Aziz, Z. D. Popovic, N.-X. Hu, A.-M. Hor, and G. Xu, Science, 283, 1900 (1999). [15] T. L. Anderson, G. C. Komplin, and W. J. Pietro, J. Phys. Chem., 97, 6577 (1993). [16] M. A. Baldo, D. F. O’Brien, Y. You, A. Shoustikov, S. Sibley, M. E. Thompson,and S. R. Forrest, Nature (London), 395, 151 (1998). [17] G. Cheng, F. Li, Y. Duan, J. Feng, S. Liu, S. Qiu, D. Lin, Y. Ma, and S. T. Lee,Appl. Phys. Lett., 82, 4224 (2003). [18] F. Li, G. Cheng, Y. Zhao, J. Feng, S. Liu, M. Zhang, Y. Ma, and J. Shen, Appl.Phys. Lett., 83, 4716 (2003). [19] T. Tsuzuki, N. Shirasawa, T. Suzuki, and S. Tokito, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.),15, 1455 (2003). [20] M. A. Baldo, S. Lamansky, P. E. Burrows, M. E. Thompson, and S. R. Forrest,Appl. Phys. Lett., 75, 4 (1999). [21] C. Adachi, M. A. Baldo, S. R. Forrest, S. Lamansky, M. E. Thompson, and R. C. Kwong, Appl. Phys. Lett., 78, 1622 (2001). [22] C. Adachi, R. Kwong, and S. R. Forrest, Org. Electron., 2, 37 (2001). [23] S. Lamansky, P. I. Djurovich, F. Abdel-Razzaq, S. Garon, D. L. Murphy, and M. E. Thompson, J. Appl. Phys., 92, 1570 (2002). [24] S. Tokito, T. Iijima, Y. Suzuri, H. Kita, T. Tsuzuki, and F. Sato, Appl. Phys. Lett.,83, 569 (2003). [25] J. P. Duan, P. P. Sun, and C. H. Cheng, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.), 15, 224 (2003). [26] C. H. Yang, K. H. Fang, W. L. Su, S. P. Wang, S. K. Su, and I. W. Sun, J. Organomet. Chem., 691, 2767 (2006). [27] A. Sugimoto, H. Ochi, S. Fujimura, A. Yoshida, T. Miyadera, and M. Tsuchida,IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron. 10, 107 (2004). [28] A. N. Krasnov, Appl. Phys. Lett. 80, 3853 (2002). [29] D. G. Lidzey, M. A. Pate, M. S. Weaver, T. A. Fisher, and D. D. C. Bradley, Synth.Met. 82, 141 (1996). [30] S. Noach, E. Z. Faraggi, G. Cohen, Y. Avny, R. Neumann, D. Davidov, and A. Lewis, Appl. Phys. Lett. 69, 3650 (1996). [31] C. Kim and R. Forrest, Adv. Mater. _Weinheim, Ger., 15, 541 (2003). [32] Y. Koide, Q. Wang, J. Cui, D. D. Benson, and T. J. Marks, J. Am. Chem. Soc. 122,11266 (2000). [33] T. R. Hebner, C. C. Wu, D. Marcy, M. H. Lu, and J. C. Sturm, Appl. Phys. Lett. 72,519 (1998). [34] P. F. Tian, P. E. Burrows, and S. R. Forrest, Appl. Phys. Lett. 71, 3197 (1997). [35] R. F. Service, Science 279, 1135 (1998). [36] N. Suganuma, C. Adachi, T. Koyama, and Y. Taniguchi, Appl. Phys. Lett. 74, 1206 (1999). [37] S. Y. Chou, P. R. Krauss, W. Zhang, L. J. Guo, and L. Zhuang, J. Vac. Sci. Technol. B 15, 2897 (1997). [38] W. C. Liao and S. L. C. Hsu, J. Vac. Sci. Technol. B 22, 2764 (2004). [39] C.W. Tang and S.A. VanSlyke, Appl. Phys. Lett. 51, 913. (1987) [40] C. Adachi, T. Tsutsui and S. Saito, Optoelectron. Devices Technol. 6, 25. (1991) [41] M.A. Baldo, S. Lamansky, P.E. Burrows, M.E. Thompson, S.R.Forrest, Appl. Phys. Lett. 75, 4 (1994) [42] L.J. Rothberg and Andrew J. Lovinger, J. Mater. Res. 11, 3174 (1996). [43] S. A. Chen and T.C. Kuo, thesis of Tsing Hua university. (1999) [44] M. A. Baldo, D. F. O. Brien, M. E. Thompson, and S. R. Forrest, Phys. Rev. B, 60 14422 (1999). [45] M. A. Baldo, D. F. O. Brien, Y. You, A. Shoustikvo, S. Sibley, M. E. Thompson, and S. R. Forrest, Nature, 395 151 (1998). [46] M. A. Baldo, M. E. Thompson, and S. R. Forrest, Nature, 430 750 (2000). [47] S. Y. Chou, P. R. Krauss, and P. J. Renstrom, Appl. Phys. Lett. 67, 3114 (1995) and Science, 272, 85 (1996). [48] J. Haisma, M. Verheijen, K.van der Heuvel, and J. van der Berg, J. Vac. Sci. Technol. B, 14, 4124 (1996). [49] A. Kumar, G.M. Whitesides, Appl Phys Lett., 63, 2002 (1993). [50] H. Tan, A. Gilbertson, S.Y. Chou, J Vac Sci Technol. B, 16, 3926 (1999). [51] P. Rucjjpeft, M. colburn, B. Choi, Nounu, S. Johnson, C. G. Wilson, et al, J. Vac. Sci. Technol. B, 17, 2965 (1999). [52] N. B. Mckeown, Phthalocyanine Materials Synthesis, Structure and Function, 32–47, Cambridge University Press, New York (1998). [53] L. Grzadziel, J. Żak, and J. Szuber, Thin Solid Films, 436, 70 (2003). [54] W. J. Kroenke, M. E. Kenny, Inorg. Chem., 3, 696 (1964). [55] A. N. Sidorov, Opt. Spectrosc. 40, 280 (1976). [56] A. J. Dann, H. Hoshi, Y. Maruyama, J. Appl. Phys. 67, 1371 (1990). [57] B. Hutchinson, B. Spencer, R. Thompson, P. Neilt, Spectrochim. Acta A 43 671 (1987). [58] T. Kobayashi, F. Kurokawa, N. Uyeda, E. Suito, Spectrochim. Acta A 26 1305 (1970). [59] Nile B. Mckeown, Phthalocyanine materials synthesis, structure and function, Cambridge, 1998 [60] A.C. Grimsdale, F. Cacialli, J. Gruner, X.C. Li, J. Pommerehne, H. Vestweber, W. Guss, R.F. Mahrt, H. Ba¨ssler, M. Porsch, J. Daub, Adv. Mater. 7, 551 (1995). [61] A. J. Ikushima, T. Kanno, S. Yoshida, and A. Maeda, Thin Solid Films, 273, 35 (1996). [62] E. A. Ough, J. M. Stillman, and K. A. M. Creber, Can. J. Chem., 71, 1898 (1993). [63] A. Davidson, J. Chem. Phys., 77, 168 (1982). [64] J. Bardeen, F. Salt, L. Hall, Photoconductivity Conference, Wiley, New York, p.146 (1965). [65] J. Bardeen, F. Salt, and L. Hall, Photoconductivity Conference, p. 146 (1956). [66] A. Wolberg and J. Manassen, J. Am. Chem. Soc., 92, 2982 (1970). [67] D. Schlettwein and N. R. Armstrong, J. Phys. Chem., 98, 11771 (1994). [68] D. R. Kearns and M. Calvin, J. Chem. Phys., 34, 2026 (1961). [69] I. G. Hill, D. Milliron, J. Schwartz, and A. Kahn, Proc. SPIE, 3797, 276 (1999). [70] M. A. Lampert, Rep. Prog. Phys., 27, 329 (1964). [71] R. D. Gould, M. S. Rahman, J. Phys. D, 14 79 (1981). [72] K. Wihksne, A. E. Newkirk, J. Chem. Phys., 34 2184 (1961). [73] S. E. Harrison, K. H. Ludewig, J. Chem. Phys., 45 343 (1966). [74] T.D. Anthopoulos, T.S. Shafai, Phys. Stat. Sol. (a), 181 569 (2000), 186 89 (2001). [75] P.J. Reucroft, F.D. Mulins, J. Chem. Phys., 58 (1973) 2918. [76] A. K. Jonscher, Dielectric Relaxation in Solids (Chelaea Dielectrics, London), 85 (1983) [77] A. J. Campbell, D. D. C. Bradley, and D. G. Lidzey, J. Appl. Phys., 82, 6326 (1997). [78] A. Hunt, J. Phys.: Condens. Matter, 3, 7831 (1991). [79] H. Vestweber and W. Rieß, Synth. Met., 91, 181 (1997). [80] H. Aziz, Z. D. Popovic, N.-X. Hu, A.-M. Hor, and G. Xu, Science, 283, 1900 (1999). [81] S. M. Tadayyon, H. M. Grandin, K. Griffiths, L. L. Coatsworth, P. R. Norton, H. Aziz, and Z. D. Popovic, Org. Electron., 5, 199 (2004). 130 [82] F. Nuesch, M. Carrara, M. Schaer, D. B. Romero, and L. Zuppiroli, Chin. Phys.Lasers, 347, 311 (2001). [83] S. M. Tadayyon, H. M. Grandin, K. Griffiths, P. R. Norton, H. Aziz, and Z. D.Popovic, Org. Electron., 5, 157 (2004) [84] B. Boudjema, G. Guillaud, M. Gamoudi, M. Maitrot, J. Andre, M. Martin, and J. Simon, J. Appl. Phys., 56, 2323 (1984). [85] P. C. Kao, S. Y. Chu, Z. X. You, S. J. Liu, and C. A. Chuang, Thin Solid Films, 498 , 249 (2006). [86] V. Buloviæ, V.B. Khalfin, G. Gu, P.E. Burrows, D.Z. Garbuzov, S.R. Forrest, Phys. Rev. B ,58 , 3730 (1998). [87] H. Riel, W. Brutting, T. Beierlein, E. Haskal, P. Muller, and W. Rieß, Synth. Met.,111, 303 (2000). [88] B. Masenelli, D. Berner, M. N. Bussac, F. Nüesch, and Zuppiroli, Appl. Phys. Lett., 79, 4438 (2001). [89] Z. Bao, A. J. Lovinger, and A. Dodabalapur, Appl. Phys. Lett., 69, 3066 (1996). [90] Z. Deng, S. T. Lee, D. P. Webb, Y. C. Chan, and W. A. Gambling, Synth. Met., 107, 107 (1999). [91] C. H. Kim and J. Shinar, Appl. Phys. Lett., 80, 2201 (2002) [92] B. W. D’Andrade, M. E. Thompson, and S. T. Forrest, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.), 14, 147 (2002). [93] J. Kido, H. Shionoya, and K. Nagai, Appl. Phys. Lett., 67, 2281 (1995). [94] Y. Kawamura, S. Yanagida, and S. R. Forrest, J. Appl. Phys., 92, 87 (2002). [95] A. Dodabalapur, L. J. Rothberg, and T. M. Miller, Appl. Phys. Lett., 65, 2308 (1994). [96] D. Qin and Y. Tao, Appl. Phys. Lett., 86, 113507 (2005). [97] F. Li, G. Cheng, Y. Zhao, J. Feng, S. Liu, M. Zhang, Y. Ma, and J. Shen, Appl.Phys. Lett., 83, 4716 (2003). [98] K. A. King, P. J. Spellane, and R. J. Wattes, J. Am. Chem. Soc., 107, 1431 (1985). [99] M. G. Colombo, T. C. Brunold, T. Riedener, H. U. Gudel, M. Fortsch, and H.-B. Burgi, Inorg. Chem., 33, 545 (1994). [100] V. Bulovic, R. Deshpande, M. E. Thompson, and S. R. Forrest, Chem. Phys. Lett.,308, 317 (1999). [101] T. Förster, Discuss. Faraday Soc., 27, 7 (1959). [102] S. Lamansky, P. Djurovich, D. Murphy, F. Adbel-Razzaq, H.-E. Lee, C. Adachi,P.E. Burrows, S. R. Forrest, and M. E. Thompson, J. Am. Chem. Soc., 123, 4304 (2001). [103] A. Tsuboyama, H. Iwawaki, M. Furugori, T. Mukaide, J. Kamatani, S. Igawa, T. Moriyama, S. Miura, T. Takiguchi, S. Okada, M. Hoshino, and K. Ueno, J. Am. Chem. Soc., 125, 12971 (2003). [104] F. M. Hwang, H. Y. Chen, P. S. Chen, C. S. Liu, Y. Chi, C. F. Shu, F. I. Wu, P. T.Chou, S. M. Peng, and G. H. Lee, Inorg. Chem., 44, 1344 (2005). [105] J. T. Lim, C. H. Jeong, J. H. Lee, J. H. Lim, and G. Y. Yeom, Jpn. J. Appl. Phys.,Part 1, 45, 1826 (2006). [106] J. H. Niu, W. L. Li, H. Z. Wei, M. T. Li, W. M. Su, Q. Xin, Z. Q. Zhang, and Z. Z. Hu, J. Phys. D, 38, 1136 (2005). [107] E. G. Thianche, C. Sentein, A. Lorin, C. Denis, P. Raimond, and J. M. Nunzi, J. Appl. Phys., 83, 4236 (1998). [108] H. Murata, C. D. Merritt, and Z. H. Kafafi, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron., 4, 119 (1998). [109] N. Matsusue, S. lkame, Y. Suzuki, and H. Naito, J. Appl. Phys., 97, 123512 (2005). [110] C. Qiu, Z. Xie, H. Chen, B. Z. Tang, M. Wong, and H. S. Kwok, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron., 10, 101 (2004). [111] F. Nuesch, D. Berner, E. Tutis, M. Schaer, C. Ma, X. Wang, B. Zhang, and L. Zuppiroli, Adv. Funct. Mater., 15, 323 (2005). [112] C. Adachi, M. A. Baldo, S. R. Forrest, S. Lamansky, M. E. Thompson, and R. C. Kwong, Appl. Phys. Lett., 78, 1622 (2001). [113] S. Y. Chou, P. R. Krauss, and P. J. Renstrom, J. Vac. Sci. Technol. B, Microelectron. Process. Phenom., 14, 4129 (1996). [114] W. C. Liao and S. L. C. Hsu, J. Vac. Sci. Technol., B 22, 2764 (2004). [115] D. Khang, H. Kang, T. Kim, and H. H. Lee, Nano Lett., 4, 633 (2004). [116] R.W. Jaszewski, H. Schift, B. Schnyder, A. Schneuwly, and P. Groning, Appl. Surf. Sci., 143, 301 (1999). [117] M. Beck, M. Graczyk, I. Maximov, E. L. Sarwe, T. G. I. Ling, M. Keil, and L. Montelius, Microelectron. Eng., 61-62, 441 (2002). [118] H. Tan, A. Gilbertson, and S. Y. Chou, J. Vac. Sci. Technol. B 16, 3926 (1998). [119] X. Cheng and L. J. Guo, Microelectron. Eng. 71, 277 (2004). [120] J.-J. Ho and C.-Y. Chen, J. Electrochem. Soc. 152, G57 (2005).
|