|
[1] F. A. Castro, A. Faes, T. Geiger, Carlos F. O. Graeff, M. Nagel, F. Nuesch and R. Hany, Synth. Met. 156 (2006) 973. [2] S. E. Shaheen, C. J. Brabec, N. S. Sariciftci, F. Padinger, T. Fromherz, and J. C. Hummelen, Appl. Phys. Lett. 78, 841 (2001). [3] J. M. Kroon, M. M. Wienk, W. J. H. Verhees, and J. C. Hummelen, Thin Solid Films 403–404, 223 (2002) [4] P. Peumans and S. R. Forrest, Appl. Phys. Lett. 79, 126 (2001) [5] C. W. Tang, Appl. Phys. Lett. 48 (1986) 183 [6] K. C. Chiu, J. S. Wang and C. Y. Lin, J. Appl. Phys. 79 (1996) 1784 [7] W. R. Cheng, S. J. Tang, Y. C. Su, Y. J. Lin, and K. C. Chiu, J. Cryst. Growth 247 (2003) 401. [8] M. Pope, Electronic Processes in Organic Crystals (Oxford University Press, Oxford, 1982). [9] E. A. Silinsh, Organic Molecular Crystals: Interaction, Localization, andTransport Phenomena (American Institute of Physics, New York, 1994). [10] P. Peumans, A. Yakimov and S. R. Forrest, J. Appl. Phys.93 (2003) [11] T. Stu¨binger and W. Bru¨tting, J. Appl. Phys. 90, 3632 (2001) [12] L. A. A. Pettersson, L. S. Roman, and O. Inganas, J. Appl. Phys. 86, 487 (1999). [13] L. Burin and M. A. Ratner, J. Phys. Chem. A 104, 4704 (2000) [14] V.-E. Choong, Y. Park, Y. Gao, M. G. Mason, and C. W. Tang, J. Vac. Sci. Technol. A 16, 1838 (1998). [15] H. R. Kerp and E. E. van Faassen, Nord. Hydrol. 1, 1761 (1999). [16] B. A. Gregg, J. Sprague, and M. W. Peterson, J. Phys. Chem. B 101, 5362 (1997). [17] 30V. Bulovic and S. R. Forrest, Chem. Phys. 210, 13 (1996) [18] J. J. M. Halls, K. Pichler, R. H. Friend, S. C. Moratti, and A. B. Holmes, Appl. Phys. Lett. 68, 3120 (1996). [19] T. Stu¨binger and W. Bru¨tting, J. Appl. Phys. 90, 3632 (2001) [20] L. A. A. Pettersson, L. S. Roman, and O. Inganas, J. Appl. Phys. 86, 487 (1999). [21]M. Theander, A. Yartsev, D. Zigmantas, V. Sundstro¨m, W. Mammo, M. R. Andersson, and O. Ingana¨s, Phys. Rev. B 61, 12 957 (2000). [22]R. Kersting, U. Lemmer, M. Deussen, H. J. Bakker, R. F. Mahrt, H. Kurz, V. I. Arkhipov, H. Bassler, and E. O. Gobel, Phys. Rev. Lett. 73, 1440 (1994). [23] P. A. van Hal, R. A. J. Janssen, G. Lanzani, G. Cerullo, M. Zavelani-Rossi, and S. D. Silvestri, Chem. Phys. Lett. 345, 33 (2001). [24] B. C. Zerza, G. Cerullo, S. D. Silvestri, and N. S. Sariciftci, Synth. Met.119, 637 (2001) [25] 墬律廷, 利用熱蒸鍍法成長ITO/CuPc/C60/Ag異質結構並探討其 物理特性, 中原大學, 應物所, 中壢 (2007) [26] O. V. Molodtsova, T. Schwieger. M. Knupfer, Appl. Surf. Sci. 252 (2005) 143 [27] M. L. Wang, Q. L .Song, H. R. Wu, B. F. Ding, X. D. Gao, X. Y. Sun, X. M. Ding and X. Y. Hou, Org. Electron. 8 (2007) 45 [28] T. Stu¨binger and W. Bru¨tting, J. Appl. Phys. 90, 3632 (2001). [29] S. S. Harilal, C. V. Bindhu, V. P. N. Nampoori, and C. P. G. Vallabhan, J. Appl. Phys. 86, 1388 (1996) [30] V. Capozzi, G. Casamassima, G. F. Lorusso, A. Minafra, R. Piccolo, T. Trovato, and A. Valentini, Solid State Commun. 98, 853 (1996). [31] Q. L. Song, C. M. Li, M. L. Wang, X. Y. Sun and X. Y. Hou, Appl. Phys. Lett. 90 (2007) 071109 [32] M. Y. Chan, S. L. Lai, K. M. Lau, C. S. Lee and S. T. Lee, Appl. Phys. Lett. 89 (2006) 163515 [33] Q. L. Song, C. M. Li, M. L. Wang, X. Y. Sun and X. Y. Hou, Appl. Phys. Lett. 90 (2007) 071109. [34] M. Y. Chan, S. L. Lai, K. M. Lau, C. S. Lee and S. T. Lee, Appl. Phys. Lett. 89 (2006) 163515. [35] N. R. Armstrong, C. Carter, C. Donley, A. Simmonds, P. Lee, M. Brumbach, B. Kippelen, B. Domercq, S. Yoo Thin Solid Films , 445 (2003), 342–352 [36] V. Shrotriya, G. Li, Y. Yao, C. W. Chu and Y. Yang, Appl. Phys. Lett. 88 (2006) 073508. [37] M. Rusu, S. Wiesner, T. Mete, H. Blei, N. Meyer, M. Heuken, M. Ch. Lux-Steiner, K. Fostiropoulos, Renewable Energy ( Article in press ) [38] S. E. Shaheen, C. J. Brabec, N. S. Sariciftci, F. Padinger, T. Fromherz, and J. C. Hummelen, Appl. Phys. Lett. 78, 841 (2001) [39] T. Aernouts, W. Geens, J. Poortmans, P. Heremans, S. Borghs, and R. Mertens, Thin Solid Films 403–404, 297 (2002). [40] B. P. Rand, J. Xue, S. Uchida and S. R. Forrestc, J. Appl. Phys. 98 (2005) 124902. [41] J. Xue, B. P. Rand, S. Uchida and S. R. Forrest, J. Appl. Phys. 98 (2005) 124903 [42] J. Xue, B. P. Rand, S. U. and S. R. Forrest, Adv. Mater. 17 (2005) 66. [43] S. Siebentritt, S. Gunster, and D. Meissner, Synth. Met. 41–43, 1173 (1991) [44] D. L. Morel, A. K. Gosh, T. Feng, E. L. Stogryn, P. E. Purwin, R. F. Shaw, and C. Fishman, Appl. Phys. Lett. 32, 495 (1978). [45] A. K. Gosh and T. Feng, J. Appl. Phys. 49, 5982 (1978). [46] P. Peumans and S. R. Forrest, Appl. Phys. Lett. 79, 126 (2001). [47] P. Peumans, V. Bulovic, and S. R. Forrest, Appl. Phys. Lett. 76, 2650 (2000). [48] S. R. Forrest, W. Y. Yoon, L. Y. Leu, and F. F. So, J. Appl. Phys. 66, 5908 (1989). [49] C. W. Tang, Appl. Phys. Lett. 48, 183 (1986) [50] A. Yakimov and S. R. Forrest, Appl. Phys. Lett. 80, 1667 (2001). [51] D. Wohrle, L. Kreienhoop, G. Schnurpfeil, J. Elbe, B. Tennigkeit, S. Hiller, and D. Schlettwein, J. Mater. Chem. 5, 1819 (1995). [52] J. J. M. Halls, K. Pichler, R. H. Friend, S. C. Moratti, and A. B. Holmes, Appl. Phys. Lett. 68, 3120 (1996) [53] T. Aernouts, W. Geens, J. Poortmans, P. Heremans, S. Borghs, and R. Mertens, Thin Solid Films 403–404, 297 (2002) [54] S. E. Shaheen, C. J. Brabec, N. S. Sariciftci, F. Padinger, T. Fromherz, and J. C. Hummelen, Appl. Phys. Lett. 78, 841 (2001) [55] L. Chen, D. Godovsky, O. Ingana¨s, J. C. Hummelen, R. A. J. Janssens, M. Svensson, and M. R. Andersson, Adv. Mater. 12, 1367 (2000). [56] S. W. Hur, H. S. Oh, Y.C. Oh, D. H. Chung, J. U. Lee, J. W. Park and T. W. Kim, Synth. Met. 154 (2005) 49 . [57] J. Xue, S. Uchida, B. P. Rand and S. R. Forrest, Appl. Phys. Lett. 84 (2004) 3013. [58] Z. R. Hong, Z. H. Huang and X. T. Zeng, Chem. Phys. Lett. 425 (2006) 62. [59] M. Y. Chan, C. S. Lee, S. L. Lai, M. K. Fung, F. L. Wong, H. Y. Sun, K. M. Lau and S. T. Lee, J. Appl. Phys. 100 (2006) 094506. [60] Y. J. Ahn, G. W. Kang and C. H. Lee, Mol. Cryst. Liq. Cryst. 377 (2002) 301. [61] Z. R. Hong, Z. H. Huang and X. T. Zeng, Thin Solid Films 515 (2007) 3019. [62] C. W. Chu, V. Shrotriya, G. Li and Y. Yang, Appl. Phys. Lett. 88 (2006) 153504. [63] S. M. Schultes, P. Sullivan, S. Hwutz, B. M. Sanderson and T. S. Jones, Mater. Sci. Eng. C 25 (2005) 858. [64] Q. L. Song, F. Y. Li, H. Yang, H. R. Wu, X. Z. Wang, W. Zhou, J. M. Zhao, X. M. Ding, C. H. Huang and X. Y. Hou, Chem. Appl. Lett. 416 (2005) 42.
|