跳到主要內容

臺灣博碩士論文加值系統

(34.204.180.223) 您好!臺灣時間:2021/08/03 22:17
字體大小: 字級放大   字級縮小   預設字形  
回查詢結果 :::

詳目顯示

我願授權國圖
: 
twitterline
研究生:江昆修
研究生(外文):Kun-Hsiu Chiang
論文名稱:結合時間域相位量測與空間域相位展開應用於不連續形貌之研究
論文名稱(外文):The combination of temporal phase measurement and spatial phase unwrapping for discontinuities surface
指導教授:黃敏睿
指導教授(外文):Min-Jui Huang
學位類別:碩士
校院名稱:國立中興大學
系所名稱:機械工程學系所
學門:工程學門
學類:機械工程學類
論文種類:學術論文
畢業學年度:96
語文別:中文
論文頁數:58
中文關鍵詞:時間域相位展開
外文關鍵詞:temporal phase unwrapping
相關次數:
  • 被引用被引用:0
  • 點閱點閱:404
  • 評分評分:
  • 下載下載:0
  • 收藏至我的研究室書目清單書目收藏:0
在現今光學量測技術中,我們所要求得的物理量,不論是位移、變形、應變分布等都呈現在相位的分布場中,而所謂的相位重建技術則是將這些相位經由各種公式轉換成所需的物理量。相位展開法主要分為兩部份,一是空間域相位展開 (spatial phase unwrapping) ,二是時間域相位展開(temporal phase unwrapping) 。本論文使用模擬的相位圖與實驗的相位圖來做時間域的相位展開,並探討可行性。
目錄
摘要 i
Abstract ii
目錄 iii
圖目錄 vi
表目錄 viii
第一章 緒論 1
1-1 研究動機與方向 1
1-2 論文大綱 2
第二章 電子斑點干涉術量測及相移介紹 3
2.1 斑點之成因 3
2.2 電子斑點干涉術基本原理 4
2.2.1 面內位移量測 6
2.2.2 面外位移量測 10
2.3 時間域相位量測 12
2.4 相移干涉術 14
2.4.1 三步相移 14
2.4.2 四步相移 15
2.4.3 五步相移 16
第三章 相位展開技術概論 19
3.1 相位展開基本觀念 19
3.2空間域相位展開技術 20
3.2.1路徑相依型相位展開技術 21
3.2.2路徑獨立型相位展開技術 22
3.3 調控式平行相位展開法 24
3.3.1 調控參數配對之特性 28
3.4 時間域相位展開技術 30
3.5 Sine-Cosine濾波 44
第四章 時間域的實驗架設與量測結果 46
4-1 實驗架設 46
4-2 實驗量測設備與系統 47
4-3 實驗量測結果 48
4.3.1 中間剪切 48
4.3.2 中間剪切(二) 50
4.3.3 斜切 51
4.3.4 曲線剪切 53
4.4 實驗結果與討論 55
第五章 結論與未來展望 56
參考文獻 57

圖目錄
圖2-1 相關條紋示意圖 6
圖2-2 ESPI面內位移實驗架設圖 7
圖2-3面內位移量測示意圖 8
圖2-4 ESPI面外位移實驗架設圖 10
圖2-5 ESPI時間域架設示意圖 13
圖2-6 modulus轉 modulus 18
圖3-1相位展開示意圖 19
圖3-2 典型路徑相依相位還原法的過程 22
圖3-3 CA PhU正交四點示意圖。 22
圖3-4調控式相位展開法遮罩示意圖 26
圖3-5調控式平行相位展開法測試 28
圖3-6 2-bucket變形前的模擬光強圖 31
圖3-7 2-bucket變形後的模擬光強圖 31
圖3-7 2-bucket包裹相位圖 32
圖3-8 4-bucket變形前模擬光強圖 33
圖3-9 4-bucket變形後模擬斑點圖 34
圖3-10 4-bucket包裹相位圖 34
圖3-11 2-bucket(雜訊1)光強圖 35
圖3-12 2-bucket(雜訊1)相位展開圖 36
圖3-12 4-bucket(雜訊1)變形前模擬光強圖 36
圖3-13 4-bucket(雜訊1)變形後模擬斑點圖 37
圖3-14 4-bucket(雜訊1)相位展開圖 38
圖3-15 2-bucket(雜訊1.2)相位圖 38
圖3-16 4-bucket(雜訊1.2)相位展開圖 39
圖3-17 Sine-Cosine濾波 45
圖4-1 時間域架設示意圖 46
圖4-2中間剪切(一)變形前後光強圖 49
圖4-3 中間剪切(一)相位展開圖 49
圖4.4 中間剪切(二)變形前後光強圖 50
圖4.5 中間剪切(二)相位展開圖 51
圖4.6斜切變形前後光強圖 52
圖4-7 斜切相位展開圖 53
圖4-8 曲切變形前後光強圖 54
圖4-9曲切相位展開圖 55

表目錄
表目錄 viii
表3-1 高雜訊相位圖展開配對集合表 28
[1] R.Jones and C.wykes, “Holographic and Speckle Interferometry,” Cambridge,UK,(1983).
[2] A.J.Moore and J.R.Tyrer, “Phase-stepped ESPI and moire’ interf-Erometry for measuring the stress-intensity and Jintergral,” Exp.Mech.Vol.35, pp. 306-314(1995).
[3] J.N.Butters and J.A.Leendertz. “A double exposure technique for speckle pattern interferometry,” J.Phys.E, Vol.4, pp.277-279(1971).
[4] Lis-Sheng Wang,K.Jambunathan, Brian N. Dobbins, Shi-Ping He, “Measurement of three-dimensional surface shape and deformation using phase stepping speckle interferometry.” Optical Engineering Vol.35(8), pp.2333-2340(1996).
[5] H. H. Hopkins and H. J. Tiziani, “Speckling in diffraction pattern and optical images formed with the laser,” Proc. Int. Symp. Holog. , Besancon, (1970).
[6] Hedser and Brug, “Temporal phase unwrapping and its application in sherography system,” Opt. Vol37, No28(1998).
[7] Burning, D. R. Herriott , J. E. Gallagher , D. P. Rosenfeld , A. D. White and D. J. Brangaccio, “Digital Wavefront Measure Interferometry for Testing Optical surface and Lenses,” Appl. Opt., Vol.13, pp.2693(1974).
[8] Y. Cheng and J. C. Wyant, “Phase shifter calibration in phase-shifting interferometry” , Applied Optical. 24 , 3049(1985).
[9] W. Zheng and Y. S. Tan , “Accurate holographic interferometry application of phase stepping technique” , Acta Optical SIinica , 11 , 376(1991).
[10] K. Creath , “Temporal Phase Measurement Method,” in interferogram Analysis ed. D. W. Robinson and G. T. Reid , Institute of Physics Publishing , pp.94(1998).
[11] Butters, J. N, and Leendertz, J. A, , “Holographic and Video Techniques Applied to Engineering Measurement,” Journal of Measurement and Control, Vol.4, pp.349-354(1971.)
[12] P. Hariharan , B. F. Oreb , and T. Eijux , “Digital phase-shift interferometry : a simple error-compensating phase calculation algorithm,” Appl. Opt, Vol.26, pp.2504(1987)
[13] R. Cusack , J. M. Huntley and H. T. Goldgrein, ”Improved noise immune phase unwrapping algorithm,” Applied Optical, Vol.34, pp.781-789(1995).
[14] J. M. Huntley and H. Huntley, “Temporal phase unwrapping algorithm for automated interferometry analysis,” Appl. Opt. Vol.32(17), pp.3047-3052(1993).
[15] H. O. Salder and H. Huntley, “Temporal phaseunwrapping Application to surface profiling of discontinuous object,” Appl. Opt. Vol.36(13), pp.2770-2775(1997).
[16] W. W. Macy, “Two-dimensional fringe-pattern analysis,” Applied Optical, Vol.22, pp.3898-3901(1983).
[17] D. C. Ghiglia, G. A. Mastin and L. A. Romero, “Cellular-automata method for phase unwrapping.” J. Opt. Soc. Am. A, Vol.4, ppt.276-280(1987).
[18] A. Spik and D. W. Robinson, “Investigation of the cellular automata method for phase unwrapping and its implementation on an array processor,” Optics and Lasers in Engineering, Vol.14, pp.25-37(1991).
[19] M. J. Huang , Zi-Neng He,”Phase unwrapping through region-refernced algorithm and window-patching method,” Opt.Comm.,Vol.203, pp225-241(2002)
[20] M. J. Huang and Cian-Jhih Lai, “Phase unwrapping based on a parallel noise-immune algorithm,” Optics and Laser Technology(EI,SCI), 34(6),PP.457-464,(2002).
[21] 陳彥霖, “調控式平行相位展開法參數自動搜尋並結合區塊接合技術進行形貌不連續相位圖之相位展開研究”, 國立中興大學機械工程研究所碩士論文, 2007
QRCODE
 
 
 
 
 
                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                               
第一頁 上一頁 下一頁 最後一頁 top