|
[1] S. Nakamura and S. F. Chichibu, Introduction to Nitride Semiconductor Blue Lasers and Light-Emitting Diodes (Taylor and Francis, London, 2000). [2] H. Morkoc, A. D. Carlo, and R. Cingolani, Solid-State Electron. 46, 157 (2002). [3] S. J. Pearton, F. Ren, A. P. Zhang, and K. P. Lee, Mater. Sci. Eng. B 82, 227 (2001). [4] M. A. Khan, X. Hu, A. Tarakji, G. Simin, J. Yang, R. Gaska, and M. S. Shur, Appl. Phys. Lett. 77, 1339 (2000). [5] F. Ren, M. Hong, S. N. G. Chu, M. A. Marcus, M. J. Schurman, A. Baca, S. J. Pearton, and C. R. Abermathy, Appl. Phys. Lett. 73, 3893 (1998). [6] N. Holonyak, Jr. and S. F. Bevacqua, Appl. Phys. Lett. 1, 82 (1962). [7] F. M. Steranka, J. Bhat, D. Collins, L. Cook, M. G. Craford, R. Fletcher, N. Gardner, P. Grillot, W. Goetz, M. Keuper, R. Khare, A. Kim, M. Krames, G. Harbers, M. Ludowise, P. S. Martin, M. Misra, G. Mueller, R. Mueller-Mach, S. Rudaz, Y. C. Shen, D. Steigerwald, S. Stockman, S. Subramanya, T. Trottier, J.J. Wierer, Phys. Stat. Sol. A 94, 380 (2002). [8] W. Xie, D. C. Grillo, R. L. Gunshor, M. Kobayashi, H. Jeon, J. Ding, A. V. Nurmikko, G. C. Hua, and N. Otsuka, Appl. Phys. Lett. 60, 1999 (1992). [9] S. Nakamura, T. Mukai, and M. Senoh, Appl. Phys. Lett. 64, 1687 (1994). [10] M. Koike, S. Yamasaki, S. Nagai, N. Koide, S. Asami, H. Amano and I. Akasaki, Appl. Phys. Lett. 68, 1403 (1996). [11] J. Han, J. J. Figiel, G. A. Petersen, S. M. Myers, M. H. Crawford, and M. A. Banas, Jpn. J. Appl. Phys. 39, 2372 (2000). [12] M. Boroditsky and E. Yablonovitch, Proc. SPIE 3002, 119 (1997). [13] C. C. Kao, H. C. Kuo, K. F. Yeh, J. T. Chu, W. L. Peng, H. W. Huang, T. C. Lu, and S. C. Wang, IEEE Photonics Technol. Lett. 19, 849 (2007). [14] C. L. Lee, S. C. Lee, and W. I. Lee, Jpn. J. Appl. Phys. 45, L4 (2006). [15] J. K. Sheu, Y. S. Lu, M. L. Lee, W. C. Lai, C. H. Kuo, and C. J. Tun, Appl. Phys. Lett. 90, 263511 (2007). [16] C. L. Lin, P. H. Chen, C. H. Chan, C. C. Lee, C. C. Chen, J. Y. Chang, and C. Y. .Liu, Appl. Phys. Lett. 90, 242106 (2007). [17] S. Haselbeck, H. Schreiber, J. Schwider, and N. Streibl, Opt. Eng. 32, 1322 (1993). [18] M. B. Stern, Microelectron. Eng. 34, 299 (1997). [19] G. Beadie and N. M. Lawandy, Opt. Lett. 20, 2153 (1995). [20] M. K. Lee and K. K. Kuo, Appl. Phys. Lett. 91, 051111 (2007). [21] S. H. Park, H. Jeon, Y. J. Sung, and G. Y. Yeom, Appl. Opt. 40, 3698 (2001). [22] H. W. Choi, C. Liu, E. Gu, G. McConnell, J. M. Girkin, I. M. Watson, and M. D. Dawson, Appl. Phys. Lett. 84, 2253 (2004). [23] D. Kim, H. Lee, N. Cho, Y. Sung, and G. Yeom, Jpn. J. Appl. Phys. 44, L18 (2005). [24] C. Y. Chang and S. M. Sze, Wafer-Cleaning Technology, ULSI Technology (McGrow-Hill, New York, 1996). [25] H. Nagayama, H. Honda, and H. Kawahara, J. Electrochem. Soc. 135, 2013 (1988). [26] A. Hishinuma, T. Goda, M. Kitaoka, S. Hayashi, and H. Kawahara, Appl. Surf. Sci. 48, 405 (1991). [27] C. F. Yeh and C. L. Chen, Appl. Phys. Lett. 66, 938 (1995). [28] N. I. Vorobev, O. B. Dormeshkin, and V. V. Pechkovskil, J. Anal. Chem. 62, 1539 (1989). [29] T. Homma, T. Katoh, Y. Yamada, and Y. Murao, J. Electrochem. Soc. 140, 2410 (1993). [30] M. Otani, K. Shiraishi, and A. Oshiyama, Phys. Rev. B 68, 184112 (2003). [31] M. Cannas, L. Vaccaro, and B. Boizot, J. Non-Cryst. Solids 352, 203 (2006). [32] C. F. Yeh, Y. C. Lee, and S. C. Lee, J. Electrochem. Soc. 147, 4268 (2000). [33] R. Khare and E. L. Hu, J. Electrochem. Soc. 138, 1516 (1991). [34] M. S. Minsky, M. White, and E. L. Hu, Appl. Phys. Lett. 68, 1531 (1996). [35] J. A. Bardwell, I. G. Foulds, J. B. Webb, H. Tang, J. Fraser, S. Moisa, and S. J. Rolfe, J. Electron. Mater. 28, L24 (1999). [36] C. B. Vartuli, S. J. Pearton, C. R. Abernathy, J. D. MacKenzie, F. Ren, J. C. Zolper, and R. J. Shul, Solid-State Electron. 41, 1947 (1997). [37] X. A. Cao, S. J. Pearton, G. Dang, A. P. Zhang, F. Ren, and J. M. VanHove, Appl. Phys. Lett. 75, 4130 (1999). [38] K. N. Lee, S. M. Donovan, B. Gila, M. Overberg, J. D. Mackenzie, C. R. Abernathy, and R. G. Wilson, J. Electrochem. Soc. 147, 3087 (2000). [39] R. Lyer, R. R. Chang, A. Dubey, and D. L. Lile, J. Vac. Sci. Technol. B 6, 1174 (1988). [40] T. Maruyama, K. Yorozu, T. Noguchi, Y. Seki, Y. Saito, T. Araki, and Y. Nanishi, Phys. Status Solidi C 0, 2031 (2003). [41] H. M. Kim, C. Huh, S. W. Kim, N. M. Park, and S. J. Park, Electrochem. Solid-State Lett. 7, G241 (2004). [42] Y. Chen, D. M. Baghall, H. Koh, K. Park, K. Hiraga, Z. Zhu, and T. Yao, J. Appl. Phys. 84, 3912 (1998). [43] A. Ohtomo, M. Kawasaki, Y. Sakurai, I. Ohkubo, R. Shiroki, Y. Yoshida, T. Yasuda, Y. Segawa, and H. Koinuma, Mater. Sci. Eng. B 56, 263 (1998). [44] S. J. Pearton, D. P. Norton, K. Ip, Y. W. Heo, and T. Steiner, Prop. Mater. Sci. 50, 294 (2005). [45] I. Shalish, H. Temkin, and V. Narayanamurti, Phys. Rev. B 69, 245401 (2004). [46] H. Zhang, D. Yang, Y. Ji, X. Ma, J. Xu, and D. Que, J. Phys. Chem. B 108, 3955 (2004). [47] S. Peulon and D. Lincot, J. Electrochem. Soc. 145, 864 (1998). [48] L. Vayssieres, Adv. Mater. 15, 464 (2003). [49] W. S. Lau, P. W. Qian, N. P. Sandler, K. A. McKinley, and P. K. Chu, Jpn. J. Appl. Phys. 36, 661 (1997). [50] B. Agius, S. Rigo, F. Rochet, M. Froment, C. Maillot, H. Roulet, and G. Dufour, Appl. Phys. Lett. 44, 48 (1984). [51] E. H. Nicollian and J. R. Brews, MOS (Metal Oxide Semiconductor) Physics and Technology (Wiley, New York, 2003). [52] R. R. Wixom and A. F. Wright, Phys. Rev. B 72, 024114 (2005). [53] E. P. Gusev, H. C. Lu, E. L. Garfunkel, T. Gustafsson, and M. L. Green, IBM J. Res. Develop. 43, 265 (1999). [54] Y. T. Kim, S. M. Cho, Y. G. Seo, H. D. Yoon, Y. M. Im, S. J. Suh, and D. H. Yoon, Surf. Coat. Technol. 171, 34 (2003). [55] R. Machorro, E. C. Samano, G. Soto, F. Villa, and L. Cota-Araiza, Mater. Lett. 45, 47 (2000). [56] T. Usami, K. Shimokawa, and M. Yoshimaru, Jpn. J. Appl. Phys 33, 408 (1994). [57] Y. Gao, M. D. Craven, J. S. Speck, S. P. DenBaars, and E. L. Hu, Appl. Phys. Lett. 84, 3322 (2004). [58] S. D. Wolter, B. P. Luther, D. L. Waltemyer, C. Onneby, S. E. Mohney, and R. J. Molnar, Appl. Phys. Lett. 70, 2156 (1997). [59] Y. J. Lin, C. F. You, and C. S. Lee, J. Appl. Phys. 99, 053706 (2006). [60] R. Klauser, M. Kubota, Y. Murata, M. Oshima, Y. Y. Maruo, T. Kawamura, and T. Miyahara, Phys. Rev. B 40, 3301 (1989). [61] P. C. Carman, Trans. Faraday Soc. 36, 964 (1940). [62] L. T. Zhuravlev, Colloids Surf. A 173, 1 (2000). [63] T. S. Mahadevan and S. H. Garofalini, J. Phys. Chem. C 112, 1507 (2008). [64] S. Patai and Z. Rappoport, The Chemistry of Organic Silicon Compounds (Wiley, New York 1989). [65] C. Youtsey, L. T. Romano, and I. Adesida, Appl. Phys. Lett. 73, 797 (1998). [66] X. Guo and E. F. Schubert, Appl. Phys. Lett. 78, 3337 (2001). [67] G. S. Pokrovski, J. Schott, J. Hazemann, F. Farges, and O. S. Pokrovsky, Geochim. Cosmochim. Acta, 66, 4203 (2002). [68] M. K. Lee, W. H. Shieh, C. M. Shih, and K. W. Tung, J. Phys. Chem. B 107, 12700 (2003). [69] L. Masgrau, A. Gonzales-Lafont, and J. M. Lluch, J. Phys. Chem. A 103, 1044 (1999). [70] A. A. Viggiano, T. M. Miller, E. S. Miller, R. A. Morris, J. F. Paulson, E. R. Brown, and E. A. Sutton, J. Chem. Phys. 100, 357 (1994). [71] P. C. Chen, “Zinc Oxide Nanostructures Prepared by Liquid Phase Deposition” Dep. E. E., NSYSU (2006).
|