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臺灣博碩士論文加值系統

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研究生:謝政憲
研究生(外文):Jeng-Shien Hsieh
論文名稱:整合品質機能展開與品質工程建構新產品品質指標評估模式-以奈米碳管場發射顯示器為例整合品質機能展開與品質工程建構新產品品質指標評估模式-以奈米碳管場發射顯示器為例整合品質機能展開與品質工程建構新產品品質指標評估模式-以奈米碳管場發射顯示器為例
論文名稱(外文):Construct Evaluation Model of Quality Indicators of New Product by Integrating Quality Function Deployment and Quality Engineering : in case study of CNT-FED
指導教授:彭 泉邱文志邱文志引用關係
指導教授(外文):Chyuan PerngWen-Chih Chiou
學位類別:碩士
校院名稱:東海大學
系所名稱:工業工程與經營資訊學系
學門:工程學門
學類:工業工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2008
畢業學年度:96
語文別:中文
論文頁數:75
中文關鍵詞:奈米碳管場發射顯示器品質機能展開田口品質工程
外文關鍵詞:CNT-FEDQuality Function DeploymentQuality Engineering
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我國工研院電子與光電研究所已成功開發出利用奈米碳管(carbon nanotube,CNT)為場發射子的奈米碳管場發射顯示器(carbon nanotube-field emission display,CNT-FED)。在面對全球化競爭激烈的市場,以及顧客對產品需求多變的情形下,企業在新產品開發時,為了對市場的快速變化作出最適當的回應,如果有一個有效的模式,能找出工程設計的要素權重,及製程的關鍵因子並分析,對於研發團隊開發新產品時會有很大的助益。
在整體發展過程上,透過文獻探討及專家訪談調查,整合品質機能展開法與田口品質工程,建構出一套適用於奈米碳管場發射顯示器,於新產品開發時的製程品質指標評估模式。本研究先運用品質機能展開法去評估研發需求與技術要求間之關鍵品質要項。經由品質機能展開所導出之關鍵品質要項,再利用田口品質工程之參數設計,藉由直交表之實驗計畫法,尋找最適品質要項因子與水準之組合,以作為降低變異與穩定製程之參考依據。有關直交表之實驗分析,則利用變異數分析來評估。本研究並以工研院研發中之奈米碳管場發射顯示器為個案,協助說明本研究之發展。
根據研究結果,經過田口直交表實驗設計,所得之最佳因子水準組合,經驗證實驗應用於實際生產中,所生產之陰極版良率有顯著提昇。利用直交表,我們可以透過最少實驗次數,決定出最佳參數水準組合,可大幅降低因試誤法所造成的成本浪費,以縮短新產品從開發到上市的時程。
In Taiwan, we have already succeeded in developing and utilizing the carbon nanotube (C N T ) to manage the carbon nanotube-field emission display (CNT-FED).
Under the globalization of fierce market competition, and changeable demand of products from customers, when enterprises are developing new products, to make the most appropriate response to the fast change of the market, if there is an effective way to find out and analyze the key element weight of engineering design, and key factor of production, it will have heavy benefit at developing new products for research and develop groups.
On the whole evolution, through literature review and expert's interview, we combine Quality Function Deployment and Quality Engineering to construct a suitable quantity analyze pattern for CNT-FED when developing a new product. This research uses the Quality Function Deployment to estimate the key quality item between research demand and technique demand. And use ANOVA to estimate orthogonal array’s experiment analysis. This research also uses the CNT-FED developing in ITRI to help explain the development of this research.
The results should that through Taguchi’s orthogonal arrays experimental design, the best combination of parameter level is obtained, after experimental test by practical production, the complete rate of cathode plate is increased. By orthogonal arrays, we can use the least number of experiments to determinate the best combination of parameter level, and substantially reduce the cost by try and error, and also reduce the time from developing to diffusion。
目錄
第一章 緒論 1
1.1 研究背景與動機 1
1.2 研究目的 3
1.3 研究流程 3
1.4 研究範圍與限制 5
第二章 文獻探討 6
2.1 品質機能展開 6
2.1.1 品質機能展開的定義 6
2.1.2 品質機能展開之結構 7
2.1.3 品質屋 8
2.1.4 品質機能展開法相關文獻 10
2.2 田口式品質工程 12
2.2.1 損失函數 14
2.2.2 田口的品質特性 16
2.2.3 影響產品或製程績效的因子 17
2.2.4 直交表與線點圖 19
2.2.5 利用訊號雜音比作分析 19
2.2.6 田口品質工程相關文獻 20
2.3奈米碳管場發射顯示器 22
2.3.1 平面顯示器產業 22
2.3.2 奈米碳管場發射顯示器標準製程 23
2.3.3 國內外發展奈米碳管場發射顯示器之進展 25
2.3.4 CNT-FED相關文獻 27
2.3.4 小結 29
第三章 研究方法與架構 30
3.1 研究架構 30
3.2 品質機能展開之方法應用 31
3.2.1 研發需求優先順序: 32
3.2.2 技術需求優先順序: 32
3.2.3 研發要求的品質名詞定義: 32
3.2.4 技術品質特性名詞定義: 33
3.2.5 品質機能展開圖 33
3.3 田口品質工程之實驗設計 34
3.3.1 系統規劃與參數取決 35
3.3.2 田口實驗之參數設計 35
3.3.3 資料分析 36
3.3.4 資料分析與實驗驗證 36
3.3.5 最適條件取出 37
3.3.6 變異數分析 38
3.4 小結 41
第四章 實例驗證-以CNT-FED為例 42
4.1 研發專案之品質機能展開 42
4.1.1 品質要素權重之計算 42
4.1.2 決定技術需求優先順序有以下四項: 43
4.1.3 研發要求的品質名詞定義: 43
4.1.4 技術品質特性名詞定義: 44
4.1.5 品質機能展開之各項需求優先順序評比 44
4.1.6 研發需求優先順序 45
4.1.7 技術需求優先順序 46
4.1.8 QFD展開結果 47
4.2 田口品質工程之實驗設計 48
4.2.1 系統規劃之參數取決 48
4.2.2 田口實驗設計之參數設計 51
4.2.3 直交表實驗設計 51
4.2.4 參數實驗設計 53
4.2.5 資料解析之實驗驗證 59
4.2.6 最適值預測 59
4.2.7 製程之最佳實驗組合 59
4.2.8 最適條件取出 60
4.2.9 小結 62
第五章 結論 63
5.1 結論 63
參考文獻 64
附錄一 68
附錄二 74

圖目錄
圖1-1 傳統CRT與FED 2
圖1-2 研究架構圖 4
圖2-1 品質機能展開四個階段圖 8
圖2-2 Bossert 提出之品質屋架構圖 9
圖2-3田口品質工程結構圖 13
圖2-4生產線外品質管制的三個層次 13
圖2-5 傳統與田口品質損失圖 15
圖2- 6 產品/製程參數圖 18
圖2-7 FPD 應用及未來可能趨勢相關圖 23
圖2-8 CNT-FED 結構圖 24
圖2-9 CNT-FED製程 24
圖2-10 SEM電子顯微鏡下多根奈米碳管的聚焦結構。 25
圖2-11五吋全彩的奈米碳管場發射顯示器(CNT-FED)。 26
圖2-12陰極射線管與場發射顯示器結構 26
圖2-13工研院電子所奈米碳管場發射顯示器 27
圖3-1 研究架構圖 31
圖3-2 CNT-FED 產品品質機能展開 34
圖4-1 CNT-FED 產品品質機能展開 45
圖4-2 品質機能展開之優先順序評比 47
圖4-3 CNT-FED 陰極板製程 48
圖4-4 膜厚測量儀 49
圖4-5 3D光學顯微鏡 50
圖4-6 A因子S/N 值效果圖 56
圖4-7 B因子S/N 值效果圖 56
圖4-8 C因子S/N 值效果圖 56
圖4-9 D因子S/N 值效果圖 57
圖4-10 E因子S/N 值效果圖 57
圖4-11 F因子S/N 值效果圖 57
圖4-12 G因子S/N 值效果圖 58

表目錄
表1-1 以50吋顯示器為例,評估各顯示器技術在2010年的表現 2
表2-1 品質機能展開文獻整理表 10
表2-1 品質機能展開文獻整理表(續) 11
表2-2 品質特性與損失函數 17
表2-3 田口品質工程文獻整理表 20
表2-3 田口品質工程文獻整理表(續) 21
表2-4 CNT-FED文獻整理表 27
表2-4 CNT-FED文獻整理表(續) 28
表4-1各顯示器技術表現之比較 42
表4-2 各控制因子設定水準 51
表4-3 L18直交表 52
表4-4 直交表L18因子配置表 53
表4-5 直交表 L18 因子實驗數據表 54
表4-6 參數設計之實驗結果 55
表4-7 各因子水準的平均S/N 值 55
表4-8 S/N 值ANOVA分析結果 58
表4-9 確認實驗進行 60
表4-10 原製程參數組合與最佳參數組合水準項目比較表 61
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