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研究生:張苡晏
研究生(外文):I-yen Chang
論文名稱:C管制圖之統計設計
論文名稱(外文):A statistical design of C control chart
指導教授:陳源樹陳源樹引用關係
指導教授(外文):Yuan-shu Chen
學位類別:碩士
校院名稱:逢甲大學
系所名稱:工業工程與系統管理學研究所
學門:工程學門
學類:工業工程學類
論文種類:學術論文
畢業學年度:97
語文別:中文
論文頁數:35
中文關鍵詞:二階反應曲面模式電腦模擬中央合成設計平均連串長度蕭華特c 管制圖
外文關鍵詞:Shewhart c control chartAverage run lengthCentral composite designSecond-order Response Surfaces ModelComputer simulation
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本論文以 c 管制圖的抽樣間隔(h)、抽樣數(n)、管制界限係數(k)、製程異常率(p)、製程異常量(Δλ)為因子,實施中央合成設計(Central composite design,CCD)進行電腦模擬實驗。再以電腦模擬實驗所得製程正常,管制圖判為異常的平均連串長度(Average run length,ARL)ARL0與製程異常,管制圖判為異常的平均連串長度ARL1,配適二階反應曲面模式(Second-order Response Surfaces Model)。最後極大化ARL0與極小化ARL1,求得 c 管制圖的最佳化參數值。
This paper carries out the CCD to perform a computer simulation with factors of sample size, sampling interval for control chart, control limit coefficient, out-of-control probability and out-of-control variable.
In the simulation, two types of ARL are produced: one is called ARL0 when the process is normal and the control chart judges ARL as abnormal; the other is called ARL1 when the process is abnormal and the control chart judges the ARL as abnormal as well.
Then, the optimal parameters can be obtained with Second-order Response Surface Model, maximizing ARL0 and minimizing ARL1.
目錄
中文摘要 i
Abstract ii
圖目錄 iv
表目錄 v
第一章 緒論 1
1.1研究背景 1
1.2研究目的與假設 2
1.3研究架構 3
第二章 文獻探討 5
2.1蕭華特c管制圖 5
2.2機遇與非機遇原因 6
2.3製程異常判斷準則 7
第三章 平均連串長度與管制圖參數 9
3.1平均連串長度 9
3.2影響平均連串長度的管制圖參數 9
第四章 中央合成設計 11
4.1因子與因子水準 11
4.2中央合成設計及處理組合 12
4.3反應變數及反應曲面 15
第五章 電腦模擬與流程 16
5.1電腦模擬值的產生 16
5.2電腦模擬流程 16
第六章 數據分析與結論 18
6.1數據分析 18
6.2最佳化蕭華特c管制圖參數 23
第七章 結論與建議 33
7.1結論與建議 33
7.2未來研究方向 33
參考文獻 34
參考文獻
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