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研究生:王新逸
研究生(外文):Hsin-I Wang
論文名稱:可程式化PLL對EMC行為影響之研究
論文名稱(外文):Programmable PLL impact on EMC Behavior
指導教授:袁世一袁世一引用關係
指導教授(外文):Shih-Yi Yuan
學位類別:碩士
校院名稱:逢甲大學
系所名稱:通訊工程所
學門:工程學門
學類:電資工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2009
畢業學年度:97
語文別:中文
論文頁數:51
中文關鍵詞:內外頻可程式化鎖相迴路電磁干擾預估TEM-CELL測量
外文關鍵詞:internal/external clock frequencyProgrammable PLLEMI estimationTEM-CELL measurement
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目前積體電路內外頻(internal/external clock frequency)已有分離趨勢,而且具備可程式化內外頻的積體電路已經成為下一代產品必要規格。內外頻時脈訊號是由鎖相迴路(Phase Lock Loop, PLL)控制,而時脈訊號同時為切換雜訊(Simultaneous Switching Noise, SSN)之來源,因此可程式化鎖相迴路將是未來Platform-based design中,元件層級電磁相容的研究方向。因此針對可程式化鎖相迴路軟硬體設計對於電磁干擾所造成的影響加以研究。依據IEC61967-2規範以TEM-CELL分析測量微控器的電磁干擾頻譜,並利用程式控制鎖相迴路行為,比較相同功能程式但不同鎖相迴路程式設定時,對於電磁干擾所造成的影響,並分析不同比例的變頻PLL,來預估其EMI行為。
Technology and market trends leads to smaller feature sizes and demands much more functions in one product which causes higher system clock frequencies and more transistors in one die. As the system with more functions goes faster and smaller, the simultaneous switching noise (SSN) caused by IC components is not negligible. Electromagnetic compatibility (EMC) problems of these systems are inevitably got more interested. Phase-Locked Loop (PLL) is a critical component controlling the electromagnetic interference (EMI) behavior of a microcontroller. This paper discusses the transient EMI effect modeling of a programmable PLL. The international electrotechnical commission (IEC) 61967-2 measurement standard is followed to measure the EMI of a microcontroller by TEM-CELL, and analysis the different ratio of switch PLL to estimate the EMI behavior
第1章 前言 1
第1節 研究動機 1
第2節 研究方法 2
第3節 論文架構 2
第2章 研究背景與基礎理論 4
第1節 積體電路EMC 量測規範 4
第2節 程式與電磁相容之影響 6
第1項 程式碼的產生 6
第2項 不同指令的電磁干擾影響 8
第3節 可程式化PLL簡介 11
第3章 研究方法及成果 14
第1節 電路設計 14
第2節 量測研究 16
第1項 量測規範設計 16
第2項 資料取得方式 18
第3項 量測設備描述 20
第3節 PLL程式設計 21
第1項 PIC24HJ12GP202 21
第2項 A3P250PQG208 25
第4節 PLL變頻估測 27
第1項 實驗數據 27
第2項 PLL切換EMI估測 29
第4章 研究結果分析 31
第1節 不同環境測量結果比較 31
第2節 不同PLL設定結果比較 33
第1項 A.PIC24HJ12GP202 33
第2項 B.A3P250PQG208 35
第3節 PLL變頻EMI估測 36
第5章 結論與未來展望 41
第6章 參考文獻 42
[1]Martin O’Hara, “The EMC Impact of Embedded Software,” Conformity, Sep. 2007.
[2]S. Y. Yuan, C. F. Yang, E. Sicard, C. K. Chen, S. S. Liao, “EMI Prediction Under Different Program Behavior,” 2007 IEEE EMC Symposium, Honolulu, USA, July. 2007.
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[8]IEC 61967-1. Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 1: General conditions and definitions (IEC 61967-1:2002)
[9]IEC 61967-2. Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 2: Measurement of radiated emissions - TEM cell and wideband TEM cell method (IEC 61967-2:2005)
[10]IEC 61967-4. Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 Ω/150 Ω direct coupling method (IEC 61967-4:2002 + A1:2006)
[11]Microchip. http://www.microchip.com/
[12]Actel. http://www.actel.com/
[13]IEC. http://www.iec.ch/
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[16]MPLAB IDE User''s Guide. http://ww1.microchip.com/downloads/cn/DeviceDoc/cn021943.pdf.
[17]Libero IDE User''s Guide. http://www.actel.com/documents/libero_ug.pdf
[18]R. E. Best, “Phase-Locked Loops- Theory, Design and Applications,” 2nd Edition, 1993.
[19]Spectrum Analyzer. Agilent N1996A. http://www.home.agilent.com/agilent/product.jspx?nid=-536902952.709577.00&cc=TW&lc=cht
[20]Spectrum Analyzer. Agilent E7405A. http://www.home.agilent.com/agilent/product.jspx?nid=-536902958.536880469.00&cc=US&lc=eng
QRCODE
 
 
 
 
 
                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                               
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