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研究生:李君毅
研究生(外文):Chun-Yi Li
論文名稱:面板邊緣缺陷檢查機BurrChecker設備系統設計與開發
論文名稱(外文):Design and Development of TFT-LCD Burr Checker Automation System
指導教授:卓明遠
指導教授(外文):Ming-Ynan Cho
學位類別:碩士
校院名稱:國立高雄應用科技大學
系所名稱:電機工程系
學門:工程學門
學類:電資工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2009
畢業學年度:97
語文別:中文
中文關鍵詞:可程式控制器自動化薄膜電晶體液晶顯示器
外文關鍵詞:Programmable Logic ControllerAutomationThin-Film Transistor -Liquid Crystal Display
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本論文目的在於應用可程式控制器,機電整合影像處理與配電技術開發TFT-Cell-BEOL段製程中,面板邊緣缺陷檢查機Burr Checker設備。論文首先設計與規劃面板邊緣缺陷檢查機 Burr Checker設備軟硬體與機構架構,其包含電力系統設計、線性掃描影像檢測系統、PLC程式設計、檢查機運動控制等項目之設計與研製。完成後的面板邊緣缺陷檢查機Burr Checker雛形進行機台測試與運轉、其包含機台驅動器控制參數校調、機台功能測試以及機台整體參數設定等。經測試與調整機台可順利運轉並上線加入生產,故可驗證所提及設計方法之實用性。
The purpose of this thesis is to apply programmable logic controller, mechanical and electrical integration, image process, and electric wiring technology to develop glass substrate edge flaw inspection machine burr checker equipment in TFT-Cell-BEOL manufacturing process. The thesis first designs and plans glass substrate edge flaw inspection machine burr checker system software hardware and machinery construction, which contains both design and development of electrical power system design、line-scan system、PLC program design , and burr checker movement control. Machine testing and operation which contains control parameters adjustment of machine driver, machine functions testing and entire machine parameters setting after finishing glass substrate edge flaw inspection machine burr checker equipment prototype. The tested and tuned machine may smoothly operate and the practicality and effectiveness of proposed design method can be justified
中文摘要 -------------------------------------------------------------------------I

英文摘要 -------------------------------------------------------------------------II

誌 謝 -----------------------------------------------------------------------------III

目 錄 ----------------------------------------------------------------------------IV

圖目錄 --------------------------------------------------------------------------VI

表目錄 --------------------------------------------------------------------------VIII

第一章 緒論----------------------------------------------------------------1
1.1 研究背景與動機----------------------------------------------------- 1
1.2 文獻回顧-------------------------------------------------------------- 2
1.3 論文架構-------------------------------------------------------------- 5
第二章 Burr Checker設備設計開發流程-----------------------------6
2.1 Burr Checker設備設計--------------------------------------------- 6
2.2 Burr Checker在面板自動化生產設備研發製程角色--------- 8
2.3 Burr Checker 設備電力系統設計-------------------------------- 11
2.4 線性掃描(Line-scan)影像檢測系統------------------------------27
2.5 線掃描攝影機(Line-scan Camera) -----------------------------30
2.6 設備影像控制系統設計----------------------------------------------38
第三章 Burr Checker程式設計-----------------------------------------45
3.1 PLC Base控制器硬體架構-----------------------------------------45
3.2 Burr Checker程式方塊整體架構-----------------------------------48
3.2.1 Burr Checker PLC-based程式(復歸)方塊圖------------------50
3.2.2 Burr Checker PLC-based程式手動模式方塊圖-------------52
3.2.3 PLC Base自動流程、程式方塊圖------------------------------53
3.2.4 PLC Base警報監控模式、程式方塊圖------------------------57
3.3 參數畫面相關設置、各單元的調整--------------------------------59
3.3.1 單元一:上游取片調整設定、位置設定和虛擬教點-------- 60
3.3.2 單元二:入料產品Z軸放置、承接設定----------------------- 65
3.3.3 單元三:定位單元的設置,X軸Y軸Z軸--------------------------66
3.3.4 單元四:影像單元,X軸、R軸、Y1軸Y2軸的參數調整---69
3.3.5 單元五:移載單元,X軸、Y軸、Z軸的參數調整------------72
3.3.6 單元六:出料單元,X軸、Y軸的參數調整--------------------73
第四章 Burr Checker設備測試-------------------------------------------74
4.1 Burr Checker檢查測試---------------------------------------------74
4.2 Burr Checker動作流程測試--------------------------------------- 75
4.3 Burr Checke設備調機驅動器設定------------------------------ 79
4.2.1 電子齒輪比的計算方式-------------------------------------------- 84
4.3.2 手動伺服參數設定-------------------------------------------------- 85
4.3.3 伺服解析度設定----------------------------------------------------- 87
4.4 伺服系統裝配時可能的問題---------------------------------------89
第五章 結論與未來研究展望--------------------------------------------90
5.1 結論---------------------------------------------------------------------90
5.2 未來研究展--------------------------------------------------------------91
參考文獻 ---------------------------------------------------------------------92
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