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研究生:沈國勝
研究生(外文):SHEN, KUO-SHENG
論文名稱:應用六標準差手法改善TFT-LCD終驗站漏檢率-以H公司為例
論文名稱(外文):An application of six sigma to improve the final inspection of TFT-LCD production –A case study of H company
指導教授:李祥林李祥林引用關係
指導教授(外文):Shyanglin Lee
學位類別:碩士
校院名稱:國立屏東科技大學
系所名稱:工業管理系所
學門:商業及管理學門
學類:其他商業及管理學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2009
畢業學年度:97
語文別:中文
論文頁數:86
中文關鍵詞:Gauge R&Gauge R&Gauge R&Gauge R&Gauge R&Gauge R&Gauge R&
外文關鍵詞:Gauge R&ampRSix SigmaTFT-LCDDOEDMAIC
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TFT-LCD是平面顯示器產業中的主力,亦是一高資本密集,高成本壓力的投資,一個廠的投資動輒百億以上,因此,各段製程技術良率就成為公司營運好壞之關鍵因素,而LCD製程越趨複雜,發生瑕疵的機率也隨之增加,所以有效降低不良率固然是核心技術,但相對的如何檢出瑕疵也是相當關鍵的一環。
本文以六標準差之流程管理步驟-DMAIC,針對H公司現有流程中TFT-LCD Cell 終驗站畫質漏檢率進行改善,以期節省因漏檢不良品至Module端組裝之人工及材料成本,首先找出客戶端在意的關鍵品質,接著運用Gauge R&;R求得量測數據之可靠性,並且使用1P、ANOVA等相關檢定歸納出影響漏檢率之顯著因子如檢驗員身高、檢驗員看片距離等7項,再配合實驗設計(Design of Experiments,DOE)及相關統計工具應用找出最適參數組合及改善對策,改善執行後,獲得相當大之效益,漏檢率改善幅度達2.3%,每年可為公司節省成本1千萬元台幣以上。

TFT-LCD is one of the major products in the display industry. It is capital intensive and relatively high technology oriented. An LCD plant of any generation would cost more than ten billion TWD. Therefore , the yield rate would heavily dominate and decide a winner in TFT-LCD industry. In conjunction with complex LCD manufacturing processes, the chance of having higher defective rate can be foreseen. Thus, how to decrease defective rate becomes the key issue to maintain the competitive edge in LCD industry .

This thesis uses the DMAIC process of Six-Sigma for H company to efficiently enhance and improve Omission Factor of final inspection in TFT-LCD production. This research first studies the important criteria of customer specifications and requirements. Then the auther uses Gauge R&R to evaluate the reliability of measurement. Furthermore , 1P and ANOVA conclude those factors which can significantly affect Omission Factor, such as the height of QA inspector or visual observation distance, etc. For defining the specific process to be improved, design of experiments (DOE) consolidates causes A breakthrough results of annual cost saving of eleven million on material and labor waste in the final inspection is achieved.

摘 要 I
謝 誌 IV
目 錄 V
圖目錄 VIII
表目錄 X
1. 緒論 1
1.1 研究背景及動機 1
1.2 TFT-LCD製程簡介 6
1.3 研究目的 9
1.4 研究範圍與限制 13
1.5 研究流程 14
2. 文獻探討 16
2.1 六標準差源起與定義 16
2.1.1 六標準差源起 16
2.1.2 六標準差定義 16
2.2 六標準差流程及工具應用 21
2.3 六標準差人員培訓及組織架構 23
2.4 六標準差應用 25
3. 研究方法 34
3.1 定義 35
3.2 量測 37
3.2.1量測系統能力(定量型) 37
3.2.2量測系統能力(定性型) 38
3.2.3 尋找變異來源(要因搜集) 39
3.3 分析 41
3.4 改善 42
3.4.1 DOE實驗 42
3.4.2 NON-DOE分析 43
3.5 控制 43
4. 個案研究 45
4.1定義階段 45
4.1.1 客戶的聲音 45
4.1.2 問題描述 46
4.1.3 指標定訂 48
4.2量測階段 49
4.2.1 流程說明 49
4.2.2 漏檢要因收集 51
4.2.3 量具檢定 53
4.3 分析階段 55
4.3.1 顯著因子確認 56
4.4改善階段 68
4.4.1實驗設計 68
4.4.2 實驗設計檢定結果說明 69
4.4.2 Non-DOE Issue改善 72
4.4.3改善驗證 74
4.5 控制階段 75
5. 結論與後續建議 77
5.1 結論 77
5.2後續建議 80
參考文獻 81
作者簡介 86


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