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研究生:楊旭芬
研究生(外文):Yang, Shiu-Fen
論文名稱:大量品質資料事後分析系統之建構-以石英頻率元件製造為例
論文名稱(外文):Construct Bulk data analysis system for quality–Using Quartz Resonator Manufacturing as Illustration
指導教授:何正斌何正斌引用關係
指導教授(外文):Ho, Cheng-Pin
學位類別:碩士
校院名稱:國立屏東科技大學
系所名稱:工業管理系所
學門:商業及管理學門
學類:其他商業及管理學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2009
畢業學年度:97
語文別:中文
論文頁數:56
中文關鍵詞:大量資料及時分析資訊系統石英頻率元件製造
外文關鍵詞:Bulk dataReal Time Information SystemQuartz Resonator Manufacturing
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近年來市場對電子產品的輕薄短小的要求,促使電子元件不斷的縮小尺寸,因此對產品生產時精密度的控制亦隨之增加。而要控制產品精密度,就必須伴隨大量的產品品質量測資訊,且隨量測技術的進步,大量資料需要及時分析的可能性也增加。如何能及時彙整並分析大量品質資訊,成為此類電子產品良率提升的關鍵。本研究以石英頻率元件製造為例子,以Delphi軟體建立一個大量品質資料事後分析系統,可以迅速查詢以日期、產品品目及機台為基礎的多種品質參數,並繪製相關圖表。本系統除可針對單一工作站的資料進行搜尋外,相同工單在多工作站間的品質相關數據也能呈現。因為相關資訊能迅速蒐集及分析,因此對產品精密度的控制也能大幅提升。
The exquisite requirement for the electronic product recently impels that the size of the electronic components decrease. Hence, the degree of precision control of the product increases. The more requests of the exquisite of the product, the more quality data need to analyze. The progress of measurement techniques increases the possibility of analyzes the bulk data. How to analyze the huge amount of quality data quickly becomes the major issue of increasing the yield rate of the products. A quartz resonator manufacturing is used as example in the study. A post analysis system for bulk data using Delphi are constructed in the study. Multiple quality data can be searched in the system by searching date, product name and machines. The related charts can also show in the system. Except for the information at a single workstation can be searched, quality data at different workstations with the same working orders can also be displayed. Hence, by knowing relevant quality data quickly, the precision control of the product increases significantly.
摘要 I
Abstract II
謝誌 III
目錄 IV
圖表索引 VI
第壹章、緒論 1
第一節、研究背景與動機 1
第二節、研究目的 3
第三節、研究範圍與限制 5
第四節、研究流程與步驟 6
第五節、論文架構 8
第貳章、文獻回顧 9
第一節、大量資料分析 9
第二節、統計製程管制 12
第三節、系統建構 16
第四節、統計製程管制與其他觀念結合 17
第參章、系統開發步驟與操作流程分析 20
第一節、大量品質資料分析系統開發步驟 20
第二節、製程簡介 23
第三節、資料儲存現況簡介 27
第四節、流程分析 30
第肆章、系統規劃與建置 32
第一節、系統功能與需求評估 32
第二節、系統建構 38
第三節、系統執行結果比較分析 47
第伍章、結論與建議 50
第一節、結論 50
第二節、建議與未來研究方向 52
參考文獻 53
作者簡介 56


中文部份
江瑞清和陳鄭勇(2000),「整合SPC 與EPC 以建構自我相關性製程之回饋控制系統」,中原大學工業工程研究所碩士論文。
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林昆宏(2003),「非常態分配母體之 與S 管制圖的經濟設計」,國立雲林科技大學工業工程與管理研究所碩士論文。
郭又升(2000),「量測誤差對 -S 管制圖設計參數之影響」,淡江大學統計學系應用統計學碩士論文。
郭瑞祥等人(1997),「結合統計製程管制之非連續批次製程控制-以半導體製程為例」,台灣大學商學研究所碩士論文。
陳佩雯(2004),「應用計數值管制圖於高產出製程之研究」,元智大學工業工程與管理學系碩士論文。
游永傑(2007),「計數值管制圖之探討與資訊系統建立」,國立台灣科技大學工業管理研究所碩士論文。
鄭盛樹(2002),「以歷史數據為基礎提升管制圖偵測平均值變化能力之研究」,元智大學工業工程與管理學系碩士論文。
劉淑範和陳飛龍(2004),「晶圓良率損失資料分群模式之研究」,工業工程學刊第21卷,第四期,328-338頁。
駱景堯和楊宗儒(2000),「SPC 與EPC 整合架構下管制圖之評估與選用」,大葉大學工業工程研究所碩士論文。
蘇詩偉(2002),「大量資料計算基本統計量之一個簡單程序」,國立成功大學統計學研究所碩士論文。

英文部份
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