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臺灣博碩士論文加值系統

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研究生:張正旺
研究生(外文):Cheng-Wang Chang
論文名稱:應用型態技術於液晶顯示器模組檢測ACF粒子之研究
論文名稱(外文):Improve Morphology Method for Automatic Inspection of Anisotropic Conductive Film of LCM Process
指導教授:謝君偉謝君偉引用關係
指導教授(外文):Jun-Wei Hsieh
學位類別:碩士
校院名稱:元智大學
系所名稱:電機工程學系
學門:工程學門
學類:電資工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2009
畢業學年度:97
語文別:中文
論文頁數:33
中文關鍵詞:TFT-LCDACF異方性導電膜灰階型態運算Otsu 演算高斯濾波
外文關鍵詞:TFT-LCDACFMorphology technologyOtsuGaussian filter
相關次數:
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由於液晶顯示器市場在消費性電子產品的應用與需求量日益增加,使得面板廠液晶顯示器模組出貨量增加,各廠對於降低製造成本、提昇產品品質與降低價格等方面的努力,來提高獲利及市占率。在 TFT-LCD製程中,對於LCD面板內 ACF壓合後的檢查,大部份還是依賴人工檢查的方式進行,而檢查時會因人與精神狀態的不同,可能對產品產生不同的判斷標準且人工檢測的方式對於產能、品質的提升有很大的限制。
本篇論文主要研究是應用灰階型態技術於液晶顯示器模組段面板壓合製程上,對 ACF(Anisotropic-conductive film,異方性導電膜)的導電粒子在壓合後檢測是否有足夠 ACF粒子的數量。此研究使用影像處理技術包含:灰階型態運算、遮罩技術、Otsu 演算求最佳閥值二值化、高斯平滑處理、影像相減等。由實驗結果得知,我們的所提的方法可以將面板的 Pad 輪廓特徵找出並計算 Pad 區域內 ACF 粒子的數量是否符合要求。從實驗結果顯示粒子檢測精確度可達 85 % 以上。
Due to the demand of using TFT-LCD in customer product keeps increased by day to day, it causes the shipping quantity increased and each factory put strong effort on quality improvement and cost reduction in order to increase the margin and market share. Manual inspection is the most popular way to perform TFT-LCD process of ACF Bonding inspection at the present time. Due to the different level of mental condition, the workers may have different judgment during the exam process. Because of this, the possibility of increasing in capacity and quality has been limited.
This thesis mainly applies Gray Morphology technology automatic Inspecting on whether the particle amount on IC pad is enough in LCM Process. The main technology include Gray Morphology ,Structure Element Size, Auto threshold by Ostu method , Gaussian filter , Connect component labeling were constructed in this measuring system.The inspection speed on LCD panel could be successfully and the average accuracy of defect recognition is more than 85%.
目錄
摘 要 I
ABSTRACT II
誌 謝 III
目錄 IV
表目錄 VI
圖目錄 VII
第一章 緒論 1
1.1 研究背景 1
1.2 研究動機 1
1.3 文獻回顧 2
1.4 論文架構 3
第二章 相關技術探討 4
2.1 液晶顯示器IC 封裝技術介紹 4
2.1.1捲帶式基板封裝(TCP) 5
2.1.2薄膜覆晶封裝(COF) 5
2.1.3玻璃覆晶(COG) 6
2.2 異方性導電膜及導電原理介紹 7
2.3 研究理論--型態學運算 8
2.3.1侵蝕(Erosion) 9
2.3.2擴張(Dilation) 9
2.3.3開運算(Opening) 10
2.3.4閉運算(Closing) 10
2.4 二值化(BINARIZATION) 11
2.5 CONNECTED-COMPONENT 11
第三章 研究方法 14
3.1 方法簡介 14
3.2 影像取像工具 14
3.3影像前處理--灰階化 15
3.3.1灰階型態運算 16
3.3.2投影(projection)量計算 21
3.3.3自動閥值二值化 22
3.3.4 Connected-Component 24
3.4 粒子偵測 25
3.4.1 高斯濾波 25
3.4.2影像相減(Image subtraction) 26
3.4.3 Blob分析 27
第四章 實驗結果 28
4.1實驗結果 28
4.2 影像比對 28
4.3 粒子判別 30
第五章 結論 33
參考文獻. 34
[1]Chern-Sheng Lin, Kuo-Hon Huang, Yun-Long Lay, Kuo-Chun Wu, Yieng-Chiang Wu, Yieng-Chiang Wu and Jim-Min Lin “An improved pattern match method with flexible maskfor automatic inspection in the LCD manufacturing process”, Expert Systems with Applications p.p 3234–3239,2009
[2]S. R. Sternberg, “Grayscale morphology”, Comput. Vision, Graphics, Image Processing vol. 35, pp.333-355, 1986
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[4]鍾國亮,”影像處理與電腦視覺”
[5]繆紹網 ”數位影像處理—運用Matlab”, 東華書局
[6]繆紹網 ”數位影像處理第二版”, 培生教育出版集團
[7]蔡培林,中央大學,”LCD 彩色濾光片的瑕疵擷取與分類”,2008
[8]黃國紘,逢甲大學,”應用於LCD 製程ACF 檢測之改良型樣板比對之研究”,2007
[9]施文勝,逢甲大學,”運用六標準差手法於液晶顯示器模組COG製程改善之研究”,2006
[10]張頌榮,成功大學,”TFT-LCD 面板之點線瑕疵自動化檢測系統”,2005
[11]呂明憲,成功大學,”ACF非線性材料特性於金凸塊壓合製程中力學分析”,2005
[12]王俊仁,成功大學,”金/錫或Au/ACF結合影像感測器有限元素力學分析法之研究”,2004
[13]王彥棋,中央大學,”以邊為基礎之衛星影像中的車輛偵測”,2004
[14]饒瑞年,”異方性導電膜應用於COG製程之分析”,1999。.
[15]光電科技工業協進會,“2009台灣平面顯示器展(參展介紹)”
[16]HKC,液晶顯示器模組構裝技術,2005
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