臺灣博碩士論文加值系統

台灣的半導體產業發展已趨成熟，並且克服了上下游及產業間困難的溝通問題，淬煉出在全球半導體產業獨樹一格的垂直分工經營模式，屬供應鏈後段的IC測試產業不論在代工能力或產值規模上在全球皆排名首位，其它半導體各業別亦居於全球關鍵地位，如晶圓代工及封裝業。然而對於全球市場環境的迅速變化與價格及品質的高度競爭，測試業必須面對成本控制與生產效率改善的壓力。
由於科技技術不斷地推陳出新，產品生命週期亦愈來愈短，客戶除了測試價格的競爭因素外，對產品製程及產能調配的彈性、即時的生產系統資訊回報與準確的訂單交期掌控能力更為重視，而「工廠營運管制系統」（MES）的系統化環境導入可為企業帶來降低生產週期時間、增強準時交貨能力及改善產品品質等相關效益，本研究即是在MES下的設備控管的系統架構下（EMS）進行相關的研究及驗證，提出效率改的具體目標計畫。
本研究在影響測試生產效率的各因素中，針對Handler DUT Off Rate與樣品比對桯序二項影響因素進行系統化流程管理及自動化生產管理的效率提升研究，藉由系統程式的確實控管可有效節省人力操作、降低作業異常發生並提高生產效率，進而降低生產成本、精進企業之競爭力。

The development of Taiwan''s semiconductor industry has been becoming matured and overcomed communication problems between upstream and downstream industry, grown up a unique style and vertical division work business model in the global semiconductor industry. IC testing which belongs to downstream part of this supply chain is ranked first in the world no matter in OEM capacity or output scale, and for other parts of supply chain are also playing a key role in the world, such as Wafer foundry and IC assembly. However, for the rapidly changing in global market environment, a highly competition on price and quality, IC testing house have to face the pressure of cost control and productivity efficiency improvement.
As technology continuously bring the news, the life cycle of products are getting shorter and shorter, in addition to price concern, customer more value in production flexibility, real-time production data return of system and accurate delivery control ability. “Manufacturing Execution System”(MES), implementation of this systematized environment expects to bring the following benefits for firms, lower production cycle time, enhance accurate delivery ability and improve product quality. This study is processed in the framework of “Equipment Management System”(EMS) which is under MES environment to verify and provide the specific improvement plan.
For many factors that impact to testing production efficiency in this study, here to focus on Handler DUT Off Rate and correlation run procedure two factors to study the systematized process management and efficiency enhancement of automation production management. By system program controlling, it can save human resource effectively, reduce abnormal operation occurring and increase production efficiency, thus reducing production costs, streamlining business to get better competitive.

誌謝…………………………………………………………………… i
摘要…………………………………………………………………… ii
Abstract ……………………………………………………………… iii
目錄…………………………………………………………………… iv
圖目錄………………………………………………………………… vi
表目錄………………………………………………………………… vii
第一章 緒論 ………………………………………………………… 1
1-1 研究背景與動機…………………………………………… 1
1-2 研究目的 …………………………………………………… 4
1-3 研究範圍與限制…………………………………………… 5
1-4 研究流程…………………………………………………… 7
第二章 文獻探討 …………………………………………………… 9
2-1 半導體最終測試流程概述………………………………… 9
2-2 半導體測試設備簡介及效率損失研究…………………… 11
2-3 半導體測試廠系統自動化概述…………………………… 16
第三章 研究設計及方法……………………………………………… 21
3-1 研究架構…………………………………………………… 21
3-2 測試生產效率影響因素分析……………………………… 21
3-3 自動化測試生產效率的影響分析………………………… 22
3-4 Handler DUT Off Rate效率因素分析…………………… 27
3-5 測試前樣品比對程序效率因素分析……………………… 34
3-6本研究系統化環境概述…………………………………… 36
第四章 測試生產效率改善研究及驗證分析………………………… 38
4-1 Auto DUT Off控管規則－平均值的運用………………… 38
4-2 Auto DUT Off控管規則－標準差的運用………………… 39
4-3 Auto DUT Off控管規則的綜合驗證分析………………… 42
4-4 系統化樣品比對程序管理研究驗證分析………………… 45
4-5 研究驗證分析結果………………………………………… 49
第五章 結論與建議 ………………………………………………… 50
5-1 研究結論…………………………………………………… 50
5-2 研究建議…………………………………………………… 50
參考文獻……………………………………………………………… 52
網站資料………………………………………………………… 52
中文文獻………………………………………………………… 52
英文文獻………………………………………………………… 54

一、網站資料
1.全球半導體50指數
http://www.semi50.com/NEW/01.asp
2.IEK產業情報網
http://ieknet.itri.org.tw/index.jsp
3.經濟部工業局半導體產業推動辦公室
http://proj.moeaidb.gov.tw/sipo/
4.維基百科
http://zh.wikipedia.org/zh-hk

二、中文文獻
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三、英文文獻
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