|
[1] H. Y. Tuan, D. C. Lee, T. Hanrath, B. A. Korgel, Chem. Mater., 2005, 17, 5705-5711. [2] Y.-W. Jun, J.-S. Choi, J. Cheon, Angew. Chem. Int. Ed., 2006, 45, 3414 – 3439. [3] S. Iijjima, Nature, 1991, 354, 56. [4] Y. Cui, Q. Wei, H. Park, C. M. Lieber, Science, 2001, 293, 1289. [5] L. J. Lauhon, M. S. Gudiksen, D. Wang, C. M. Lieber, Nature, 2002, 420, 57. [6] D. Wang, Pure Appl. Chem., 2007, 79, 55–65. [7] Y.-K. Choi, J. Zhu, J. Grunes, J. Bokor, G. A. Somorjai, J. Phys. Chem. B 2003, 107, 3340. [8] R. S. Wanger, W. C. Ellis, Appl. Phys. Lett., 1964, 4 , 89. [9] Y. Wu, P. Yang, J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 3165-3166. [10] Y. Cui, L. J. Lauhon, M. S. Gudiksen, J. F. Wang, C. M. Lieber, Appl. Phys. Lett., 2001, 78, 2214. [11] R. L. Penn, J. F. Banfield, Geochim. Cosmochim. Acta, 1999, 63, [12] J. Westwater, D. P. Gosain, S. Tomiya, S. Usui, J. Vac. Sci. Technol. B , 1997, 15(3), 554. [13] D. Wang, R. Tu, L. Zhang, H. Dai, Angew. Chem. Int. Ed., 2005, 44, 2925 –2929. [14] A. M. Morales, C. M. Lieber, Science, 1998, 279, 208. [15] Y. Wu, P. Yang, Chem. Mater., 2000, 12, 605-607 [16] G. Gu, M. Burghard, G. T. Kim, G. S. Du ¨sberg, P. W. Chiu, V. Krstic, S. Roth, J. Appl. Phys., 2001, 90, 5747.
[17] N. Wang, Y. H. Tang, Y. F. Zhang, C. S. Lee, S. T. Lee, Phys. Rev. B, 1998, 58, [18] R.-Q. Zhang, Y. Lifshitz, S.-T. Lee, Adv. Mater., 2003, 15, 635. [19] K.-K. Lew, J. M. Redwing, J. Cryst. Growth, 2003, 254, 14–22 [20] J. R. Heath, F. K. LeGoues, Chem. Phys. Lett., 1993, 208, 263. [21] B. Wen, Y. Huang, J. J. Boland, J. Mater. Chem., 2008, 18, 2011–2015. [22] T. J. Trentler, K. M. Hickman, S. C. Goel, A. M. Viano, P. C. Gibbons, W. E. Buhro, Science, 1995 , 270, 1791. [23] H. Yu, J. Li, R. A. Loomis, P. C. Gibbons, L.-W. Wang, W. E. Buhro, J. Am. Chem. Soc., 2003, 125, 16168-16169 [24] K.-T. Yong, Y. Sahoo, K. R. Choudhury, M. T. Swihart, Chem. Mater., 2006, 18, 5965-5972. [25] X. Lu, D. D. Fanfair, K. P. Johnston, B. A. Korgel, J. Am. Chem. Soc., 2005, 127, 15718-5719. [26] A. T. Heitsch, D. D. Fanfair, H.-Y. Tuan, B. A. Korgel, J. Am. Chem. Soc., 2008, 130, 5436-5437. [27] J. D. Holmes, K. P. Johnston, R. C. Doty, B. A. Korgel, Science, 2000, 287, 1471. [28]T. Hanrath, B. A. Korgel, Adv. Mater., 2003, 15, 437. [29] T. Hanrath, B. A. Korgel, J. Am. Chem. Soc., 2002, 124, 1424. [30] F. M. Davidson, III, R. Wiacek, B. A. Korgel, Chem. Mater., 2005, 17, 230–233. [31] M. Law, L. E. Greene, J. C. Johnson, R. Saykally, P. Yang, Nature materials, 2005, 4, 455.
[32] R. Andrews, D. Jacques, A.M. Rao, F. Derbyshire, D. Qian , X. Fan, E.C. Dickey , J. Chen. Chemical Physics Letters, 1999, 303, 467–474 [33] Q. Liu, W. Ren, Z.-G. Chen, D.-W. Wang, B. Liu, B. Yu, F. Li, H. Cong, H.-M. Cheng, ACS NANO, 2008, 8, 1722. [34] T. R. Hogness, T. L. Wilson, and W. C. Johnson, J. Am. Chem. Soc., 1936, 58, 108. [35] D.-J. Peng , Y.-Y. Chang , H.-C. Wu ,C.-C. Tsaur, J.-R. Chen Engineering Failure Analysis, 2008, 15, 275–280. [36] A. I. Hochbaum, R. Fan, R. He, P. Yang, Nano Lett. 2005, 5, 457. [37] S. P. Walch, C. E. Dateo, J. Phys. Chem. A 2001, 105, 2015. [38] E. C. Garnett, W. Liang, P. Yang, Adv. Mater. 2007, 19, 2946. [39] V. A. Nebol’sin, A. A. Shchetinin, A. A. Dolgachev, V. V. Korneeva, Inorg. Mater. 2005, 41, 1256. [40] B. M. Kayes, M. A. Filler, M. C. Putnam, M. D. Kelzenberg, N. S. Lewis, H. A. Atwater, Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 103110. [41] J.-R. Chen, H.-Y. Tsai, S.-K. Chen, H.-R. Pan, S.-C. Hu, C.-C. Shen, C.-M. Kuan, Y.-C. Lee, C.-C. Wu, Process Safety Progress, 2006, 25, 237. [42] V. Schmidt, J. V. Wittemann, U. Go ¨sele, Chem. Rev. 2010, 110, 361–388. [43] H. J. Boer, Solid State Technology, 1996, 149. [44] M. Brust, M. Walker, D. Bethell, D. J. Schiffrin, R. Whyman, J. Chem. Soc. Chem. Commun., 1994, 801. [45] M.-C. Daniel, D. Astruc, Chem. Rev., 2004, 104, 293−346. [46] O. H. Johnson, D. M. Harris, J. Am. Chem. Soc., 1950, 72, 5564. [47] W. H.Nebergall, J. Am. Chem. Soc. 1950, 72 , 4702–4704. [48] M. Wautelet, J. P. Dauchot, M. Hecq, Nanotechnology, 2000, 11, 6-9. [49] H. D. Parka, A.-C. Gaillot, S.M. Prokes, R. C. Cammarata, J. Cryst. Growth, 2006, 296, 159–164. [50] F. Glockling, K. A. Hooton, J. Chem. Soc., 1963, 1849 – 1854. [51] T. Hanrath, B. A. Korgel, J. Am. Chem. Soc., 2002, 124, 1424. [52] H. Gilman, D. H. Miles, J. Org. Chem., 1958, 23, 326–328. [53] H. Z. Zhang,; D. P. Yu,; Y. Ding,; Z. G. Bai,; Q. L. Hang,; S. Q. Feng, Appl. Phys. Lett. 1998, 73, 3396-3398. [54] J. Johansson,; C. P. T. Svensson,; T. Martensson,; L. Samuelson,; W. Seifert J. Phys. Chem. B 2005, 109, 13567-13571. [55] J. L. , Jr. Speier,; R. E. Zimmerman, J. Am. Chem. Soc. 1955, 77, 6395–6396. [56] G. A. Russell, J. Am. Chem. Soc. 1959, 81, 4815–4825. [57] R. W. Coutant,; A. Levy, Aerospace Research Laboratories 1969, 69, 0213. [58] H.-Y. Tuan, D. C. Lee and B. A. Korgel, Angew. Chem. Intl. Ed.,2006, 31, 5184–5187. [59] T. Meng, Thin Solid Films, 1993, 223, 201-211. [60] K.-K. Lew,; J. M. Redwing, Journal of Crystal Growth 2003, 254, 14–22. [61] R.W. Coutant, A. Levy, U.S. Clearinghouse Fed. Sci. Tech.Inform. , 1969. [62] S.-L. Zhang, W. Ding, Y. Yan, J. Qu, B. Li, L.-Y. Li, K. T. Yue, D. Yu, Appl. Phys. Lett., 2002, 81, 4446. [63] S. Piscanec, M. Cantoro, A. C. Ferrari, J. A. Zapien, Y. Lifshitz, S. T. Lee,S. Hofmann, J. Robertson, Physical Review B 2003, 68, 241312.
|