|
1.S. Chattopadhyay, A. Ganguly, K. H. Chen, L. C. Chen, Crit. Rev. Solid State 34, 224 (2009) 2.C. Thelander, P. Agarwal, S. Brongersma, J. Eymery, L. F. Feiner, A. Forchel, M. Scheffler, W. Riess, B. J. Ohlsson, U. Gosele and L. Samuelson, Mater. Today 9, 28 (2006) 3.P. J. Pauzauskie and P. Yang, Mater. Today 9, 36 (2006) 4.R. S. Chen, H. Y. Chen, C. Y. Lu, K. H. Chen, C. P. Chen, L. C. Chen, Y. J. Yang, Appl. Phys. Lett. 91, 223106 (2007). 5.T. Kuykendall, P. Pauzauskie, S. Lee, Y. Zhang, J. Goldberger, P. Yang, Nano Lett. 3, 1063 (2003). 6.E. Stern, G. Cheng, E. Cimpoiasu, R. Klie, S. Guthrie, J. Klemic, I. Kretzschmar, E. Steinlauf, D. Turner-Evans, E. Broomfield, J. Hyland, R. Koudelka, T. Boone, M. Young, A. Sanders, R. Munden, T. Lee, D. Routenberg, M. A. Reed, Nanotechnology 16, 2941 (2005). 7.Y. Li, F. Qian, J. Xiang, C. M. Lieber, Mater. Today 9, 18 (2006). 8.Y. Xia, P. Yang, Y. Sun, Y. Wu, B. Mayers, B. Gates, Y. Yin, F. Kim, H. Yan, Adv. Mater. 15, 353 (2003). 9.P. Deb, H. Kim, Y. Qin, R. Lahiji, M. Oliver, R. Reifenberger, T. Sands, Nano Lett. 6, 2893 (2006). 10.S. Y. Lee, T. H. Kim, D. I. Suh, E. K. Suh, N. K. Cho, W. K. Seong, S. K. Lee, Appl. Phys. A 87, 739 (2007). 11.G. Cheng, A. Kolmakov, Y. Zhang, M. Moskovits, R.Munden, M. A. Reed, G. Wang, D. Moses, J. Zhang, Appl. Phys. Lett. 83, 1578 (2003). 12.Y. Huang, X. Duan, Y. Cui, C. M. Lieber, Nano Lett. 2, 101 (2002). 13.Y. Li, J. Xiang, F. Qian, S. Gradecak, Y. Wu, H. Yan, D. A. Blom, C. M. Lieber, Nano Lett. 6, 1468 (2006). 14.F. Qian, S. Gradecak, Y. Li, C. Y. Wen, C. M. Lieber, Nano Lett. 5, 2287 (2005). 15.M. S. Son, S. I. Im, Y. S. Park, C. M. Park, T. W. Kang, K. H. Yoo, Mater. Sci. Eng. C 26, 886 (2006). 16.R. H. Bube, Photoconductivity of Solids, Wiley, New York (1960). 17.A. Rose, Concepts in Photoconductivity and Allied Problems, Interscience Publishers, New York (1963). 18.R. H. Bube, Photoelectronic Properties of Semiconductors, Cambridge University Press, Cambridge, New York (1992). 19.T. Takahashi, K. Takada, and M. Takeuchi, Ultramicroscopy 97, 1 (2003). 20.D. Cooke, Z. Wu, X. Mei, J. Liu, H. E. Ruda, K. L. Kavanagh, and F. A. Hegmann, American Physical Society, March Meeting 2004, Palais des Congres de Montreal, Montreal, Quebec, Canada (2004). 21.D. G. Cooke, F. A. Hegmann, I. M. Yu, M. W. Zh, W. Black, H. Wen, G. J. Salamo, T. D. Mishima, G. D. Lian, and M. B. Johnson, J. Appl. Phys. 103, 023710 (2008). 22.J. F. Wang, M. S. Gudiksen, X. F. Duan, Y. Cui, and C. M. Lieber, Science 293, 1455 (2001). 23.V. J. Logeeswaran, A. Sarkar, M. S. Islam, N. P. Kobayashi, J. Straznicky, X. Li, W. Wu, S. Mathai, M. R. T. Tan, S. Y. Wang, and R. S. Williams, Applied Physics a-Materials Science & Processing 91, 1 (2008). 24.M. Kang, J. S. Lee, S. K. Sim, H. Kim, B. Min, K. Cho, G. T. Kim, M. Y. Sung, S. Kim, and H. S. Han, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 43, 6868 (2004). 25.R. Calarco, M. Marso, T. Richter, A. I. Aykanat, R. Meijers, A. V. Hart, T. Stoica, and H. Luth, Nano Lett. 5, 981 (2005). 26.N. Kouklin, L. Menon, A. Z. Wong, D. W. Thompson, J. A. Woollam, P. F .Williams, and S. Bandyopadhyay , Appl. Phys. Lett. 79, 4423 (2001). 27.Q. G. Li and R. M. Penner , Nano Lett. 5, 1720 (2005). 28.T. Gao, Q. H. Li, and T. H. Wang, Appl. Phys. Lett. 86, 173105 (2005). 29.Y. Gu and L. J. Lauhon, Appl. Phys. Lett. 89 (2006). 30.Q. H. Li, T. Gao, and T. H. Wang, Appl. Phys. Lett. 86, 193109 (2005). 31.Y. Gu, J. P. Romankiewicz, J. K. David, J. L. Lensch, and L. J. Lauhon, Nano Lett. 6, 948 (2006). 32.Y. Gu, J. P. Romankiewicz, J. K. David, J. L. Lensch, L. J. Lauhon, E. S. Kwak, and T. W. Odom, J. Vac. Sci. Technol., B 24, 2172 (2006). 33.R. H. Zhou, H. C. Chang, V. Protasenko, M. Kuno, A. K. Singh, D. Jena, and H. Xing, J. Appl. Phys. 101, 073704 (2007). 34.A. Singh, X. Li, V. Protasenko, G. Galantai, M. Kuno, H. Xing, and D. Jena, Nano Lett. 7, 2999 (2007). 35.Y. H. Yu, V. Protasenko, D. Jena, H. L. Xing, and M. Kuno, Nano Lett. 8, 1352 (2008). 36.J. Salfi, U. Philipose, C. F. de Sousa, S. Aouba, and H. E. Ruda, Appl. Phys. Lett. 89, 261112 (2006). 37.U. Philipose, H. E. Ruda, A. Shik, C. F. de Souza, and P. Sun, J. Appl. Phys. 99, 066106 (2006). 38.Z. Y. Fan, P. C. Chang, J. G. Lu, E. C. Walter, R. M. Penner, C. H. Lin, and H. P. Lee, Appl. Phys. Lett. 85, 6128 (2004). 39.J. G. Lu, Z. Fan, D. Wang, and P.-C. Chang, Proceedings of SPIE-The International Society for Optical Engineering 5648,260 (2005). 40.K. Keem, J. Kang, D. Y. Jeong, B. Min, K. Cho, H. Kim, S. Kim, and Y. K. Kim, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 46, 4355 (2007). 41. S. H. Lee, H. J. Lee, D. Oh, S. W. Lee, H. Goto, R. Buckmaster , T.Yasukawa, T. Matsue, S. K. Hong, H. Ko, M. W. Cho, and T. F. Yao, J. Phys. Chem. B 110, 3856 (2006). 42.H. Kind, H. Q. Yan, B. Messer, M. Law, and P. D. Yang, Adv. Mater. 14, 158 (2002). 43.Y. W. Heo, B. S. Kang, L. C. Tien, D. P. Norton, F. Ren, J. R. La Roche, and S. J. Pearton, Applied Physics a-Materials Science & Processing 80, 497 (2005). 44.C. Soci, A. Zhang, B. Xiang, S. A. Dayeh, D. P. R. Aplin, J. Park, X. Y. Bao, Y. H. Lo, and D. Wang, Nano Lett. 7, 1003 (2007). 45.Q. H. Li, T. Gao, Y. G. Wang, and T. H. Wang, Appl. Phys. Lett. 86, 123117 (2005). 46.Q. H. Li, Q. Wan, Y. X. Liang, and T. H. Wang, Appl. Phys. Lett. 84, 4556 (2004). 47.Q. H. Li, Y. X. Liang, Q. Wan, and T. H. Wang, Appl. Phys. Lett. 85, 6389 (2004). 48.H. Kind, H. Yan, B. Messer, M. Law, and P. Yang, Adv. Mater. (Weinheim, Germany) 14, 158 (2002). 49.S. Kumar, V. Gupta, and K. Sreeni vas, Nanotechnology 16, 1167(2005). 50.J. B. K. Law and J. T. L. Thong, Appl. Phys. Lett. 88, 133114 (2006). 51.S.-E. Ahn, H. J. Ji, K. Kim, G. T. Kim, C. H. Bae, S. M. Park, Y.-K. Kim, and J. S. Ha, Appl. Phys. Lett. 90, 153106 (2007). 52.J. Suehiro, N. Nakagawa, S. Hidaka, M. Ueda, K. Imasaka, M. Higashihata, T. Okada, and M. Hara, Nanotechnology 17, 2567 (2006). 53.M. S. Arnold, P. Avouris, Z. W. Pan, and Z. L. Wang, J. Phys. Chem. B 107, 659 (2003). 54.R. Ghosh, M. Dutta, and D. Basak, Appl. Phys. Lett. 91, 073108 (2007). 55.M.-C. Jeong, B.-Y. Oh, W. Lee, and J.-M. Myoung, Appl. Phys. Lett. 86, 103105 (2005). 56.C.-L. Hsu, S.-J. Chang, Y.-R. Lin, P.-C. Li, T.-S. Lin, S.-Y. Tsai, T.-H. Lu, and I. C. Chen, Chem. Phys. Lett. 416, 75 (2005). 57.C. Y. Lu, S. J. Chang, S. P. Chang, C. T. Lee, C. F. Kuo, H. M. Chang, Y. Z. Chiou, C. L. Hsu, and I. C. Chen, Appl. Phys. Lett. 89, 153101 (2006). 58.D. Park and K. Yong, J. Vac. Sci. Technol., B 26, 1933 (2008). 59.S. H. Lee, H. J. Lee, D. Oh, S. W. Lee, H. Goto, R. Buckmaster, T. Yasukawa, T. Matsue, S.-K. Hong, H. Ko, M.-W. Cho, and T. Yao, J. Phys. Chem. B 110, 3856 (2006). 60.Z. Y. Fan, D. Dutta, C. J. Chien, H. Y. Chen, E. C. Brown, P. C. Chang, and J. G. Lu, Appl. Phys. Lett. 89, 213110 (2006). 61.P. Feng, J. Y. Zhang, Q. H. Li, and T. H. Wang, Appl. Phys. Lett. 88, 153107 (2006). 62.P. Feng, J. Y. Zhang, Q. Wan, and T. H. Wang, J. Appl. Phys. 102, 074309 (2007). 63.S. Mathur , S. Barth, H. Shen, J. C. Pyun, and U.Werner, Small 1, 713 (2005). 64.Z. Q. Liu, D. H. Zhang, S. Han, C. Li, T. Tang, W. Jin, X. L. Liu, B. Lei, and C.W. Zhou, Adv. Mater. 15, 1754 (2003). 65.J. S. Lee, S. K. Sim, B. Min, K. Cho, S. W. Kim, and S. Kim, J. Cryst. Growth 267, 145 (2004). 66.D. Zhang, C. Li, S. Han, X. Liu, T. Tang, W. Jin, and C. Zhou, Applied Physics a-Materials Science & Processing 77, 163 (2003).
|