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研究生:林立旻
研究生(外文):Lin, Li-Min
論文名稱:從專利資訊探討廠商專利品質之決定因素
論文名稱(外文):Determinants of patent quality from the aspects of patent information
指導教授:劉文獻劉文獻引用關係
指導教授(外文):Liu, Wen-Hsien
口試委員:祁玉蘭周登陽唐孟祺
口試委員(外文):Chyi, Yih-LuanChou, Deng-YangTang, Meng-Chi
口試日期:2011-06-23
學位類別:碩士
校院名稱:國立中正大學
系所名稱:國際經濟研究所
學門:社會及行為科學學門
學類:經濟學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2011
畢業學年度:99
語文別:中文
論文頁數:93
中文關鍵詞:半導體專利資訊專利引證零膨脹負二項模型
外文關鍵詞:patent citationpatent informationsemiconductorzero-inflated negative binomial model
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本文以臺灣半導體產業為研究主體,並將之分為IC設計業、IC製造業以及IC封裝測試業等三個子產業,探討90家臺灣半導體廠商於1998年至2009年間,在美國專利商標局 (U.S. Patent and Trademark Office) 申請核准專利之被引證次數是否受專利資訊及廠商特性之影響。實證結果顯示,專利發明人數、專利範圍數和專利後引證次數等專利資訊的確會影響專利品質。
In this study, we use the firm-level data to investigate possible determinants of patent quality in the semiconductor industry from the aspects of firm characteristics and patent information released. By analyzing the patent citations data of 90 Taiwanese semiconductor firms in U.S.PTO data base form 1998 to 2009, we conclude that the numbers of inventors, claims and forward citations do affect the average number of backward citation which we use to proxy the quality of patent.
目 錄
頁次
第一章 緒論 1
第一節 研究背景與動機 1
第二節 研究目的 10
第三節 研究架構 11
第二章 文獻探討 12
第一節 半導體產業各子產業介紹 12
第二節 專利介紹 21
第三節 文獻回顧 22
第三章 變數說明與實證模型 32
第一節 資料來源與變數說明 32
第二節 模型設定 49
第三節 研究方法 51
第四章 實證結果分析 63
第一節 特性檢定 63
第二節 半導體產業之實證結果分析 66
第三節 半導體產業各子產業之實證結果分析 71
第四節 半導體廠商依不同研發型態分類之實證結果 79
第五章 結論 87
第一節 總結 87
第二節 研究限制與未來研究方向 89
參考文獻 91


一、中文部分:
張琬琪 (2010),《智慧資本、專利品質與知識外溢:臺灣半導體產業之實證分析》,國立中正大學國際經濟研究所碩士論文。
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二、英文部分:
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