薄膜電晶體(Thin Film Transistor, TFT)液晶顯示器產生閃爍(flicker)的現象是LCD模組製程(LCD Module,LCM)普遍存在的問題，主要原因是LCD製程中二塊玻璃電極基板中間的gap所產生的寄生電容(Cgs)，整面玻璃基板的gap不一致繼而造成電壓差，電壓差則是使得面板閃爍現象的原因。近幾年來客戶對面板閃爍品質的要求越來越高，因此改善面板閃爍問題從以往出廠前的手動調整Vcom電壓(液晶正負極性的中間值電壓)，進階為數位化調整Vcom電壓，如此一來出廠前的閃爍調整可以縮短很多工時，同時也有效的降低公司生產的成本，但是數位化調整Vcom系統在人機介面上尚未達到最佳化，有鑑於此，本研究採用田口方法(Taguchi Method)與雙反應曲面法(Response Surface Methodology, RSM)，將系統閃爍(flicker)調整時間和調整率優化，使品質特性目標達到最佳化的目的，做為提昇品質及產能效率考量方法之一。

Thin Film Transistor, liquid crystal display flicker of the phenomenon of the LCD module manufacturing process a common problem, root cause in the LCD manufacturing process on two glass electrode substrate produced by the middle of the gap parasitic capacitance (Cgs), the entire surface of the glass substrate followed by inconsistent gap voltage difference caused by the voltage difference is the reason for making the panel flicker. In recent years the panel quality of customer demand have become high increasingly , so the flicker from the past to improve the panel factory manual adjustment of the Vcom voltage (positive and negative polarity in the middle of the LCD threshold voltage), advanced digital technology to adjust Vcom voltage, In this way the factory can reduce the number of flashes to adjust working hours, but also reduce the company''s production costs effectively, but the digital system in the human-machine interface Vcom adjustment has not been reached on the optimal value,in view of this, this study, Taguchi method ( Taguchi Method) and dual response surface method (Response Surface Methodology, RSM), the system flicker to adjust time and adjust the rate optimization, the quality characteristics of the target to achieve the best of purposes, as to enhance the quality and efficiency of production methods considered one.

摘　要 I
Abstract II
誌 謝 III
目　錄 IV
圖目錄 VI
表目錄 IX
符號索引 XI
第一章 緒論 1
1.1 研究背景與動機 1
1.2 研究目的 3
1.3 研究範圍與限制 3
1.4 研究架構和大綱 3
第二章 TFT-LCD液晶顯示器簡介 6
2.1 TFT-LCD產業簡介 6
2.2 LCD液晶簡介 7
2.3 TFT-LCD架構簡介 10
2.4 TFT-LCD液晶顯示器製程簡介 12
2.4.1 TFT-LCD 陣列(Array)製程 13
2.4.2 TFT-LCD 彩色率光片(CF)製程 13
2.4.3 TFT-LCD 液晶盒(Cell)製程 14
2.4.4 TFT-LCD 模組組裝(Module Assembly)製程 14
2.5 TFT-LCD液晶顯示器驅動原理 15
2.5.1 TFT-LCD驅動方式 17
2.5.2 何謂電容效應 20
2.5.3 電容效應與閃爍的關係 20
2.5.4 正負極性平衡電壓(Vcom)補償方式 21
2.5.5 電容效應與液晶驅動正電壓切角設計關係 23
第三章 感測系統硬體與軟體設計架構 24
3.1面板模組 26
3.2畫面產生器系統 27
3.2.1.可程式邏輯控制器介紹 27
3.2.2畫面產生器設計架構 28
3.3 感測系統 29
3.3.1.單晶片介紹 30
3.2.2.感測系統設計架構 33
3.4 電腦系統 36
3.5 感測系統程式流程架構 36
3.6 感測系統程操作介面 38
3.7 感測系統實驗結果 39
第四章 實驗設計與方法 41
4.1田口方法 41
4.1.1 品質損失函數 42
4.1.2全因子實驗 45
4.1.3 直交表實驗計劃 47
4.1.4參數設計 49
4.1.5信號雜訊比 49
4.1.6變異數分析(ANOVA ) 50
4.2 雙反應曲面方法 51
4.2.1實驗設計組合 53
4.2.2建構模型 53
4.2.3參數優化 54
第五章 實驗結果分析 56
5.1 閃爍數位化調整系統調整時間之田口方法分析(案例一) 58
5.2 閃爍數位化調整系統調整率之田口方法分析(案例二) 64
5.3 調整時間與調整率之模糊推論田口方法分析(案例三) 67
5.4閃爍數位化調整系統調整時間之雙反應曲面法分析(案例四) 74
5.5閃爍數位化調整系統調整時間之雙反應曲面法分析(案例五) 81
5.6閃爍數位化調整系統調整時間之雙反應曲面法分析(案例六) 89
5.7 閃爍數位化調整系統調整率之雙反應曲面法分析(案例七) 97
5.8 調整時間與調整率之模糊推論雙反應曲面法分析(案例八) 104
5.9 實驗結果分析討論 116
第六章 結論與建議 119
6.1 研究結論 119
6.2 未來展望 120
參考文獻 121
附錄一 詞彙中英對照 124
附錄二 MPCI模糊推論EXCEL試算表 127
附錄三 MPCI之模糊推論規則試算表 131
作者簡歷 139

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