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臺灣博碩士論文加值系統

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研究生:戴基任
研究生(外文):Chi-Jen Tai
論文名稱:應用六標準差降低SS short不良面板比率之探討
論文名稱(外文):Application of Six Sigma to reduce the ratio of the SS short of defect panel
指導教授:陳雲岫陳雲岫引用關係
學位類別:碩士
校院名稱:元智大學
系所名稱:工業工程與管理學系
學門:工程學門
學類:工業工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2011
畢業學年度:99
語文別:中文
論文頁數:64
中文關鍵詞:
外文關鍵詞:SS shortSix SigmaDMAICDOELCD-TFT
相關次數:
  • 被引用被引用:1
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LCD的技術一直在進步,而面板內部的製造是屬高精密的製作,只要有百分之一微米的不良就會降低面板品質。本研究依據個案公司的單項產品中,針對SS Short不良提出對策,降低該項不良率、提升該尺吋面板整體良率及降低報廢面板的浪費。個案是以六標準差(Six Sigma)管理手法的流程步驟(D-M-A-I-C)做逐步的了解及對策,並歸納出〝配向枚數〞及〝ITO膜厚〞是影響製程的主要關鍵因子,且運用實驗設計法(Design of Expriments, DOE)的3^2全因子實驗及主效用、交互作用圖找出最佳的參數組合。最終個案的研究結果為配向枚數控制在450枚時更換配向布且ITO膜厚設定在850埃,可將不良從3.83%降至0.69%且Cpk從0.35提升至1.12,確實有效抑止大部分不良的發生亦達到提升良率的效果。而整體效益使改善前後成本降低18%。

The technology of Liquid Crystal Display(LCD) keeps updating to improve yields. The product will be identified as a failure as long as a hundredth micron deviation in LCD’s panel due to high standard required. In this research, we use 6-sigma to find the solution of improving SS short in a production process. The goal is to decrease the defective rate as much as possible. In our case, we discover〝NO. of panel to pass rubbing〞and〝thickness of ITO〞are two critical factors in the process. Also, we apply the design of experiment method(DOE) to find the best combination of parameters. Through a 3^2 full factorial experiment、main effects plot and interaction plot, we determine the best setting of parameter values and the Cpk increases from 0.35 up to 1.12. Through this improvement study, not only the company cost for the product is reduced around 18%, but also a standard procedure to improve the production quality is documented.

中、英文摘要
誌謝
目錄
第一章 緒論
1.1 研究背景- 1 -
1.2 研究動機與目的- 1 -
1.3 研究架構- 2 -
1.4 研究範圍與限制- 3 -
第二章文獻探討
2.1 六標準差之探討- 4 -
2.2 實驗設計之探討- 7 -
2.3 LCD產業之探討及簡介-10 -
2.4 實務應用探討- 20 -
第三章研究方法
3.1 定義階段(Define Phase)- 24 -
3.2 衡量階段(Measure Phase)- 25 -
3.3 分析階段(Analyze Phase)- 27 -
3.4 改善階段(Improve Phase)- 29 -
3.5 管制階段(Control Phase)- 30 -
第四章個案研究
4.1 定義階段(Define Phase)- 31 -
4.2 衡量階段(Measure Phase)- 32 -
4.3 分析階段(Analyze Phase)- 37 -
4.4 改善階段(Improve Phase)- 50 -
4.5 控制階段(Control Phase)- 53 -
第五章結論與建議
5.1 結論- 58 -
5.2 後續研究方向- 58 -
參考文獻- 60 -
附件一- 63 -
表目錄
圖目錄

英文部份:
1.
P.N. Koch, R.-J. Yang and L. Gu (2004).”Design for six sigma through robust optimization.” Industrial Applications and Design Case Study,26,235-248.
2.
Dong-Woo Kim , Myeong-Woo Cho , Tae-Il Seo and Eung-Sug Lee (2008).” Application of Design of Experiment Method for Thrust Force Minimization in Step-feed Micro Drilling.” Sensors,8,211-221.
3.
Liu, C.T (2007).” Revolution of the TFT LCD Technology.” Display Technology, Journal of Volume: 3 , Issue: 4 , pp.342 – 350.
4.
Haiyu Qi, Osterman, M., Pecht, M. (2009).” Design of Experiments for Board-Level Solder Joint Reliability of PBGA Package Under Various Manufacturing and Multiple Environmental Loading Conditions.” Electronics Packaging Manufacturing, IEEE Transactions on Volume: 32 , Issue: 1 ,pp.32 – 40.

中文部份:
1.
薛英家(2008)。TFT LCD–Array。國立中興大學顯示技術研究報告。
2.
傅永貴(2007)。LCD液晶顯示原理簡介。國立成功大學顯示技術授課講議。
3.
吳建瑋、王瑞杰(2006)。應用六標準差手法於TFT-LCD 之ODF 製程改善研究。中華民國品質學會第42 屆年會暨第12 屆全國品質管理研討會。
4.
鄭春生(2008)。六標準差黑帶訓練班講義,元智大學工業工程與管理學系。
5.
鄭春生(2009)。品質管理(修訂二版)。臺北:全華圖書有限公司。
6.
鄭春生(C.-S. Cheng)、李志鴻(Z.-H.g Li) (2006)。應用六標準差之手法提高PET耐熱瓶之耐熱性。品質學報 , 13卷1期 (2006/03) , pp.71-84。
7.
傅永貴(2006)。液晶材料特性及顯示原理。成功大學物理系/光電所
8.
林公孚(2008)。六標準差演進的回顧與展望。品質月刊/3月,pp.27-31。
9.
蘇學恭(2008)。統計應該被矯枉過正嗎?Six Sigma銫不是靠DOE&統計軟體。品質月刊,44卷11期,pp.28-33。
10.
潘浙楠(2009)。六標準差之戰略創新-專案計畫的選擇與執行。品質月刊,45卷6期,pp.10-15。
11.
黃永東、馮聖為(2008)。剖析製造業之精實六標準差的DMAIC作法。品質月刊/3月,pp.41-48。
12.
呂執中、張立穎、賴怡津(2009)。以六標準差手法達到TFT-LCD背光模組可靠度最佳化。品質月刊,45卷6期,pp.34-40。
13.
羅夢娜(1987)。實驗設計淺談。科學月刊,五月,209期,網址:http://campus2.chgsh.chc.edu.tw/science/content/1987/00050209/0005.htm。
14.
方登進(2006)。應用六標準差於框膠製程最佳化改善手法之研究。國立成功大學工業與資訊管理研究所碩士論文。
15.
林梭蓮(2009)。利用六標準差手法提升封裝廠之晶片切割良率。國立清華大學工業工程與工程管理研究所碩士論文。
16.
呂執中、陳銘男(2008)。以六標準差專案進行觸控面板之品質改善。品質學報Vol. 15, No. 4,pp.271-281。

網路部份:
1.
工研院產業經濟與趨勢研究中心(Industrial Economics and Knowledge Center, IEK), 網址:http://ieknet.iek.org.tw/index.jsp
2.
友達光電股份有限公司, 網址:http://www.auo.com/?sn=15&lang=zh-TW
3.
奇美電子股份有限公司, 網址:http://www.chimei-innolux.com
4.
中華映管股份有限公司, 網址:http://www.cptt.com.tw/cptt/chinese/index.php
5.
瑞儀光電股份有限公司, 網址:http://www.radiant.com.tw/
6.
Wikipedia – The free encyclopedia, 網址:http://en.wikipedia.org/wiki/Main_Page

附件部份:
1.
N. E. Savin and K. J. White.”The Durbin-Watson Test for Serial Correlation with Extreme Small Samples or Many Refressors”Econometrica, vol. 45, pp. 1989-1986 and ad corrected by R. W. Farebrother, Econometrica, vol. 48, September 1980, pp. 1554.

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