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研究生:汪煜學
研究生(外文):Yu-Hsueh Wang
論文名稱:影像切割技術於導線框架尺寸量測之研究
論文名稱(外文):Morphological In Lead Frame Size Measurement In Study
指導教授:盧以詮盧以詮引用關係
指導教授(外文):Yi-Chuan Lu
學位類別:碩士
校院名稱:元智大學
系所名稱:資訊管理學系
學門:電算機學門
學類:電算機一般學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2011
畢業學年度:99
語文別:中文
論文頁數:43
中文關鍵詞:數位影像
外文關鍵詞:Digital Image
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本研究在是用機器視覺的方式取代人工檢查,以光學影像技術為核心,將影像全面的掃圖,使用影像形態學之方法處理影像尺寸品質檢查及量測,再將檢查或量測產品並輸出圖像中所有的尺寸值

In this study, machine vision is used to replace manual inspection. We used optical imaging technology to do full scanning of the image. After that, this thesis adapted the method of morphological image processing to analyze the image size and confirm the quality of products. Then, the results will be output to help users improve the processing efficiency of procedure.


書名頁 i
論文口試委員審定書 ii
授權書 iii
中文摘要 iv
英文摘要 v
誌謝 vi
目錄 vii
表目錄 x
圖目錄 xi
壹、 研究背景與動機 1
1.1 導論 1
1.2 研究背景 1
1.3 研究動機 1
貳、 參考文獻 2
2.1 導論 2
2.2 幾何光學及成像基本原理 3
2.2.1 光及光波 3
2.2.2 幾何光學的四大基本定律 4
2.2.3 全反射現象(又稱完全內反射) 4
2.2.4 成像基本概念 5
2.3 數位影像 6
2.3.1 現今廣泛的使用CCD 取像 6
2.3.2 鏡頭、鏡組及CCD 7
2.4 影像處理 7
2.4.1 影像可分為灰階影像及彩色影像 7
2.4.2 影像強化的相關技術 8
2.5 形態學影像處理 9
2.6 基因演算法應用於影像強化(直方圖) 13
參、 研究方法 14
3.1 自動光學影像技術 14
3.2 光學影像檢測技術概念 14
3.3 系統之平台設計與規劃 18
3.3.1 系統架構 18
3.4 系統處理流程/實驗流程 20
3.5 系統中之各組件說明 21
3.6 系統之運作 26
3.6.1 軟體功能需求 27
3.6.2 平台操控方法 28
3.7 影像軟體工具之使用與說明 29
肆、 研究結果 32
4.1 前言 32
4.2 系統概念 32
4.3 影像演算法撰寫 34
4.3 影像處理(影像比對) 34
4.4 導線框架之影像擷取畫面 35
4.5 軟體系統介面 36
4.7 結果分析 38
伍、 結論與展望 40
5.1 結論 40
5.2 未來展望與建議 40
參考文獻 42
中文參考文獻 42
英文參考文獻 42



中文參考文獻
李秉鴻(2010),「機器學習於自動光學檢測之應用」,義守大學資訊工程研究所。
林志豪(2006),「織品自動化檢測」,私立義守大學工業工程與管理學系。
連國珍(2008),「數位影像處理」,儒林書局。
耿繼業(2010),「幾何光學」,全華圖書。
陳文志(2000),「影像3D 空間座標定位系統之研發」,國立中央大學機械工程研究所。
游舜豪(2006),「應用高解度線掃描CCD於ITO導電玻璃表面瑕疵檢測之研究」,國立台灣科技大學自動化及控制研究所。
梁有燈(1999),「機器視覺在BGA 銲球尺寸量測上之應用」,中華大學機械與航太工程研究所。

英文參考文獻
Boyle, W.S. and Smith G.E., “Charge Coupled Semiconductor Devices”, Bell Syst. Tech. Jour. Vol. 49, pp.587-593, 1970.
F. Y. Shih and Y. T. Wu, “Enhancement of image watermark retrieval based on genetic algorithms,” journal of visual communication and image
J. H. Holland, Adaptation In Natural And Artificial Systems, The University of Michigan Press, Michigan, 1975.
K. B. Lee, M. S. Koo, J. J. Lee, T. M. Koo, and K. H. Park, “Defect detection method for TFT-LCD panel based on saliency map model”, IEEE Region 10 Conference, vol. 1, pp.223-226, 2004.
Warren J. Smith, “Modern Optical Engineering”, McGRAW-HILL, pp.154-157, 1995.


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