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研究生:袁永明
研究生(外文):Yung-ming Yuan
論文名稱:微控制器電源開啟重置測試
論文名稱(外文):Power-on Reset Test for MCU
指導教授:邱炳樟邱炳樟引用關係
指導教授(外文):Bin-Chang Chieu
口試委員:邱炳樟
口試日期:2012-07-23
學位類別:碩士
校院名稱:國立臺灣科技大學
系所名稱:電子工程系
學門:工程學門
學類:電資工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2012
畢業學年度:100
語文別:中文
論文頁數:75
中文關鍵詞:8位元單晶片微控制器重置機制任意波形產生器
外文關鍵詞:8-bit single-chip micro-controllerthe reset mechanismarbitrary waveform generator.
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日常生活中,隨處可見標榜微電腦控制的產品,廣泛使用於家電、工廠自動化、汽車電子、感測、燈光、醫療電子、玩具、電源甚至人機介面等諸多市場...等等。
以8位元單晶片微控制器為例,因應市場要求體積輕薄短小和成本壓力下,必須整合所有功能至單一晶片內,使得整個系統周邊零組件數量變的屈指可數。由於微控制器主宰著整個系統運作!只要微控制器發生當機就視同宣告系統當機。
在系統整合設計時,即提供多種重置路徑,將可能發生的當機或不穩定性,使用硬體電路、微控制器重置機制與軟體技巧來排除或隱藏,讓微控制器在最短時間內自我恢復至正常狀態,防止微控制器進入死迴圈,避免造成系統停擺,依此來提高產品在使用上的可靠度與穩定性。由此可知重置機制對於系統預防當機是多麼地重要!
本論文旨在研製一『任意波形產生器』作為測試平台,測試平台使用微控制器控制DAC電路即可輸出各種電源開關機特性測試曲線,測試待測微控制器在各種電源變動下的動作狀況,以自動化測試取代傳統使用手動操作電源供應器開關機測試方式。
此『任意波形產生器』測試平台主要用於微控制器晶片開發驗證階段,可自動測試微控制器在各種不同電源變動條件下是否會發生當機並記錄至測試平台EEPROM中。設計人員事後可由當機時的測試時間及曲線形式,研判微控制器是何種重置機制失效?針對機制失效原因進行改善,提高穩定度,在晶片量產後可大幅降低客戶應用時的種種電源開啟重置問題。
In daily life, everywhere claiming to be products of micro-computer control, widely used in home appliances, automotive electronics, factory automation, automotive electronics, sensing, lighting, medical electronics, toys, power and even human-machine interfaces, and many other markets ... , And so on.
8-bit single-chip microcontroller, for example, the volume of short, light and cost pressures in response to market requirements, we must integrate all functions into a single chip, making the whole system peripheral spare part number change only a handful. Microcontroller to dominate the operation of the entire system! Microcontroller crashes regarded as a declaration of system crashes.
System integration design, offers a variety of reset path that the machine may occur crashed or instability, the problem eliminate or hide by the hardware circuit, the reset mechanism of micro-controller and software techniques, so that the microcontroller in the shortest timeself-recovery to the normal state, to prevent the micro-controller into an infinite loop, to avoid system downtime, and improve the reliability and stability of the product in use. Can be seen that the reset mechanism of how important for the system to prevent crashes!
This thesis is to develop an "arbitrary waveform generator” as a test platform, the test platform to use microcontroller to control the DAC circuit can output various testing curve for power-on and power-off. To test the action of the micro-controller in a variety of power changes, automate test instead of a traditional manually operated power supply test methods.
This test platform of arbitrary waveform generator used for development of micro-controller chip validation phase, automated testing of microcontrollers whether crash in the various conditions of power supply variation and record the test result into EEPROM. The designers judged that the micro-controller what reset mechanism is not working? To improve the mechanism and stability will significantly reduce customer applications in all the power-on reset problem.
第一章 緒論 1
1.1. 研究動機 1
1.2. 研究目的 2
1.3. 論文架構 3
第二章 微控制器重置來源及重置發生時機介紹 5
2.1. 微控制器重置來源介紹 6
2.2. 系統進入死區發生原因介紹 11
2.2.1. 電壓不足重置 12
2.2.2. AC 系統慢放電 13
2.2.3. DC 系統low battery 13
2.3. 防止微控制器當機解決方案 13
2.3.1. 外部重置線路 14
2.3.2. 低電壓偵測重置 15
2.3.3. 降低系統執行速度 16
2.3.4. Watchdog Timer 16
2.4. 各家微控制器電源開啟重置特性參數 16
2.5. 微控制器電源開啟重置測試參數 18
第三章 電源開啟重置之測試波形介紹 19
3.1. 測試儀器 AGILENT 33250A 任意波形產生器介紹 19
3.2. 電源開啟重置測試波形說明 20
3.2.1. 低電壓重置動作電壓測試 : 20
3.2.2. /FPOR下降斜率極限測試 : 21
3.2.3. /RPOR上昇斜率極限測試 : 22
3.2.4. 三角波極限測試 : 23
3.3. 測試結果說明 23
第四章 測試平台系統架構介紹 24
4.1. 測試平台硬體規劃 24
4.1.1. 測試平台硬體方塊圖 24
4.1.2. 測試平台硬體線路圖 25
4.1.3. 測試平台與待測微控制器連接說明 26
4.1.4. 測試平台操作介紹 26
4.2. 測試平台硬體功能說明 27
4.2.1. 測試平台處理器介紹 27
4.2.2. 數位-類比轉換DAC電路 28
4.2.3. TFT LCM顯示模組 29
4.2.4. 繼電器開關電路 31
4.2.5. Level Shift電路_光耦合器 31
4.2.6. 電流放大電路 31
4.3. 測試平台與DUT通訊協定介紹 32
4.3.1. 通訊協定韌體流程圖 33
4.3.2 通訊協定波形量測 35
4.4. 測試平台測試流程介紹 37
4.4.1. 測試平台測試選單說明 37
4.4.2. 自我測試-2/2 37
4.4.3. 主選單流程圖 38
4.4.4. 自我測試(1/2) 39
4.4.5. 電源開啟重置測試(1/2) 40
4.4.6. 電源開啟重置測試(2/2) 41
4.5. 測試波形量測 42
4.6. 微控制器程式燒錄與讀取晶片內EEPROM介紹 47
4.6.1. 微控制器程式燒錄介紹: 47
4.6.2. 如何讀取晶片內EEPROM: 48
第五章 系統測試與功能驗證 50
5.1. 微控制器配置選項設定: 50
5.2. 測試電路 : 51
5.3. MCU編號A:測試結果 : 51
5.3.1. MCU編號A:低電壓重置動作電壓測試 : 51
5.3.2. MCU編號A:/FPOR測試 : 52
5.3.3. MCU編號A:/RPOR測試 : 53
5.3.4. MCU編號A:三角波測試 : 54
5.4. MCU編號A:測試總結: 55
5.5. MCU編號B:微控制器配置選項設定: 56
5.6. MCU編號B:測試結果比較 : 56
5.6.1. MCU編號B:低電壓重置動作電壓測試 : 56
5.6.2. MCU編號B:/FPOR測試 : 56
5.6.3. MCU編號B:/RPOR測試 : 57
5.6.4. MCU編號B:三角波測試 : 58
5.7. MCU編號B:測試總結: 58
第六章 結論與未來展望 59

參考文獻 61
[1] Microchip Technology Inc.,” PIC24F Family Reference Manual”,
http:// www.microchip.com/downloads/en/.../39712a.pdf
[2] Silicon Laboratories Inc.,” SiliconLabs C8051F022 Datasheet”, http://www.silabs.com/Support%20Documents/TechnicalDocs/C8051F02x.pdf
[3] SONiX TECHNOLOGY CO., LTD,”Sonix 8-Bit Micro Controller user's manual,SN8F27E60 Series”,http://www.sonix.com.tw/sonix/product.do?p=SN8F27E61
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[5] Kumar Abhishek,”克服電源供應雜訊問題 車用MCU提升系統穩定性”,
新電子科技雜誌, May 2005 ,http://www.mem.com.tw/article_content.asp?sn=1205230004
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[7] Mark Buccini, “利用微控制器延長電池的使用壽命”, 台灣通訊 No.152 ,August 2006
http://ssttpro.acesuppliers.com/meg/meg_1_3912102720061813166559678_7485.html
[8]IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS—II: EXPRESS BRIEFS, VOL. 58, NO. 11, NOVEMBER 2011
A Long Reset-Time Power-On Reset Circuit With Brown-Out Detection Capability
Huy-Binh Le, Xuan-Dien Do, Sang-Gug Lee, and Seung-Tak Ryu
[9] Agilent Technologies, “Agilent 33250A 函數/任意波形產生器 技術規格書”,
[10] 鍾啟仁,”HT66Fxx Flash MCU原理與實務-組合語言篇”,全華圖書,October 2010.
[11] Analog Devices, Inc.,” AD7541A(12-Bit Monolithic Multiplying DAC)Datasheet”
QRCODE
 
 
 
 
 
                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                               
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