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 本論文就影像與對稱倒影之對稱偵測課題加以探究並實作出可行有效之系統。其處理過程分成三個階段：1)影像特徵點擷取2)梯度資訊統計分析3)對稱軸及對稱點配對搜尋。 論文研究重點在於特徵點擷取階段，整合亮度對比與兩種特定梯度結構分佈類型所取得之特徵點，特別適用於影像與倒影之對稱偵測之用。
 Study on the issues of detecting imagery symmetry due to optical reflection is presented in this thesis, based on which a system capable of effectively finding such reflective imagery symmetry was implemented.The key lies in the extraction of feature points for feeding into a quite standard symmetry detecting process. The extraction exploits specific patterns in gradient structure in conjunction with contrast such that feature points in favor of reflective imagery symmetry detection are extracted.
 目錄中文摘要 i英文摘要 ii目錄 iv圖片目錄 v第一章 簡介 1第二章 相關研究 52.1 梯度資訊統計法 52.2 特徵點辨識法 72.3 由梯度資訊切割影像 92.4 小結 12第三章 處理方法 133.1 對稱偵測處理架構 143.2 特徵點擷取方法 183.2.1 亮度對比 19 3.2.2 梯度向量 20 3.2.3 大區塊同向性分佈 22 3.2.4 梯度相位角熵度(Entropy)計算 26 3.2.5 特徵點 283.3 梯度相位角統計分析 303.4 對稱軸投票流程 32 3.4.1 影像對稱點配對搜尋 33 3.4.2 霍夫轉換找對稱軸 35第四章 實驗結果分析 394.1 影像類型與分析 39 4.1.1 主體倒影對稱 41 4.1.2 一般對稱單一對稱物體 43 4.1.3 一般對稱多重對稱物體 464.2 結果圖 50 4.2.1 與主觀認知相符的結果圖 50 4.2.2 與主觀認知不相符的結果圖 107第五章 結論 1105.1 影像特色點分析與討論 1105.2 未來發展及總結 115參考文獻 117
 [1] C, Sun D, Si, "Fast Reflectional Symmetry Detection Using Orientation Histograms," Real-Time Imaging, vol. 5, no. 1, pp. 63-74, 2 1999.[2] Lee, Seungkyu Liu, Yanxi, "Skewed Rotation Symmetry Group Detection," IEEE Trans. Pattern Analysis and Machine Intelligence, vol. 32, no. 9, pp. 1659-1671, 9 2010.[3] Ho, Ming-Hung Lin, Cheng-Chung, "Symmetry Detection Based on Gradient-Derived Information," "Master Thesis", 2011.[4] Sun, Changming, "Symmetry detection using gradient information," Pattern Recognition Letters, vol. 16, no. 9, pp. 987-996, 1995.[5] Chiang, Chun-Liang Lin, Cheng-Chung, "Basic Observations on Potential Cues Behind Vision Target Perception : Intensity, Contrast and Gradient Organization," Master Thesis, 2010.[6] Reisfeld, Daniel Wolfson, Haim Yeshurun, Yehezkel, "Context Free Attentional Operators : the Generalized Symmetry Transform," International Journal of Computer Vision, vol. 14, no. 2, pp. 119-130, 1995.[7] Lee, Seungkyu Liu, Yanxi, "Curved Glide-Reflection Symmetry Detection," IEEE Transactions On Pattren Analysis And Machine Intelligence, vol. 34, no. 2, pp. 266-278, Feb 2011.[8] Liu, Jingchen Liu, Yanxi, "Curved Reflection Symmetry Detection with Self-validation," in Asian Conference on Computer Vision, 2011.[9] Lowe, David G, "Distinctive Image Features from Scale-Invariant Keypoints," International Journal of Computer Vision, vol. 60, no. 2, pp. 91-110, 5 January 2004.[10] Hsueh, Chih-Jen Lin, Cheng-Chung, “Gradient Structure behind Visual Fields where Axial Symmetry Exists,” 2012.[11] Rafael C.,Gonzalez Richard E.,Woods , Digital Image Processing, Pearson, 2010.
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