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臺灣博碩士論文加值系統

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研究生:吳嘉晉
研究生(外文):Jia-Jin Wu
論文名稱:25-Gb/s 擬隨機二元序列產生器與誤碼率測試系統製作
論文名稱(外文):Fabrication of 25-Gb/s PRBS generator and BER test system
指導教授:施天從
指導教授(外文):Tien-Tsorng Shih
口試委員:施天從鄭木海周肇基江柏叡
口試委員(外文):Tien-Tsorng ShihWood-Hi ChengJau-Ji JouPo-Jui Chiang
口試日期:2014-07-14
學位類別:碩士
校院名稱:國立高雄應用科技大學
系所名稱:電子工程系碩士班
學門:工程學門
學類:電資工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2014
畢業學年度:102
語文別:中文
論文頁數:54
中文關鍵詞:電路設計韌體設計軟體設計微帶線眼圖誤碼率擬隨機二元序列
外文關鍵詞:PCB Layoutfirmwaresoftwaremicrostripeye diagramBERPRBS
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網路上高速傳輸的需求越來越大,為了解決這些需求,可傳輸100-Gb/s的乙太網路(100GBESE)規範於2010年被提出。100GBASE利用四個並列的25-Gb/s的通道來達到總傳輸速率100-Gb/s的目的。為了測試傳輸模組每個通道的性能,本論文研製出25-Gb/s的擬隨機二元序列產生器與誤碼率測試系統。本論文利用一個市售的時脈數據回覆(CDR)晶片來建構我們的系統。本論文使用電路板佈局技巧,使電路板可操作25-Gb/s的訊號。我們透過韌體設計來控制CDR晶片,也開發圖形化介面方便操作。經量測25-Gb/s的擬隨機二元序列產生器的眼圖,其上昇時間、下降時間與抖動值分別為13.9-ps 、14.3-ps 及 12.814-ps。系統的誤碼率結果與推算值在不同待測物下,呈現正相關的特性。
The demand of high speed transmission is increased. 100GBASE is established to satisfy the demand of high speed transmission. The 100GBASE uses 4 parallel 25-Gb/s channels to achieve an aggregated transmission rate of 100-Gb/s. In order to test the transmission module, we developed a 25-Gb/s test system of Pseudo Random Binary Sequence (PRBS) generator and Bit Error Rate Test (BERT). We employed a commercial Clock-Data-Recovery (CDR) IC to build our system. We developed a technology of PCB Layout to enable transmitting of a 25-Gb/s signal on PCB. We developed a firmware to control the CDR IC and established a Graphical user interface (GUI) to make the operation convenient. After experimental verification, the rise time, the fall time, and the jitter of the system are 13.9-ps, 14.3-ps and 12.814-ps, respectively. The BER of our system and the deduced result are proportional with different DUTs.
中文摘要 I
英文摘要 II
誌 謝 III
目 錄 IV
圖 目 錄 VI
表 目 錄 IX
第1章 緒論 1
1.1 研究動機 1
1.2 論文架構 2
第2章 PRBS與I2C介紹 3
2.1 擬隨機二元序列介紹 3
2.2 I2C說明 5
2.2.1 Write 6
2.2.2 Read 7
第3章 測試系統之設計 9
3.1 PCB電路板設計 9
3.1.1 電路圖 9
3.1.2 佈局圖 11
3.1.3 材料表、零件位置圖 19
3.1.4 IC接腳、功能架構圖 22
3.2 韌體設計 25
3.2.1 流程圖(韌體) 26
3.2.2 I2C 28
3.2.3 V-USB 29
3.2.4 誤碼率計算 31
3.3 圖形化介面設計 32
3.3.1 流程圖(軟體) 32
3.3.2 圖形化介面功能說明 33
第4章 結果與討論 35
4.1 微帶線阻抗 35
4.2 擬隨機二元序列產生器 36
4.2.1 眼圖量測架構 36
4.2.2 眼圖量測 37
4.3 誤碼率測試 42
4.3.1 誤碼率量測架構 42
4.3.2 誤碼率測試 43
第5章 結論與未來工作 50
5.1 結論 50
5.2 未來工作 51
參考文獻 53

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