[1]. 林有德. 第三代半導體材料碳化矽發展趨勢研究. 中華科技大學 電子工程研究所 碩士學位論文. 2015[2]. SiC,Sapphire,GaN…:what is the business evolution of the non-Silicon based semiconductor industry. Yole Développement. 2016
[3]. LED用藍寶石基板(襯底)簡介. LEDinside. Sep 2011
[4]. 睽違兩年,LEDinside 再次重磅推出2017年全球藍寶石與LED晶片市場報告. LEDinside. Dec 2016
[5]. 浜元 伸二, 土肥 俊郎, 尾形 謙次郎. SiC 基板のダイヤモンドスラリーによる加工特性(第3報). 埼玉大学総合研究機構地域共同研究センター産学連携推進部門. (2009)
[6]. Grinding Wheels | GS08 Series. DISCO Corporation. 2014.
[7]. 山崎努, 土肥俊郎, 瀬下清, 大坪正徳, 塚本敬一, 紀文勇, 若林豊博, 住澤春男. グリーンデバイス用結晶基板の加工プロセス技術の研究開発 (第2 報). 2013年度精密工学会春季大会学術講演会講演論文集. (2013)
[8]. 瀬下 清, 土肥俊郎, 大坪正徳, 山崎 努, 紀 文勇,若林豊博. グリーンデバイス用結晶基板の加工プロセス技術の研究開発 (第4 報). 2013年度精密工学会秋季大会学術講演会講演論文集. (2013).
[9]. 長屋正武, 河田研治, 貴堂高徳, 加藤智久. B4C 砥粒によるSiC ウェハのラッピング加工特性. 2014年度精密工学会秋季大会学術講演会講演論文集. (2014).
[10]. 池田 洋, 中村竜太, 久住孝幸, 佐藤安弘, 赤上陽一. 電界砥粒制御技術を適用した硬脆材料向け高効率CMP 技術の開発. 2014精密工学会秋季大会学術講演会講演論文集. (2014).
[11]. 大森 恒, 佐藤 誠, 高橋 舞子, 山口 貴哉. SiC 単結晶の酸化剤援用研磨の研究(3). 2014年度精密工学会秋季大会学術講演会講演論文集. (2014).
[12]. 坂本 武司. 紫外光を用いた先進的研磨法の実用化に関する研究. 熊本大学大学院 自然科学研究科 博士学位論文. (2014).
[13]. 稲木匠, 小田和明, 坂本武司, 峠睦, 久保田章亀. UV アシスト研磨による大口径SiC 基板の高能率加工技術の開発. 2013年度精密工学会秋季大会学術講演会講演論文集. (2013).
[14]. 礒橋藍, 佐野泰久, 定国峻, 山内和人. 純水を用いた化学エッチングによる4H-SiC 基板の平坦化加工. 2013年度精密工学会秋季大会学術講演会講演論文集. (2013).
[15]. 土肥 俊郎, 渡辺 茂, 尾形 謙次郎, 中村 由夫, 桜井 伸, 河西 敏雄. 新しいBell–jar型CMP装置による加工特性の検討(第11報). 2006年度精密工学会春季大会学術講演会講演論文集. (2006).
[16]. 原英之, 佐野泰久, 三村秀和, 竹川雄也, 山内和人. 触媒を援用した化学ポリシング法による4H–SiCの加工(第2報) . 2006年度精密工学会春季大会学術講演会講演論文集. (2006).
[17]. 鄧 輝, 遠藤勝義, 山村和也. プラズマ援用研磨法の開発(第9 報). 2014年度精密工学会春季大会学術講演会講演論文集. (2014).
[18]. 尹 涛. 加工環境を制御したCMP装置によるSiCウエハの高能率加工に関する研究. 平成25年度 九州大学大学院 工学府 博士学位論文.
[19]. 大坪正徳, 瀬下 清, 山崎 努, 西澤秀明, 村上 幸, 宮下忠一, 高木正孝, 土肥俊郎. グリーンデバイス用結晶基板の加工プロセス技術の研究開発(第7 報). 2015年度精密工学会春季大会学術講演会講演論文集. (2015).
[20]. 陳鼎鈞. 單晶碳化矽基板之鑽石研光與化學機械拋光平坦化製程研究. 國立台灣科技大學 機械工程系 碩士學位論文.(2015).[21]. 佐藤誠, 奧田和弘. 砥粒内包研磨パッドの開発(5). 2007年度精密工学会春季大会学術講演会講演論文集. (2007).
[22]. 萩原好人. SiC 表面上のグラフェンナノ構造の形成に関する研究. 九州大学大学院工学府エネルギー量子工学専攻 博士論文. (2014)
[23]. Wendymeng. LED用藍寶石基板(襯底)簡介. LEDinside. (2011)
[24]. JEOL Ltd. JSM-7100F Thermal field emission electron microscope.