(3.220.231.235) 您好!臺灣時間:2021/03/08 05:53
字體大小: 字級放大   字級縮小   預設字形  
回查詢結果

詳目顯示:::

我願授權國圖
: 
twitterline
研究生:林俊輝
研究生(外文):Lin, Chun-Hui
論文名稱:卷積神經網絡之自動缺陷識別之製造智慧_TFT-LCD陣列製程之實證研究
論文名稱(外文):Manufacturing Intelligence via Convolutional Neural Network for automatic defect recognition and An Empirical study in TFT-LCD array process
指導教授:簡禎富簡禎富引用關係
指導教授(外文):Chien, Chen-Fu
口試委員:黎進財陳暎仁
口試日期:2017-06-16
學位類別:碩士
校院名稱:國立清華大學
系所名稱:工業工程與工程管理學系碩士在職專班
學門:工程學門
學類:工業工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2017
畢業學年度:105
語文別:英文
論文頁數:27
中文關鍵詞:薄膜電晶體液晶顯示器自動光學檢測自動缺陷分類卷積神經網絡深度學習
外文關鍵詞:Automatic Defect Classification (ADC)Automatic Optical Inspection (AOI)Convolutional Neural Networks(CNNs)Deep Learning (DL)TFT-LCD
相關次數:
  • 被引用被引用:0
  • 點閱點閱:385
  • 評分評分:系統版面圖檔系統版面圖檔系統版面圖檔系統版面圖檔系統版面圖檔
  • 下載下載:0
  • 收藏至我的研究室書目清單書目收藏:0
論文目次隱藏中
參考文獻隱藏中
電子全文 電子全文(網際網路公開日期:20220829)
連結至畢業學校之論文網頁點我開啟連結
註: 此連結為研究生畢業學校所提供,不一定有電子全文可供下載,若連結有誤,請點選上方之〝勘誤回報〞功能,我們會盡快修正,謝謝!
QRCODE
 
 
 
 
 
                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                               
第一頁 上一頁 下一頁 最後一頁 top
系統版面圖檔 系統版面圖檔