|
Chapter 1 [1] A. K. Geim and K. S. Novoselov, Nat. Mater. 6, 183 (2007). [2] K. S. Novoselov, A. K. Geim, S. V. Morozov, D. Jiang, M. I. Katsnelson, I. V. Grigorieva, S. V. Dubonos and A. A. Firsov, Nature 438, 197 (2005). [3] X. Du, I. Skachko, F. Duerr, A. Luican and E.Y. Andrei, Nature 462, 192 (2009). [4] F. V. Tikhonenko, A.A. Kozikov, A. K. Savchenko and R. V. Gorbachev, Phys. Rev. Lett. 103, 226801 (2009). [5] K. S. Novoselov, A. K. Geim, S. V. Morozov, D. Jiang, Y. Zhang, S. V. Dubonos, I. V. Grigorieva and A. A. Firsov, Science 306, 666 (2004). [6] X. Li, W. Cai, J. An, S. Kim, J. Nah, D. Yang, R. Piner, A. Velamakanni, I. Jung, E. Tutuc, S. K. Banerjee, L. Colombo and R. S. Ruoff, Science 324, 1312 (2009). [7] C. Berger, Z. Song, T. Li, X. Li, A. Y. Ogbazghi, R. Feng, Z. Dai, A. N. Marchenkov, E. H. Conrad, P. N. First and W. A. de Heer, J. Phys. Chem. B 108, 19912 (2004). [8] N. F. Mott, J. Non-Cryst. Solids 1, 1 (1968). [9] B. I. Shklovskii and A. L. Efros, Electronic Properties of Doped Semiconductors, Springer Series of Solid State Science, vol. 45, Springer, Berlin (1984). [10] S. I. Khondaker, I. S. Shlimak, J. T. Nicholls, M. Pepper and D. A. Ritchie, Phys. Rev. B 59, 4580 (1999). [11] D. Ovchinnikov, A. Allain, Y. S. Huang, D. Dumcenco and A. Kis, ACS Nano 8, 8174 (2014). [12] F. Lafont, R. Ribeiro-Palau, D. Kazazis, A. Michon, O. Couturaud, C. Consejo, T. Chassagne, M. Zielinski, M. Portail, B. Jouault et al, Nat. Commun. 6, 6806 (2015). [13] C. Chuang, R. K. Puddy, H. D. Lin, S. T. Lo, T. M. Chen, C. G. Smith and C. T. Liang, Solid State Commun. 152, 905 (2012). [14] M. Iqbal, J. Galibert, J. Léotin, S. Askénazy, S. Waffenschmidt, J. Wosnitza and H. v. Löhneysen, Phys. B 246–247, 282 (1998). [15] I. Shlimak, M. Kaveh, M. Yosefin, M. Lea and P. Fozooni, Phys. Rev. Lett. 68, 3076 (1992). [16] N. V. Lien, Phys. Lett. A 207, 379 (1995).
Chapter 2 [1] W. Norimatsu and M. Kusunoki, Phys. Chem. Chem. Phys. 16, 3501 (2014). [2] G. N. Dash, S. R. Pattanaik and S. Behera, Journal of the Electron Devices Society, IEEE 2, 5 (2014). [3] A. H. Castro Neto, F. Guinea, N. M. R. Peres, K. S. Novoselov and A. K. Geim, Rev. Mod. Phys. 81, 109 (2009). [4] G.R. Yazdi, T. Iakimov and R. Yakimova, Crystals 6, 53 (2016). [5] M. E. Cage, R. F. Dziuba and B. F. Field, IEEE Trans. Instrum. Meas. IM-34, 2 (1985). [6] S. D. Sarma, S. Adam, E. H. Hwang and E. Rossi, Rev. Mod. Phys. 83, 407 (2011). [7] T. J. B. M. Janssen, A. Tzalenchuk, R. Yakimova, S. Kubatkin, S. Lara-Avila, S. Kopylov and V. I. Fal’ko, Phys. Rev. B 83, 233402 (2011). [8] A. Lartsev, Quantum Hall devices on epitaxial graphene: towards large-scale integration, Ph. D. thesis, Chalmers University of Technology (2015). [9] N. F. Mott, J. Non-Cryst, Solids 1, 1 (1968). [10] B. I. Shklovskii and A. L. Efros, Electronic Properties of Doped Semiconductors, Springer Series of Solid State Science, vol. 45, Springer, Berlin (1984).
Chapter 3 [1] Y. Yang, L. I. Huang, Y. Fukuyama, F. H. Liu, M. A. Real, P. Barbara, C.-T. Liang, D. B. Newell and R. E. Elmquist, Small 11, 90 (2015). [2] F. Molitor, Electronic properties of graphene nanostructures, Ph. D. thesis, ETH Zurich (2010). [3] C. Chuang, Electronic properties of disordered graphene, Ph. D. thesis, National Taiwan University (2014). [4] S. H. N. Lim, D. R. McKenzie and M. M. M. Bilek, Rev. Sci. Instrum. 80, 075109 (2009). [5] C. Chuang, Y. Yang, L. I. Huang, C. T. Liang and R. E. Elmquist, APS March Meeting Abstracts 1, 1005. [6] C. I. Liu, P. Wang, J. Mi, H. Y. Lee, C. Zhang, X. Lin, C. Chuang, N. Aoki, R. E. Elmquist and C. T. Liang, J. Nanomaterials. 7372812 (2016).
Chapter 4 [1] J. Moser, H. Tao, S. Roche, F. Alzina, C. M. Sotomayor Torres and A. Bachtold, Phys. Rev. B 81, 205445 (2010). [2] E. Zion, A. Haran, A. V. Butenko, L. Wolfson, Y. Kaganovskii, T. Havdala, A. Sharoni, D. Naveh, V. Richter, M. Kaveh, E. Kogan and I. Shlimak, Graphene 4, 45 (2015). [3] Y. Zhang, P. Dai, M. Levy and M. P. Sarachik, Phys. Rev. Lett. 64, 2687 (1990). [4] C. Chuang , R. K. Puddy, H. D. Lin, S.-T. Lo, T. M. Chen, C. G. Smith and C.-T. Liang, Solid State Commun. 152, 905 (2012). [5] C. I. Liu, B. Y. Wu, C. Chuang, Y. C. Lee, Y. J. Ho, Y. Yang, R. E. Elmquist, S. T. Lo and C. T. Liang, Semicond. Sci. Technol. 31, 105008 (2016). [6] N. V. Lien, Phys. Lett. A 207, 379 (1995). [7] X. Hong, S.-H. Cheng, C. Herding and J. Zhu, Phys. Rev. B 83, 085410 (2011). [8] A. J. M. Giesbers, E. C. Peters, M. Burghard and K. Kern, Phys. Rev. B 86, 045445 (2012). [9] S. I. Khondaker, I. S. Shlimak, J. T. Nicholls, M. Pepper and D. A. Ritchie, Phys. Rev. B 59, 4580 (1999).
|