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臺灣博碩士論文加值系統

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研究生:王楨傑
論文名稱:氧化銅半導體的電學特性之研究
論文名稱(外文):The Study of Electrical Properties in the CuO Semiconductor
指導教授:范榮權
指導教授(外文):Jung-Chuan Fan
口試委員:林春榮宋皇輝范榮權
口試委員(外文):LIN,CHUN-RONGSUNG,HUANG-HUEIJung-Chuan Fan
口試日期:2018-01-29
學位類別:碩士
校院名稱:大葉大學
系所名稱:電機工程學系
學門:工程學門
學類:電資工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2018
畢業學年度:106
語文別:中文
論文頁數:40
中文關鍵詞:氧化銅快速升溫化學氣相沉積系統電學特性
外文關鍵詞:CuORTCVDElectrical Properties
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本實驗室利用快速升溫化學氣相沉積系統(Rapid-Thermal Chemical Vapor Deposition;RTCVD)去成長氧化銅(CuO)薄膜,並且去探討氧化銅(CuO)的電學特性,本實驗使用3種不同的參數並放入真空的腔體中,分別為200 OC升溫製程3小時、250 OC升溫製程3小時、300 OC升溫製程3小時,去研究快速升溫化學氣相沉積系統對氧化銅半導體的電學特性之影響。
製程完的三種樣品,再以三種儀器去分析樣品的成分,分別有分光光度計(UV-Basic)、X光繞射儀(XRD)、場發射掃描式電子顯微鏡(SEM),X光繞射儀的量測觀察三種參數的峰值,比對其他的文獻參考,有兩個peak相較比較明顯,2θ分別為35及38的位置,場發射掃描式電子顯微鏡量測在200 OC、250 OC、300 OC升溫製程3小時,觀察表面薄膜結構。

The purpose of this paper is investigating electrical properties Copper(II) Oxide thin film grown on corning glass by using Rapid-Thermal Chemical Vapor Deposition(RTCVD) system.The CuO films were fabricated at different heating temperatures(200OC、250OC、300OC)with 3hr.
The CuO samples were characterized by X-ray diffraction (XRD), scanning electron microscopy (SEM), UV-Vis. The X-ray diffraction (XRD) ,the CuO thin films show the two peaks at 35 and 38. The SEM image shows the CuO thin film is very flat and smooth in the surface of nanostructures.The UV-Vis show that the average optical transmittance within the visible spectra can be more than 70 %.From the absorption spectra analysis the energy gaps of CuO thin films can be found at the 1.48 eV、1.47 eV、1.44 eV for grown temperatures at 200 OC、250 OC、300 OC, respectively.

目錄

封面內頁
簽名頁
中文摘要........................iii
英文摘要........................iv
誌謝..........................v
目錄..........................vi
圖目錄.........................viii
表目錄.........................x

第一章 緒論.......................1
1.1前言.....................1
1.2研究動機...................2
第二章 文獻回顧.....................3
2.1銅原子的介紹.................3
2.2氧化銅的介紹.................4
2.3氧化亞銅的介紹................6
2.4快速升溫化學氣相沉積系統的介紹........8
第三章 實驗方法與流程..................9
3.1實驗流程...................9
3.2實驗材料...................10
3.3實驗設備...................11
3.4鍍膜參數...................12

3.5實驗步驟...................13
3.6分析儀器...................15
第四章 結果討論與數據分析...............19
4.1樣品參數的決定................19
4.2 UV量測分析穿透率及吸收率..........19
4.3XRD量測分析....... .........27
4.4SEM量測分析.. ..............30
第五章 結論......................38
參考文獻........................39

第六章 參考文獻

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[4]、陳南宏,國立中山大學,光電工程學系,碩士論文,利用熱氧法生成氧化亞銅應用於太陽能電池之研製(2013),2-4
[5]、林宥豪,國立嘉義大學,電子物理研究所,碩士論文,氧化亞銅粉末與氧化銅薄膜的製備及其特性研究(2011),13
[6]、蘇峻揚,國立屏東大學,應用物理系光電暨材料碩士班,濕熱製程成長氧化亞銅箔膜及熱退火處理對薄膜特性之影響(2017),4
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[10]、彭子安,私立大葉大學,電機工程學系,碩士論文 2009
[11]、吳昌任,私立大葉大學,電機工程學系,碩士論文,RTCVD透明半導體薄膜光電特性研究,2011
[12]、許樹恩、吳泰伯,X光繞射原理與材料結構分析 1992
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[14]、羅聖全,工業技術研究院材料與化工研究所,掃描式電子顯微鏡(SEM) 2013
[15]、林麗娟,工業材料研究所研究員,X光繞射原理及其應用,1994
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