整合資料挖礦與訊號處理以強化面板陣列製程之斷/短路發生位置識別率與其實證研究_

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研究生:

李婕

研究生(外文):

Lee, Chieh

論文名稱:

整合資料挖礦與訊號處理以強化面板陣列製程之斷/短路發生位置識別率與其實證研究

論文名稱(外文):

Integrating data mining and signal processing to enhance open/short defect location identification in TFT-LCD array process and empirical study

指導教授:

簡禎富

指導教授(外文):

Chien, Chen-Fu

口試委員:

楊朝龍、陳逸群

口試委員(外文):

Yang, Chao-Lung、Chen, Yi-Chun

口試日期:

2018-01-11

學位類別:

碩士

校院名稱:

國立清華大學

系所名稱:

工業工程與工程管理學系所

學門:

工程學門

學類:

工業工程學類

論文種類:

學術論文

論文出版年:

2018

畢業學年度:

106

語文別:

英文

論文頁數:

中文關鍵詞:

資料挖礦、斷路與短路測試、支援向量機、有限脈衝響應濾波器、面板陣列製程

外文關鍵詞:

Data Mining、Support Vector Machine、Finite Impulse Filter、Test for Open/Short、TFT-LCD Array Process

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