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研究生:李婕
研究生(外文):Lee, Chieh
論文名稱:整合資料挖礦與訊號處理以強化面板陣列製程之斷/短路發生位置識別率與其實證研究
論文名稱(外文):Integrating data mining and signal processing to enhance open/short defect location identification in TFT-LCD array process and empirical study
指導教授:簡禎富簡禎富引用關係
指導教授(外文):Chien, Chen-Fu
口試委員:楊朝龍陳逸群
口試委員(外文):Yang, Chao-LungChen, Yi-Chun
口試日期:2018-01-11
學位類別:碩士
校院名稱:國立清華大學
系所名稱:工業工程與工程管理學系所
學門:工程學門
學類:工業工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2018
畢業學年度:106
語文別:英文
論文頁數:61
中文關鍵詞:資料挖礦斷路與短路測試支援向量機有限脈衝響應濾波器面板陣列製程
外文關鍵詞:Data MiningSupport Vector MachineFinite Impulse FilterTest for Open/ShortTFT-LCD Array Process
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