|
[1] Moore, G. E. Electronics. 1965, 38, 114-117. [2] Aviram, A.; Ratner, M. A. Chem. Phys. Lett. 1974, 29, 277-283. [3] Metzger, R. M. Chem. Rev. 2003, 103, 3803-3834. [4] Chen, F.; Hihath, J.; Huang, Z.; Li, X.; Tao, N. J. Annu. Rev. Phys. Chem. 2007, 58, 535-564. [5] Song, H.; Reed, M. A.; Lee, T. Adv. Mater. 2011, 23, 1583-1608. [6] Reed, M. A.; Zhou, C.; Muller, C. J.; Burgin, T. P.; Tour, J. M. Science 1997, 278, 252-254. [7] Xu, B.; Tao, N. J. Science 2003, 301, 1221-1223. [8] Xu, B.; Xiao, X.; Tao, N. J. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 16164-16165. [9] Trouwborst, M. L.; Molen, S. J. v. d.; Wees, B. J. v. J. Appl. Phys. 2006, 99, 114316. [10] Tsutsui, M.; Taniguchi, M. Sensors-Basel 2012, 12, 7259-7298. [11] Park, H.; Lim, A. K. L.; Alivisatos, A. P.; Park, J.; McEuen, P. L. Appl. Phys Lett. 1999, 75, 301-303. [12] Son, J. Y.; Song, H. Curr. Appl. Phys. 2013, 13, 1157-1171. [13] Chen, F.; Li, X.; Hihath, J.; Huang, Z.; Tao, N. J. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 15874-15881. [14] Li, C.; Pobelov, I.; Wandlowski, T.; Bagrets, A.; Arnold, A.; Evers, F. J. Am. Chem. Soc. 2008, 130, 318-326. [15] Venkataraman, L.; Klare, J. E.; Tam, I. W.; Nuckolls, C.; Hybertsen, M. S.; Steigerwald, M. L. Nano Lett. 2006, 6, 458-462. [16] Venkataraman, L.; Klare, J. E.; Nuckolls, C.; Hybertsen, M. S.; Steigerwald, M. L. Nature 2006, 442, 904. [17] Aradhya, S. V.; Venkataraman, L. Nat. Nanotechnol. 2013, 8, 399. [18] Guo, X.; Small, J. P.; Klare, J. E.; Wang, Y.; Purewal, M. S.; Tam, I. W.; Hong, B. H.; Caldwell, R.; Huang, L.; O''Brien, S.; Yan, J.; Breslow, R.; Wind, S. J.; Hone, J.; Kim, P.; Nuckolls, C. Science 2006, 311, 356-359. [19] Cao, Y.; Dong, S.; Liu, S.; He, L.; Gan, L.; Yu, X.; Steigerwald, M. L.; Wu, X.; Liu, Z.; Guo, X. Angew. Chem. Int. Ed. 2012, 51, 12228-12232. [20] Gu, C.; Su, D.; Jia, C.; Ren, S.; Guo, X. RSC Adv. 2018, 8, 6814-6819. [21] Zhu, J.; McMorrow, J.; Crespo-Otero, R.; Ao, G.; Zheng, M.; Gillin, W. P.; Palma, M. J. Am. Chem. Soc. 2016, 138 , 2905-2908. [22] Jaklevic, R. C.; Lambe, J. Phys. Rev. Lett. 1966, 17, 1139-1140. [23] Lambe, J.; Jaklevic, R. C. Phys. Rev. 1968, 165, 821-832. [24] Reed, M. A. Mater. Today 2008, 11, 46-50. [25] Song, H.; Kim, Y.; Ku, J.; Jang, Y. H.; Jeong, H.; Lee, T. Appl. Phys. Lett. 2009, 94, 103110. [26] Wilson, E. B. Phys. Rev. 1934, 45, 706-714. [27] Bethune, D. S.; Kiang, C. H.; de Vries, M. S.; Gorman, G.; Savoy, R.; Vazquez, J.; Beyers, R. Nature 1993, 363, 605. [28] Dresselhaus, M. S.; Dresselhaus, G.; Saito, R. Carbon 1995, 33, 883-891. [29] Saito, R.; Fujita, M.; Dresselhaus, G.; Dresselhaus, M. S. Appl. Phys. Lett. 1992, 60, 2204-2206. [30] Odom,T. W.; Huang, J. L.; Kim, P.; Ouyang, M. G. J. Mater. Res. 1998, 13, 2380-2388. [31] Bergin, S. D.; Nicolosi, V.; Streich, P. V.; Giordani, S.; Sun, Z.; Windle, A. H.; Ryan, P.; Niraj, N. P. P.; Wang, Z. T. T.; Carpenter, L.; Blau, W. J.; Boland, J. J.; Hamilton, J. P.; Coleman, J. N. Adv. Mater. 2008, 20, 1876-1881. [32] Zheng, M.; Jagota, A.; Semke, E. D.; Diner, B. A.; McLean, R. S.; Lustig, S. R.; Richardson, R. E.; Tassi, N. G. Nat. Mater. 2003, 2, 338-342. [33] Ma, Y.; Ali, S.R.; Dodoo, A. S.; He, H. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 16359-16365. [34] Jorio, A.; Pimenta, M. A.; Filho, A. G. S.; Saito, R.; Dresselhaus, G.; Dresselhaus, M. S. New J. Phys. 2003, 5, 139-156. [35] Dresselhaus, M. S.; Dresselhaus, G.; Jorio, A.; Souza Filho, A. G.; Saito, R. Carbon 2002, 40, 2043-2061. [36] Paul, P. C.Front. Nanosci. 2016, 11, 543-561. [37] Zimmermann, S. T.; Balkenende, D. W. R.; Lavrenova, A.; Weder, C.; Brugger, J. ACS Appl. Mater. Interfaces 2017, 9, 41454-41461. [38] Liu, X.; Kumar, M.; Calo, A.; Albisetti, E.; Zheng, X.; Manning, K. B.; Elacqua, E.; Weck, M.; Ulijn, R.; Riedo, E. Faraday Discuss. 2019. [39] SWISSLITHO AG. https://swisslitho.com. (accessed Aug 6, 2019). [40] Wolf, H.; Cho, Y. K.R.; Karg, S.; Mensch, P.; Schwemmer, C.; Knoll, A. IEEE 2019. [41] Pires, D.; Hedrick J. M.; Silva, D. A,; Frommer, J.; Gotsmann, B.; Wolf, H.; Despont, M.; Duerig, U.; Knoll, A. W. Science 2010, 328, 732-735. [42] Hiroshi, I.; Grant, W. C. Polym. Eng. Sci. 1983, 23, 1012-1018. [43] SwissLitho, NanoFrazor manual. 2017. [44] Chen, T. Y. Mater Thesis, National Taiwan University, Taipei, 2014. [45] Lai, Y. Y. Mater Thesis, National Taiwan University, Taipei, 2015. [46] Cho, Y. H. Master Thesis, National Taiwan University, Taipei, 2018. [47] MicroChem LOR/PMGI Data Sheet. http://microchem.com/pdf/PMGI-Resists-data-sheetV-rhcedit-102206.pdf (accessed Aug 6, 2019). [48] Song, H.; Kim, Y.; Jang, Y. H.; Jeong, H.; Reed, M. A.; Lee, T. Nature 2009, 462, 1039. [49] Wang, W.; Lee, T.; Kretzschmar, I.; Reed, M. A. Nano Lett. 2004, 4, 643-646. [50] Lauhon, L. J.; Ho, W. Rev. Sci. Instrum. 2001, 72, 216-223. [51] SHIPLEY MICROPOSIT S1800 Series Data Sheet. http://microchem.com/products/images/uploads/S1800_Photoresist.pdf (accessed Aug 6, 2019). [52] Pumera, M.; Ambrosi, A.; Chng, E. L. K. Chem. Sci. 2012, 3, 3347-3355. [53] Niyogi, S.; Hamon, M. A.; Hu, H.; Zhao, B.; Bhowmik, P.; Sen, R.; Itkis, M. E.; Haddon, R. C. Acc. Chem. Res. 2002, 35, 1105-1113. [54] Erik, D.; Thomas, W. E.; Ajit, K.; Michael, M. J. T. Adv. Mater. 1998, 10, 611-613. [55] Wallen, R.; Gokarn, N.; Bercea, P.; Grzincic, E.; Bandyopadhyay, K. Nanoscale Res. Lett. 2015, 10, 268. [56] Strano, M. S.; Moore, V. C.; Miller, M. K.; Allen, M. J.; Haroz, E. H.; Kittrell, C.; Hauge, R. H.; Smalley, R. E. J. Nanosci. Nanotechnol. 2003, 3, 81-86. [57] Girifalco, L. A.; Hodak, M.; Lee, R. S. Phys. Rev. B 2000, 62, 13104-13110. [58] Islam, M. F.; Rojas, E.; Bergey, D. M.; Johnson, A. T.; Yodh, A. G. Nano Lett. 2003, 3, 269-273. [59] O''Connell, M. J.; Bachilo, S. M.; Huffman, C. B.; Moore, V. C.; Strano, M. S.; Haroz, E. H.; Rialon, K. L.; Boul, P. J.; Noon, W. H.; Kittrell, C.; Ma, J.; Hauge, R. H.; Weisman, R. B.; Smalley, R. E. Science 2002, 297, 593-596. [60] Matarredona, O.; Rhoads, H.; Li, Z.; Harwell, J. H.; Balzano, L.; Resasco, D. E. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 13357-13367. [61] Cheng, Q.; Debnath, S.; O’Neill, L.; Hedderman, T. G.; Gregan, E.; Byrne, H. J. J. Phys. Chem. C 2010, 114, 4857-4863. [62] Ham, H. T.; Choi, Y. S.; Chung, I. J. J. Colloid Interface Sci. 2005, 286, 216-223. [63] Vaisman, L.; Wagner, H. D.; Marom, G. Adv. Colloid Interface Sci. 2006, 128-130, 37-46. [64] Penzo, E.; Palma, M.; Chenet, D. A.; Ao, G.; Zheng, M.; Hone, J. C.; Wind, S. J. ACS Nano 2016, 10, 2975-2981. [65] Super Power Precision Co., Ltd. http://www.teemab2b.com.tw/CompanyInfo/CompanyProduct_Detail.aspx?cid=660087&pid=c29f7222-c596-4ae5-b934-a0e613310d68 (accessed Aug 6, 2019). [66] Vaz, A. R.; da Silva, M. M.; Leon, J.; Moshkalev, S. A.; Swart, J. W. J. Mater. Sci. 2008, 43, 3429-3434. [67] Watanabe, T.; Sadki, E.-H. S.; Yamaguchi, T.; Takano, Y. Nanoscale Res. Lett. 2014, 9, 374-383. [68] Martel, R.; Wong, H. P.; Chan, K.; Avouris, P. Carbon Nanotube Field Effect Transistors for Logic Applications. IEEE 2001, 7.5.1-7.5.4. [69] Avramov, P. V.; Yakobson, B. I.; Scuseria, G. E. Phys. Solid State 2004, 46, 1168-1172.
|