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臺灣博碩士論文加值系統

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研究生:許聰基
研究生(外文):Xu, Cong-Ji
論文名稱:交流薄膜電激發光元件亮度衰減機制之研究
論文名稱(外文):The Study of the Brightness Degradation and Its Mechanism in AC Thin Film Electroluminescent Devices
指導教授:王欽戊蘇炎坤蘇炎坤引用關係
指導教授(外文):Wang, Qin-WuSu, Yan-Kun
學位類別:碩士
校院名稱:義守大學
系所名稱:電機工程研究所
學門:工程學門
學類:電資工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:1996
畢業學年度:84
語文別:中文
論文頁數:63
中文關鍵詞:電機工程亮度衰減深階陷阱硫化鋅摻雜氟氧化鋱硫化鋅摻雜錳
外文關鍵詞:ELECTRICAL-ENGINEERINGDeep TrapsZnS:TbOFZnS:Mn
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本篇論文的主題是綠、橙色光的交流簿膜電激發光元件亮度衰減機制的研究,而交流
簿膜電激發光元件的發光亮度深受發光層特性所影響,因此本論文將針對綠、橙色光
的發光層中摻雜量之改變對元件發光特性及衰減機制的影響作詳細探討。
對於綠色光所採用的材料為硫化鋅摻雜氟氧化鋱,此材料是用射頻磁控濺鍍法成長,
控制變因為摻雜的氧濃度,本文將研究改變氧含量對元件亮度衰減的影響。簿膜材料
特性包括結晶性、表面顯微照相、光、電等特性。元件亮度測試結果顯示高氧含量的
發光層其亮度較差,而此結果則和高氧含量之發光層具有較差的結晶性、粗糙表面、
以及弱的光激光譜強度一致。另外深能階暫態頻譜儀量測結果顯示當氧鋱比(O/Tb)大
於1 時,發光層中將存在著深能階電洞陷阱Etp1(及/或Etp2),它們都是造成元件
亮度衰減的主要因素。所有的證據都強烈支持能量轉移模型將較直接激發撞擊模型更
有可能是發光過程的主要機制。
至於橙色光之電激發光元件,係以有機化學氣相沉積法成長之硫化鋅摻雜錳為發光層
材料。由深能階暫態頻譜儀的量測結果顯示,硫化鋅摻雜錳的交流簿膜電激發光元件
之亮度衰減主要是由於摻入的錳發光中心與環境中的水氣結合,而造成深階電子陷阱
,Etn 。且傅立葉轉換紅外光譜儀的量測結果強烈支持錳將與環境中的水氣反應而產
生氫氧化錳的論點,其O-H 鍵拉伸振動所造成的波峰介於3700-3500cm-1 之間。再者
,光激光譜強度的衰減顯示了錳相關的Etn 陷阱將扮演非輻射中心的角色,而降低發
光效率,並使得發光層的結晶性變差。結果,元件使用一段時間後亮度變差且往更高
的起始電壓偏移。

QRCODE
 
 
 
 
 
                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                                               
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