根據Dey 和 Morrison(1979) 之定之定差數值技巧所發展的電算程式以計算二維構造
磁量電阻之響應，此響應分別以磁量電阻異常值分量，水平分量及磁場異常向量假性
剖面圖來表示之。由所模擬之各種不同地質模型如垂直和傾斜斷層，半圓柱狀凹陷等
構造所得之假性剖面圖與視電阻假性剖面圖比較發現表層為導電層時之地質構造以磁
量電阻法比地電阻法來得容易解析地下構造。並對不同深度之厚岩株，不同厚度的覆
蓋層之下的垂直斷層，及不同導電率比的傾斜斷層和半圓柱狀凹陷等均加以詳細的探
討。在磁量電阻異常之垂直分量的假性剖面圖可以看出側向導電率之不連續處與假性
剖面圖中的極狀分佈有密切的關係，而且地質構造之幾何圖形與分佈之導電率比對磁
量電阻異常之影響很大。
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