這是一個數位的時代，數位電腦、數位電視、數位通信....等，數位似乎已變成現代
的流行語，數位能流行起來最主要是拜數位信號處理技術之賜，而數位信號處理的最
基本元件就是類比/ 數位轉換器(analog/digital converter ，簡稱ADC)，因此近幾
年來類比/ 數位轉換器快速地發展，其所追求的不外乎更快的轉換速度和更高的解析
度。本研究乃是針對12位元逐步近似型類比/ 數位轉換器其轉換速度之探討，先了解
限制轉換速度的主要因素，再針對這些因素設計改善電路來加快其轉換速度。改善電
路有二部份：(1) 改善比較器的延遲；(2) 改善數位/ 類比轉換器(digital/analog
converter ，簡稱DAC)的延遲。原始電路和改善電路都先在面包板上實作，確定其動
作無誤，再經由電路板實作來印證其轉換速度有顯著的提高。
為測量類比/ 數位轉換器的轉換曲線與線性誤差，所以設計一個測試系統，此系統主
要由下列部份組成：
(1) 12位元數位/ 類比轉換器：負責提供測試電壓。
(2) 8255A 可程式規劃的週邊介面器：負責電腦與ADC 及DAC 的傳輸介面。
(3) 電腦：負責控制功能及資料處理。
利用此一測試系統便能迅速測試出類比/ 數位轉換器的轉換特性，由測試結果得知，
改善後的電路其轉換速度已有顯著的提高，轉換時間可達到2∼2.5μsec ，但未改善
和改善後的12位元轉換電路皆只有約10位元的準確度，其原因可能在於數位電路和類
比電路之地電流和電磁波之相互干擾，若能加強整個系統預防雜訊的措施，則可提高
轉換器的準確度。
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