臺灣博碩士論文加值系統

銲線製程是半導體封裝中重要的一環，銲線製程的穩定性將決定封裝成品的好壞，所以獲得優良的銲線品質就變的非常的重要，而銲線製程除了金線結球外，銲線路徑穩定性與銲線完之後的張力也是非常重要的，本研究藉由田口分析方法，找出適當的銲線參數，以提昇銲線品質。
銲線品質除了受環境因素(溫度、溼度、潔淨度..等等)、金線材質、導線架材質的影響之外，藉由本研究可歸納出下列幾個因素會影響到銲線的品質：
(1)金線結球之熱影響區：熱影響區的長短會影響到弧高的穩定 性，所以一般都把熱影響區長度降到比要求的弧高低。
(2)銲點的拉力與剪力強度：確認銲點必須能承受足夠的拉力與剪力
才可確保弧高的穩定度不受影響。
(3)路徑控制參數：路徑控制的指標之一為弧高的控制，在不同的參數設定下，會得到不同的弧高其變異性亦會有所不同。
本研究透過實際銲線機之銲線測試與實作，藉由田口實驗法的分析，找出影響銲線路徑穩定性和銲線品質之關鍵參數，在影響銲線品質(Ball Height、Ball Size、拉力值與剪力值的測試)中，最主要的參數為Spark Power與B’g Press，而在弧高的控制方面已經成功的藉由Reverse H、Reverse V、Tool Up與Tool Reverse等參數控制，讓弧高滿足低Loop Height的標準，但若要再將弧高的要求降到150μm以下，則熱影響區就要降的更低，此時會因為結球能量的降低，可能造成銲點拉力與剪力強度之不足。

In semiconductor packaging process, wire bonding plays a very important role. Its stability will affect the quality of the final product. Besides the ball formation, loop stability and wire tension after bonding also needs to be considered to achieve high bonding quality. In this thesis, through Taguchi method, the proper bonding parameters setting was discussed to increase bonding quality.
Beside environment issues (such as temperature, humidity, cleanness, etc.), wire material, and leadframe material, it was found that the following factors also affect the bonding quality:
(i)Heat affect zone(HAZ): the length of HAZ will affect the loop height;
(ii)Pull and shear strength; and
(iii)Loop control parameters: this will affect the loop stability.
In this thesis, the key parameters that affect the loop stability and bonding quality were investigated through bonding test using Kaijo FB-131 & Toshiba HN-932FAB wire bonders with Taguchi method. The key parameters that affect bonding quality (Ball Size, Ball Height, Pull & Shear Strength) are Spark Power and Bonding Press. While the key parameters that affect loop height are Reverse H, Reverse V, Tool Up, and Tool Reverse. To achieve low loop height (less than 150mm) requirement, the length of HAZ should also be considered.

目錄
摘要˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙Ⅰ
目錄˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙Ⅱ
圖目錄˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙Ⅴ
表目錄˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙Ⅷ
第一章 緒論˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙1
1.1前言˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙1
1.2文獻回顧˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙2
1.3研究動機˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙3
1.4論文大綱˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙3
第二章 基本理論與實驗架構˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙4
2.1 田口式實驗計畫法˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙4
2.1.1直交表˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙4
2.1.2交互作用˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙5
2.1.3自由度˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙5
2.1.4直交表的配置˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙5
2.1.5參數設計˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙7
2.2實驗架構˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙9
2.2.1銲接名詞介紹˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙9
2.2.2銲線路徑介紹˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙11
2.3實驗流程與實驗機台介紹˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙17
第三 章 銲接品質分析˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙21
3.1 Ball Height、Ball Size確認˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙21
3.1.1 Ball Height確認˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙21
3.1.2 Ball Size確認˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙26
3.2 Ball Height、Ball Size修正參數˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙30
3.2.1 Ball Height-修正參數˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙31
3.2.2 Ball Size-修正˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙34
3.3 Shear Test、Pull Test的確認˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙37
3.3.1Pull Test、Shear Test田口實實驗法˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙38
3.3.2 Shear Test測試˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙38
3.3.3 Pull Test測試˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙41
3.4 Ball Height與Ball Size的重新檢驗˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙45
第四章 路徑控制與穩定性分析˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙47
4.1銲線之熱影響區(HAZ) ˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙47
4.1.1HAZ的量測˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙48
4.1.2Loop Height測試˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙52
4.1.3熱影響區HAZ對Loop Height穩定性的探討˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙52
4.2 Loop Height穩定性分析˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙58
4.2.1 Trap Mode參數預測分析˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙59 4.2.2 Long Mode的參數預測分析˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙69
4.2.3 Loop Mode12的參數預測分析˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙86
4.2.4 Loop Mode8的參數預測分析˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙94
4.3 Toshiba機台穩定性探討˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙97
4.4 Loop Height 穩定性比較˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙99
4.4.1 T型路徑比較˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙99
4.4.2 L型路徑比較˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙100
第五章 討論與未來發展˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙102
附錄˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙105
參考資料˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙˙106

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