|
1. E.Yamaguchi et al. Society for Information Displays '97 Proceedings, p. 52, 1997. 2. S. Ito, T. Watanable, T. Yamamura, and K. Yano, ASIA Displays '95 Technical Digest, p. 617, 1995. 3. A. Asai, M. Okuda, S. Matsutani, K. Shinjo, N. Nakamura, K. Hatanaka, Y. Osada, and T. Nakagiri, Proceedings of IDW'97, p. 127, 1997. 4. J. D. Levine, IV MC-95 Technical Digest, p. 6, 1995. 5. T. Nakatani, T. Sakashita, O. Toyoda, K. Inoue, T. Kosak, N. Kondo, S. Fukuta, and K. Betsui, IDW-96 Technical Digest, p. 127, 1996. 6. F. Courreges, Society for Information Displays '97 Proceedings, p. 45, 1997. 7. F. Charbonnier, J. Vac. Sci. Technol. B 16(2), p. 880, 1998. 8. C. A. Spindt, C. E. Holland, P. R. Schwoebel, and I. Brodie, J. Vac. Sci. Technol. B 16(2), p. 758, 1998. 9. C. A. Spindt, C. E. Holland, A. Rosengreen, and I. Brodie, IEEE Tech Dig. Of IEDM, p. 749, 1993. 10. F. M. Charbonnier, J. P. Barbour, L. F. Garrentt, and W. P. Dyke, Proc. IEEE 51, p. 991, 1963. 11. F. M. Charbonnier, Appl. Surf. Sci. 94/95, p. 26, 1996. 12. H. H. Busta, J. E. Pogemiller, and B. J. Zimmerman, J. Micromech. Microeng., Vol 3, p. 49, 1993. 13. Y. Show, F. Motsuoka, M. Hayashi, H. Ito, M. Iwase, and T. Izumi, Journal of Applied Physics, Vol. 84, p. 6351, 1998. 14. H. Mimura, G. Hashiguchi, M. Okada, T. Matsumoto, M. Tanaka, and K. Yokoo, Journal of Applied Physics, Vol. 84, p. 3378, 1998. 15. S. R. P. Silva, G. A. J. Amaratunga, and K. Okano, J. Vac. Sci. Technol. B 17(2), p. 557, 1999. 16. S. Iijima,"Helical microtubes of graphitic carbon", nature 345, p. 56, 1991. 17. J. M. Lauerhaas, J. Y. Dai, A. A. Setlur, and R. P. H. Chang, "The effect of arc parameters on the growth of carbon nanotubes", J. Mater. Res., Vol. 12 No 6, p. 1536, 1997. 18. Saito, Susumu, "Applied Physics:Carbon Nanotubes for Next-Generation Electronics Devices", Science, V278, p. 77, 1997. 19. A. Vecht, Proceedings of 9th International Vacuum Microelectronics Conference, St. Petersburg, Russia, p. 631, 1996. 20. P. H. Holloway, J. Sebastian, T. Trottier, and H. Swart, Solid State Technol. 38, p. 47, 1995. 21. C. F. Yu, and P. Lin, Jpn. J. Appl. Phys. Part 2 34, p. 684, 1995. 22. H. Toki, F. Kataka, Y. Kagwa, and S. Itoh, IDW'95, p. 81, 1995. 23. Y. J. Kim, Y. H. Jeong, K. D. Kim, S. G. Kang, K. G. Lee, J. I. Han, Y. K. Park, and K. I. Cho, J. Vac. Sci. Technol. B 16(3), p. 1239, 1998. 24. I. J. Hsieh, K. T. Chu, C. F. Yu, and M. S. Feng, J. Appl. Phys. 76 (6), 15, p. 3735, 1994. 25. Z. Yan, M. Koike, and H. Takei, J. Cryst. Growth 165, p.183, 1996. 26. Y. E. Lee, D. P. Norton, and J. D. Budai, Applied Physics Letters, Vol. 74, 21, p. 3155, 1999. 27. T. Minami, Y. Kuroi, and S. Takata, J. Vac. Sci. Technol. A 14, p. 1736, 1996. 28. S. W. Kang, J. S. Yoo, and J. D. Lee, J. Vac. Sci. Technol. B 16(5), p. 2891, 1998. 29. S. W. Kang, B. S. Jeon, J. S. Yoo, and J. D. Lee, J. Vac. Sci. Technol. B 15, p. 520, 1997. 30. P. C. Libman and C. J. Prazak, U. S. Patent No. 4, 891, 110. 31. Y. W. Jin, J. E. Jang, W. K. Yi, J. E. Jung, N. S. Lee, J. M. Kim, D. Y. Jeon, and J. P. Hong, J. Vac. Sci. Technol. B 17(2), p. 489, 1999. 32. J. M. Kim, J. P. Hong, J. H. Choi, Y. S. Ryu, and S. S. Hong, J. Vac. Sci. Technol. B 16(2), p. 736, 1998. 33. R. H. Flower et al., Proceedings of the Royal Society, London, Series A, Vol. 119, p. 173, 1928. 34. S. Itoh, H. Toki, Y. Sato, K. Morimoto, and T. Kishino, J. Electrochem. Soc. 138, p. 1509, 1991. 35. W. D. Kingery, H. K. Bowen, D. R. Uhlman, Introduction to Ceramics, 2nd Edition, New York, p.678, 1976. 36. B. S. Jeon. J. S. Yoo, and J. D. Lee, J. Electrochem. Soc. 143, 3923, 1996. 37. "Electron interaction volume modeled with electron flight simulator", Microsc, Today 96(8):3, 1996. 38. Angelides, P. G. "Precision cross-sectional analysis of LSI and VLSI devices", Proc. IEEE: Rel. Phys. April: 134-138, 1981
|