|
1. Alexeef, G. V.; Kilgore, W. W.; Li, M. Rev. Environ. Contam. Toxicol. 112, 49, 1990. 2. Stelnberg, S. M.; Pignatello, J. J.; Sawhney, B. L. Environ. Sci. Technol. 21, 1201, 1987. 3. Pignatello, J. J.; Cohen, S. Z. Rev. Environ. Contam. Toxicol. 112, 1, 1990. 4. Nguyen, T.; Ollis, D. F. J. Phys. Chem. 88, 3386, 1984. 5. Buijs, W. Catal. Today 27, 159, 1996. 6. Vickerman, J. C. Surface Analysis-The Principle Techniques, John Wiley & Sons. New York, p43-98, 1997. 7. Vickerman, J. C. Surface Analysis-The Principle Techniques, John Wiley & Sons. New York, p99-133, 1997. 8. Ertl, G. and Kuppers, J. Low Energy Electrons and Surface Chemistry, Verlag Chemie, Germany, p22, 1974. 9. 林敬二, 林宗義, 儀器分析(下), 美亞書版, 第384頁, 1994年 10. Prutton, M. Surface Physics, Oxford University Pres, 1983. 11. 沈青嵩, 科儀新知, 第十九卷第二期, 第66頁, 八十六年十月. 12. Vickerman, J. C. Surface Analysis-The Principle Techniques, John Wiley & Sons, New York, p323-338, 1997. 13. 國立成功大學化學所 李明羲碩士論文 2001. 14. Vickerman, J. C. Surface Analysis-The Principle Techniques, John Wiley & Sons, New York, p278, 1997. 15. Sexton, B. A. Surf. Sci. 88, 299, 1979. 16. Wuttig, M.; Franchy, R.; Ibach, H. Surf. Sci. 213, 103, 1989. 17. Aochi, Y. O.; Farmer, W. J. Environ Sci. Technol. 26, 329, 1992. 18. Chiou, C. T.; Peters, L. J.; Freed, V. H. Science 206, 831, 1979. 19. Chan, A. S. Y.; Jones, R. G. J. Vac. Technol. A 19, 1474, 2001. 20. Linke, R.; Becker, C.; Pelster, Th.; Tanemura, M.; Wandelt, K. Surf. Sci. 377, 655, 1997. 21. Chan, A. S. Y. Ph. D. thesis, University of Nottingham, UK, 2000. 22. Turton, S.; Kadodwala, M.; Jones, R. G. Surf. Sci. 442, 517, 1999. 23. Turton, S.; Jones, R. G. Surf. Sci. 377, 719, 1997. 24. Zhou, X. -L.; White, J. M. J. Phys. Chem. 96, 7703, 1992. 25. Chan, A. S. Y.; Turton, S.; Jones, R. G. Surf. Sci. 433, 234, 1999. 26. Kerkar, M.; Walter, W. K.; Woodruff, D. P.; Jones, R. G. Surf. Sci. 268, 36, 1992. 27. Turton, S.; Kadodwala, M.; Jones, R. G. Surf. Sci. 442, 517, 1999. 28. Kadodwala, M.; Jones, R. G. J. Vac. Sci. Technol. A 11, 2019, 1993. 29. Lin, J. -L.; Bent, B. E. J. Phys. Chem. 96, 8529, 1992. 30. Jensen, M. B.; Myler, U.; Jenks, C. J.; Thiel, P. A.; Pylant, E. D.; White, J. M. J. Phys. Chem. 99, 8736, 1995. 31. Jenks, C. J.; Bent, B. E.; Bernstein, N.; Zaera, F. J. Am. Chem. Soc. 115, 308, 1993. 32. Jenks, C. J.; Bent, B. E.; Bernstein, N.; Zaera, F. Surf. Sci. Lett. 277, L89, 1992. 33. Bose, P. K.; Henderson, D. O.; Ewig, C. S.; Polavarapu, P. L. J. Phys. Chem. 93, 5070, 1989. 34. Neu, J. T.; Gwinn, W. D. J. Chem. Phys. 18, 1642, 1950. 35. Tanabe, K.; Hiraishi, J.; Tamura, T. J. Mol. Strut. 33, 19, 1976. 36. Aochi, Y. O.; Farmer, W. J. Environ Sci. Technol. 26, 329, 1992. 37. Wu, G.; Stacchiola, D.; Kaltchev, M.; Tysoe, W. T. Surf. Sci. 463, 81, 2000. 38. Jones, G. S.; Barteau, M. A. J. Am. Chem. Soc. 120, 3196, 1998. 39. 國立成功大學化學所 陳嘉淵碩士論文 2002. 40. Nyberg, S.; Tengstal, C. G.; Andersson, S.; Holmes, M. W. Chem. Phys. Lett. 87, 87, 1982. 41. McCash, E. M. Vacuum 40, 423, 1990. 42. Slater, D. A.; Hollins, P.; Chesters, M. A. Surf. Sci. 306, 155, 1994. 43. Akita, M.; Osaka, N.; Hiramoto, S.; Itoh, K. Surf. Sci. 427/428, 374, 1999. 44. Stacchiola, D.; Wu, G.; Kaltchev, M.; Tysoe, W. T. Surf. Sci. 486, 9, 2001. 45. Kubota, J.; Kondo, N.; Domen, K.; Hirose, C. J. Phys. Chem. 98, 7653, 1994. 46. Kubota, J.; Ichihara, S.; Kondo, J. N.; Domen, K.; Hirose, C. Langmuir 12, 1926, 1996.
|