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臺灣博碩士論文加值系統

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研究生:黃勇智
研究生(外文):HUANG,YUNG-CHIH
論文名稱:黑色防焊乾膜應用於內埋式基板製作之評估
論文名稱(外文):Evaluation of Application Feasibility of Black Solder Resist Film for Preparation of Embedded Substrate
指導教授:顏福杉
指導教授(外文):Yen,u-San
口試委員:何宗漢吳進三
口試委員(外文):Ho,Tsung-hanWu,Chin-San
口試日期:2018-07-26
學位類別:碩士
校院名稱:國立高雄應用科技大學
系所名稱:化學工程與材料工程系博碩士班
學門:工程學門
學類:化學工程學類
論文種類:學術論文
論文出版年:2018
畢業學年度:106
語文別:中文
論文頁數:75
中文關鍵詞:防焊乾膜黑色防焊內埋式載板光硬化熱烘
外文關鍵詞:dry filmsolder resistblack solder resist filmembedded substrateuv-curethermal cure
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摘要
內埋式構裝載板是一種將積體電路 (Integrated circuit ; IC) 鑲嵌入構裝載板內部而形成的薄形載板,當其外部欲同時搭配黑色防焊阻劑形成載板的技術仍尚在開發中。構裝載板與黑色乾膜防焊阻劑,由於其售價高昂與色澤獨特,因此業界除極少數領導廠商外,未有其它載板廠參與評估與生產,故尚無相關之公開技術文獻可供業界參考。
本評估研究主要係在於求得黑色防焊乾膜在微影製程區的最佳化參數。實驗中分別以類載板、內埋式構裝載板為基板,以黑色防焊乾膜為防焊阻劑,藉由工程批、試產批、打樣批在不同階段的放量測試,驗證其CPK (Process Capability Index製程能力指標) 是否符合統計學上穩定之定義。並搭配信賴性測試,由其結果驗證該參數之合理性。
結果顯示防焊開口與防焊厚度亦都符合規範,其CPK 都大於1.33,達到統計學上穩定之定義;且送樣量之抽樣樣品都能符合指定項目之信賴性測試規範。由此顯示所求得的參數係為可使用之條件,並可說明此防焊乾膜可用於內埋式載板的量產 (Mass production) 。

關鍵字:防焊乾膜、黑色防焊、內埋式載板、光硬化、熱烘

Abstract
The embedded structure carrier board is a thin type carrier board formed by inserting an integrated circuit (IC) into the inside of the print circuit board. Forming the exterior of an embedded structure carrier board with the black dry film solder mask technology is still under developing. Due to high price of structure carrier board and unique color of the black dry film solder mask, there are currently no other carrier board manufacturers involved in the evaluation and production except very few leading manufacturers, therefore there is no relevant public technical literature provided for the industry reference.
This evaluation study is mainly to find the optimal parameters of operation for the black dry film solder mask in the photolithography process. In these experiments, the printed circuit board and the embedded structure carrier board were used as the substrate, and the black dry film solder mask as the soldering resist, by different batch testing stages of engineering batch, trial batch and sample batch, to verify the CPK (Process Capability Index) meets the definition of statistical stability, and through the reliability test to check the result to verify rationality of the parameters.
Experimental results show that the opening and the thickness of the solder resist after photolithography and cure are both in compliance with the specifications. The CPK, being greater than 1.33, has corresponded the statistically definition. And the sampled samples have met the required specifications of the reliability test specifications. This overall result indicates the obtained parameters can be used in this photolithography process conditions, and proves that the black dry film solder mask can be applied in the mass production of this embedded structure carrier board.

Keyword: dry film, solder resist, black solder resist film,
embedded substrate, uv-cure, thermal cure.
摘要 I
Abstract II
誌謝 III
總目錄 IV
表目錄 V
圖目錄 XI
第一章 緒論 1
1.1前言 1
1.2研究動機與目的 4
第二章 先前技術及文獻回顧 6
2.1構裝載板的演進 6
2.2構裝載板製程流程 8
2.3防焊站信賴性測試 20
2.4防焊乾膜材質介紹 24
第三章 實驗 30
3.1實驗設備儀器 30
3.2量測分析儀器與軟體 35
3.3 材料 39
3.4實驗流程 40
第四章 結果與討論 41
4.1各工作站之製程參數之建立 41
4.2確認顯影條件與曝光條件 48
4.3工程階段(DoE) 53
4.4試產階段(Pilot run) 55
4.5樣品階段(Quality run) 58
4.6信賴性測試(Reliability test) 63
第五章 結論 70
參考文獻 71

參考文獻
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