隨著記憶體容量的增加，測試已在各類型記憶體產品成本中，佔有重
要的地位。為了要降低測試成本，增加測試的流通量 (Test throughput)
，我們提出小型的測試系統－適用於熱加速之可程式記憶體測試模組；利
用便宜的單晶片微電腦，以軟體的方式規劃其輸出/入腳位，設計成測試
圖樣產生器 (Test pattern generator)與資料比較器，並希望在冗長的
熱加速的時間內，做可監督的測試，降低後段自動測試機台 (ATE)的需求
。 同時，在待測記憶體方面，我們選擇非揮發性的快閃記憶體(Flash
memory)為探討對象，分析它的故障模型(Fault model)，瞭解其寫入(
Write) 、清除(Erase)、讀取(Read)的特性，提出適當修改的測試演算法
，使之合乎快閃記憶體的操作性質，而有較佳的測試時間，並且適當的涵
蓋常見的錯誤模式。 我們製作了整體的可程式記憶體測試模組(不包
括熱加速環境的建立)，為了驗證這可程式記憶體測試模組的偵錯功能，
我們以人為的方式，在功能正常的記憶體上外加故障，模擬成有問題的待
測記憶體，測試的結果，證明它可以有效地偵測記憶體的功能性故障。
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